Análise dimensional de nanomateriais utilizando ...ftp.inmetro.gov.br/metcientifica/pdf/Analise...ASTM E766 – 14e1: Standard Practice for Calibrating the Magnification of a Scanning

Análise dimensional de

nanomateriais utilizando

microscopia eletrônica

NOTA TÉCNICA

Novembro 2017

Análise dimensional de nanomateriais utilizando microscopia eletrônica 2

Grupo de trabalho:

Cristol de Paiva Gouvêa

Sandra Marcela Landi

Carlos Eduardo Galhardo

Jailton Carreteiro Damasceno

Revisor:

Eveline De Robertis


Análise dimensional de nanomateriais utilizando

microscopia eletrônica

Esta Nota Técnica resume a experiência de um grupo de trabalho do Instituto Nacional

de Metrologia, Qualidade e Tecnologia (Inmetro) e tem como objetivo principal

apresentar ao profissional da área de microscopia eletrônica procedimentos para a

implementação e interpretação adequadas da análise quantitativa do tamanho de

nanomateriais, utilizando técnicas de microscopia eletrônica combinadas com análise

de imagem. Os procedimentos aqui descritos foram desenvolvidos e aprimorados ao

longo de diversas comparações intra e interlaboratoriais sobre a caracterização

dimensional, morfológica e estrutural de nanomateriais [1-3], incluindo o conteúdo dos

cursos de Avaliação da incerteza de medição dimensional utilizando microscopia

eletrônica, oferecido pelos autores. Cabe destacar que tais procedimentos não

possuem caráter compulsório ou taxativo: eles apenas servem como um guia para a

preparação, aquisição e análise de imagens, avaliação da incerteza associada à

medição e desenvolvimento do relatório final. Os profissionais que farão uso das

diretrizes aqui apresentadas estão convidados a encaminhar suas contribuições

técnicas, para o processo de sua melhoria contínua, e solicitações de esclarecimentos

para a Divisão de Metrologia de Materiais (Dimat) da Diretoria de Metrologia Científica

e Tecnologia (Dimci) do Inmetro.


SUMÁRIO

1 Objetivo ................................................................................................................... 6

2 Referências normativas .......................................................................................... 6

3 Definições, termos e expressões ............................................................................ 7

3.1 Vocabulário ....................................................................................................... 7

3.2 Termos relacionados com métodos de aquisição e análise de imagem .......... 8

3.3 Termos relacionados aos mensurandos ........................................................... 8

3.4 Termos relacionados à metrologia .................................................................... 10

4 Siglas ....................................................................................................................... 11

5 Considerações Gerais ............................................................................................. 11

6 Preparação de Amostras ......................................................................................... 12

6.1 Recomendações gerais ..................................................................................... 12

6.2 Deposição do NM no substrato ......................................................................... 13

7 Aquisição de imagens ............................................................................................. 15

7.1 Amostragem ...................................................................................................... 15

7.2 Escolha da magnificação .................................................................................. 15

7.3 Procedimento para aquisição de imagens por SEM ......................................... 17

7.4 Procedimento para aquisição de imagens por TEM ......................................... 18

8 Análise de dados ..................................................................................................... 20

8.1 Preparação das imagens .................................................................................. 21

8.2 Estabelecimento do marco de medição ............................................................ 21

8.3 Seleção dos mensurandos ................................................................................ 22

8.4 Tratamento das partículas em contato ou superpostas .................................... 22

8.5 Processamento das imagens ............................................................................ 23

9 Avaliação da incerteza de medição ........................................................................ 24

9.1 Abordagem bottom–up .................................................................................. 24

9.2 Abordagem top–down .................................................................................... 27

10 Relatório de Ensaio .................................................................................................. 29

10.1 Informações gerais .......................................................................................... 30

10.2 Informações da amostra .................................................................................. 30


10.3 Preparação da amostra ................................................................................... 30

10.4 Descrição do instrumento e método utilizado ................................................ 30

10.5 Análises e resultados ...................................................................................... 31

11 Referências ............................................................................................................. 31


1 Objetivo

Nesta Nota Técnica são apresentadas diretrizes gerais para análise das propriedades

físicas de nanomateriais utilizando técnicas de microscopia eletrônica. Os

procedimentos foram desenvolvidos ao longo de diversas comparações intra e

interlaboratoriais sobre a caracterização dimensional, morfológica e estrutural de

nanomateriais [1-3].

2 Referências normativas

As normas, os guias e outros documentos relacionados a seguir contêm disposições

que, ao serem citadas neste texto, constituem prescrições para esta Nota Técnica. As

edições indicadas são as que estão em vigor na época da publicação desta edição.

Como todo documento normativo está sujeito à revisão, recomenda-se àqueles que se

baseiem nesta Nota Técnica que verifiquem a conveniência do uso de edições mais

recentes das normas, guias, etc. citados nele.

ISO/TS 80004-1: Nanotechnologies – Vocabulary – Part 1: Core terms [4]

ISO/TS 80004-2: Nanotechnologies – Vocabulary – Part 2: Nano-objects [5]

ISO/TS 80004-6: Nanotechnologies – Vocabulary – Part 6: Nano-objects

characterization [6]

ISO/TS 17200: Nanotechnologies – Nanoparticles in powder form – Characteristics

and measurements. [7]

ASTM E2456 – 06: Terminology for Nanotechnology [8]

NPL Good Practice Guide 119: Good Practice Guide for the Determination of the Size

and Size Distribution of Spherical Nanoparticle samples [9]

NIST - NCL Joint Assay Protocol, PCC-7: Measuring the Size of Nanoparticles Using

Transmission Electron Microscopy (TEM) [10]

ISO 16700: Microbeam analysis – Scanning electron microscopy – Guidelines for

calibrating image magnification [11]

ISO 29301: Microbeam analysis – Analytical transmission electron microscopy –

Methods for calibrating image magnification by using reference materials having

periodic structure [12]

ASTM E766 – 14e1: Standard Practice for Calibrating the Magnification of a Scanning Electron Microscope [13]

ISO 13322-1: Particle size analysis – Image analysis methods – Part 1: Static image

analysis methods [14]

ASTM E2578 – 07: Standard Practice for Calculation of Mean Sizes/Diameters and

Standard Deviations of Particle Size Distributions [15]


ISO 9276-2: Representation of results of particle size analysis – Part 2: Calculation of

average particle sizes/diameters and moments from particle size distributions [16]

ISO 9276-3: Representation of results of particle size analysis – Part 3: Adjustment of

an experimental curve to a reference model [17]

ISO 9276-6: Representation of results of particle size analysis – Part 6: Descriptive and

quantitative representation of particle shape and morphology [18]

ABNT NBR ISO/IEC 17025: Requisitos Gerais para Competência de Laboratórios de

Ensaio e Calibração [19]

Norma NIT-Dicla-035: Princípios das Boas Práticas de Laboratório – BPL [20]

ISO 21748: Guidance for the use of repeatability, reproducibility and trueness

estimates in measurement uncertainty estimation [21]

3 Definições, termos e expressões

Para os propósitos deste documento aplicam-se os termos e expressões relacionados

a seguir.

3.1 Vocabulário

3.1.1 Nano-objeto: material com uma, duas ou três dimensões externas dentro da

nanoscala. Definição baseada na ISO/TS 80004-2 [5].

3.1.2 Nanomaterial: material natural, incidental ou manufaturado que contem

partículas livres ou agregadas ou aglomeradas e donde, para 50% ou mais da

distribuição numérica de tamanho (3.3.1.2), uma ou mais dimensões externas

está na nanoscala.

Esta definição está baseada nas recomendações da União Europeia no

estabelecimento do marco regulatório para o uso de nanomateriais em produtos

de consumo [22]. A importância desta definição é que a mesma determina que

além de medir, devem-se contar os nano-objetos.

3.1.3 Nanoscala ou escala nanométrica: escala que vai de aproximadamente 1 nm a

100 nm.

3.1.4 Partícula primária: partícula individual e fonte original de agregados ou

aglomerados [5].

3.1.5 Agregado: partículas fortemente ligadas ou fundidas para as quais a área

superficial externa é significativamente menor que a soma das áreas dos

componentes individuais [5].

3.1.6 Aglomerado: grupos de partículas ou agregados, ou mistura de ambos, unidos

por ligações fracas, para os quais a área superficial externa é similar à soma das

áreas superficiais dos componentes individuais [5].


Para exemplificar, na figura 1 estão esquematizados os tipos de agregados,

aglomerados e partículas primárias.

Fig. 1 – Esquema dos tipos de agregados, aglomerados e partículas

primárias [5]

3.2 Termos relacionados com métodos de aquisição e análise de imagem

3.2.1 Marco de medição: área selecionada dentro da imagem em que as partículas

são medidas e contadas [14].

3.2.2 Tamanho do pixel: é o tamanho de um pixel na imagem digitalizada de

microscopia eletrônica. É expresso em nm/pixel a menos que outra unidade seja

indicada.

3.3 Termos relacionados aos mensurandos

3.3.1 Descritores de tamanho

3.3.1.1 Tamanho da partícula: dimensão linear de uma partícula determinada por

um método específico de medição e sob condições específicas de medição [6].

3.3.1.2 Distribuição de tamanho da partícula: distribuição estatística de partículas

em função do tamanho da partícula [6].

3.3.1.3 Diâmetro circular equivalente - ECD (𝑥𝐴 ou 𝑑𝐸𝐶𝐷): diâmetro de um círculo

que tem a mesma área que a área projetada (A) da partícula.

𝑥𝐴 = √4 ∙ 𝐴

𝜋

partícula

partículas

primárias em

aglomerado

partículas

primárias em

agregado

aglomerado

de agregados

aglomerado

de agregados

e partículas

primárias


3.3.1.4 Diâmetro de Feret (𝑥𝐹 ou 𝑑𝐹): distância entre duas linhas paralelas tangentes

ao perímetro da partícula.

3.3.1.5 Diâmetro mínimo de Feret (𝑥𝐹𝑚𝑖𝑛 ou 𝑑𝐹𝑚𝑖𝑛): mínima longitude de um objeto

qualquer que seja a orientação.

3.3.1.6 Diâmetro máximo de Feret (𝑥𝐹𝑚𝑎𝑥 ou 𝑑𝐹𝑚𝑎𝑥): máxima longitude de um

objeto qualquer que seja a orientação.

3.3.1.7 Diâmetro do máximo círculo inscrito: diâmetro do maior círculo de tamanho

suficiente para caber dentro da forma da área projetada da partícula.

3.3.1.8 Fecho ou envoltório convexo (convex hull): é a menor região convexa

contendo um dado objeto geométrico.

3.3.2 Descritores de forma

3.3.2.1 Relação de aspecto (aspect ratio, AR) [18]: razão entre o diâmetro mínimo e máximo de Feret. Indica quão alongada é a partícula.

𝐴𝑅 =𝑥𝐹𝑚𝑖𝑛𝑥𝐹𝑚𝑎𝑥

3.3.2.2 Fator de forma (shape factor) [14]: razão entre o diâmetro máximo e mínimo

de Feret. Indica quão alongada é a partícula. É a inversa da relação de aspecto.

3.3.2.3 Convexidade: é a relação entre o perímetro do fecho convexo que envolve a

área projetada da partícula e o perímetro da mesma (P). Fornece informações sobre a rugosidade da borda da área projetada da partícula.

𝐶𝑥 = 𝑃𝐶𝑃

3.3.2.4 Circularidade: indica o quanto a área projetada da partícula é similar ao

círculo, considerando a rugosidade/suavidade do perímetro (P) e a área projetada da partícula (A).

𝐶 = √4 ∙ 𝜋 ∙ 𝐴

𝑃2

3.3.2.5 Solidez (solidity): é a relação entre a área projetada (A) e a área do fecho convexo (𝐴𝐶). Indica quão compacta é a imagem da partícula.

𝑆 =𝐴

𝐴𝐶

3.3.2.6 Arredondamento (roundness): é o quadrado da circularidade.


3.4 Termos relacionados à metrologia

Os termos aqui descritos foram extraídos do Vocabulário Internacional de Metrologia

VIM-2012 [23].

3.4.1 Exatidão de medição: grau de concordância entre um valor medido e um valor verdadeiro de um mensurando.

NOTA: A exatidão de medição não é uma grandeza e não lhe é atribuído um

valor numérico. Uma medição é dita mais exata quando fornece um erro de

medição menor.

3.4.2 Precisão de medição: grau de concordância entre indicações ou valores

medidos, obtidos por medições repetidas, no mesmo objeto ou em objetos

similares, sob condições especificadas.

NOTA: A precisão de medição é utilizada para definir a repetibilidade de

medição, a precisão intermediária de medição e a reprodutibilidade de medição.

3.4.3 Veracidade de medição: grau de concordância entre a média de um número

infinito de valores medidos repetidos e um valor de referência.

NOTA: A veracidade de medição não é uma grandeza e, portanto, não pode ser

expressa numericamente. Está inversamente relacionada ao erro sistemático,

porém não está relacionada ao erro aleatório.

3.4.4 Repetibilidade de medição: precisão de medição sob um conjunto de

condições, as quais incluem o mesmo procedimento de medição, os mesmos

operadores, o mesmo sistema de medição, as mesmas condições de operação e

o mesmo local, assim como medições repetidas no mesmo objeto ou em objetos

similares durante um curto período de tempo.

3.4.5 Precisão intermediária de medição: precisão de medição sob um conjunto de

condições, as quais compreendem o mesmo procedimento de medição, o

mesmo local e medições repetidas no mesmo objeto ou em objetos similares, ao

longo de um período extenso de tempo, mas pode incluir outras condições

submetidas a mudanças.

3.4.6 Reprodutibilidade de medição: precisão de medição conforme um conjunto de

condições, as quais incluem diferentes locais, diferentes operadores, diferentes

sistemas de medição e medições repetidas no mesmo objeto ou em objetos

similares.

3.4.7 Incerteza de medição: parâmetro não negativo que caracteriza a dispersão dos

valores atribuídos a um mensurando, com base nas informações utilizadas.

3.4.8 Incerteza-padrão combinada: incerteza padrão obtida usando-se as incertezas-

padrão individuais (e as covariâncias conforme apropriado), associadas às

grandezas de entrada em um modelo de medição.

3.4.9 Incerteza de medição expandida: produto de uma incerteza-padrão combinada

por um fator maior do que o número um.


NOTA: O fator depende do tipo de distribuição de probabilidade da grandeza de

saída em um modelo de medição e de uma probabilidade de abrangência pré-

definida.

4 Siglas

NM Nanomaterial

NP Nanopartícula

SEM Scanning Electron Microscope(y) (microscópio/microscopia eletrônica de

varredura, MEV).

TSEM Transmission in SEM (MEV usado no modo transmissão)

TEM Transmission Electron Microscope(y) (microscópio/microscopia eletrônica de

transmissão, MET)

STEM Scanning in TEM (modo varredura no TEM)

FEG Field emission gun (canhão de feixe de elétrons por emissão de campo)

AFM Atomic Force Microscopy (Microscopia de Força Atômica)

ECD Equivalent circular diameter (diâmetro circular equivalente)

MICD Maximal inscribed circular diameter (diâmetro do máximo círculo inscrito)

HFW Horizontal field of view (campo de visão horizontal)

DLS Dynamic Light Scattering (Espalhamento de Luz Dinâmico)

NTA Nanoparticle Tracking Analysis (Análise de Rastreamento de

Nanopartículas)

MR Material de referência

MRC Material de referência certificado

5 Considerações gerais

Os nanomateriais (os quais incluem NP, nanotubos, nanofitas, entre outros) são

materiais promissores para uma sociedade moderna por apresentarem propriedades

únicas e singulares, geralmente não observadas na escala macro. A harmonização e o

consenso nos métodos de medidas, provendo a capacidade de medição nesta escala,

é uma necessidade iminente para a correta caracterização e consequente

aplicabilidade destes materiais, garantindo, por exemplo, a segurança toxicológica em

produtos médicos, de higiene pessoal, cosméticos e tintas.


A caracterização dimensional, morfológica e estrutural de nanomateriais faz-se

fundamental para as suas corretas aplicabilidades, por estes serem parâmetros que

influenciam drasticamente as propriedades finais dos produtos baseados em

nanotecnologia, sendo utilizados, por exemplo, em aplicações opto-eletrônicas, termo-

fluídicas, tribológicas e toxicológicas, entre outras.

Atualmente existe uma grande variedade de técnicas experimentais, algumas simples,

outras muito sofisticadas, capazes de medir um conjunto de propriedades físico-

químicas de diversos nanomateriais. Medidas de DLS e NTA são vastamente

utilizadas para a determinação do tamanho hidrodinâmico de nanomateriais, por sua

fácil aquisição e interpretação dos dados. Contudo, estas técnicas muitas vezes não

representam o tamanho real do objeto em análise.

As caracterizações dimensionais e morfológicas por imagem são amplamente

abordadas por meio de técnicas analíticas, por permitirem uma análise individual do

nano-objeto. Dentre estas técnicas destacam-se SEM, TEM e AFM. Técnicas

correlatas a estas também são vastamente utilizadas para fornecer uma

caracterização físico-química em escala nano e sub-nanométrica.

Este documento contempla os procedimentos de preparação e caracterização de

nanomateriais utilizando as técnicas de SEM e TEM. Estas metodologias foram

redigidas baseadas na caracterização de NP metálicas (Au, Ag, entre outros) e óxidos

(SiO2, TiO2, ZnO, CuO, entre outros), mas não limitados a estas, cujos procedimentos

descritos a seguir foram desenvolvidos a partir de uma série de comparações intra e

interlaboratoriais das quais a Divisão de Metrologia de Materiais vem participando ao

longo dos anos.

Os procedimentos aqui apresentados foram desenvolvidos com ênfase na metodologia

de preparação de amostra, aquisição e análise de dados, avaliação da incerteza das

medições e no preenchimento do relatório de ensaio. Embora o documento tenha sido

elaborado a partir do conhecimento adquirido nas comparações previamente

mencionadas, foi o trabalho desenvolvido junto ao NANoREG [3] o que teve maior

influência nas páginas a seguir.

6 Preparação de amostras

Os procedimentos apresentados nesta seção são aplicados para a preparação de

amostras para caracterização por técnicas de microscopia eletrônica (SEM, TSEM,

TEM, STEM).

6.1 Recomendações gerais

Os NMs são comumente apresentados em pó ou em suspensões. Os pós geralmente

são dispersos em um meio líquido antes de depositá-los no substrato adequado para

análise. Os métodos de dispersão dependem de cada material e deverão ser

consultados previamente. No caso de suspensões já prontas, é recomendável que

sejam analisadas sem nenhum procedimento de sonicação, filtragem ou centrifugação,

exceto quando especificamente indicado. Caso seja necessário, diluições podem ser


realizadas, com muito cuidado, pois qualquer mudança na natureza do meio líquido

pode provocar aglomeração das partículas. Para a subsequente análise por

microscopia eletrônica, o NM deverá ser depositado sobre um substrato plano.

A fim de se obter uma descrição representativa da distribuição das partículas, é

necessário adquirir imagens e analisar um grande número de nanopartículas. A ISO

13322 [14] indica uma forma de calcular o número de NP a partir do tamanho médio e

grau de confiança, mas é consensualmente aceito o valor de 500 NP na maioria dos

testes interlaboratoriais [24]. O preparo das amostras é uma parte chave do

procedimento. Objetivando uma adequada aquisição de imagens e respectivas

interpretações, é preciso:

preparar amostras representativas do material;

dispersar as NP evitando superposição;

distribuir as NP uniformemente.

Os efeitos de toxicidade oriundos dos materiais nanoestruturados ainda são alvos de

diversas discussões científicas e por este motivo é altamente recomendável o uso de

equipamentos de proteção individual adequados, tais como luvas, jaleco e máscaras.

Estes cuidados também são favoráveis para minimizar contaminações externas à

amostra. Além disso, sugere-se a manipulação dessas amostras com instrumentos

limpos e em sala limpa ou em ambientes com controle de impurezas.

6.2 Deposição do NM no substrato

A maioria das superfícies (substratos e NM) tendem a estar negativamente

carregadas, por isso, o simples método de pingar uma gota e deixar secar às vezes

não pode ser usado. A seguir são descritos os métodos de deposição sobre os

substratos mais comuns para análise em TEM e/ou SEM.

6.2.1 Deposição do NM em superfícies de silício

As NP depositadas em wafers de silício podem ser analisadas por SEM e AFM.

O substrato deve ser preparado para receber as NP em dois passos:

Limpeza: a superfície do silício deve ser primeiramente limpa usando um

agente de limpeza forte, tal como solução piranha.

Silanização: a carga superficial do silício deve ser mudada de negativa a

positiva para evitar aglomerações do NM. A superfície pode ser positivamente

carregada usando uma solução de aminopropyltrimethoxysilane (APTES, 1 %

w/v) dissolvido em etanol/água (95/5).

Assim, partículas negativamente carregadas ficarão aderidas na superfície do

silício.

6.2.2 Deposição do NM em grades de TEM

A vantagem de depositar o NM em grades de TEM é que esta permite o uso da

mesma amostra tanto na análise por SEM/TSEM, quanto por TEM/STEM.

As NP já dispersas num meio líquido são colocadas em contato com a grade,

permitindo a interação entre ambas. O excesso de líquido é drenado deixando


algumas partículas fixadas à grade por algum tipo de interação, tal como

eletrostática ou Van der Waals, entre outras. Esta interação dependerá

fortemente das características físico-químicas tanto das NP, quanto da grade.

Os suportes mais comuns para TEM consistem de uma grade de Cu, Ni, Au ou

Mb, coberta com um filme suporte de carbono, óxido de silício ou grafeno. Para

facilitar a análise das imagens, é recomendável que o filme seja continuo a fim

de se ter um fundo uniforme. Em geral as grades com filme de carbono, que são

as mais utilizadas, são hidrofóbicas. Se as NP tiverem carga negativa, elas não

interagirão com o filme e tenderão a se aglomerar. Uma maneira simples de

superar isso é dispersar as partículas num solvente menos polar, como etanol.

Se não for possível, é recomendado que seja realizado um pré-tratamento nas

grades.

6.2.2.1 Pré-tratamento das grades

O pré-tratamento é um passo importante para evitar aglomerações, e visa

adaptar a carga do suporte à carga das NP. Na tabela 1 é mostrada a relação

entre grades e NP, dependendo da carga e os tipos de tratamento adequados.

Para introduzir carga positiva na grade aumentando assim a hidrofilicidade da

mesma, descreve-se a seguir o tratamento com Alcian blue [25], pois muitas

suspensões são preparadas em água. Como resultante tem-se uma grade

carregada positivamente a qual interage atrativamente às NP.

Tabela 1 – Tratamentos recomendados segundo a relação NP/grade.

Carga das NP e tipo de meio

Tipos de grade Tratamento

Partículas sem carga em meio hidrofóbico

qualquer não é necessário

Partículas com carga negativa e meio polar

grades hidrofílicas, carga positiva

• tratamento com Alcian blue [25] (filmes suporte de carbono) • silanização (filmes de SiO2) [10]

Partículas com carga positiva

grades com cargas negativas

glow discharge [26]

Carga do nanomaterial desconhecida

é preciso avaliar

Fonte: SOP Nanoreg [27]

Pré-tratamento com Alcian blue: sobre uma superfície limpa deve se pingar uma

gota de Alcian Blue diluído em água ultrapura a 1 % (w/w), e colocar a grade

sobre a gota deixando o filme de carbono em contato com a solução entre 1 e 10

minutos. A grade deve ser logo lavada para retirar o excesso do Alcian Blue

colocando-a sucessivamente em cinco gotas de água e removendo depois o

excesso de umidade com papel absorvente.

Nota – Usar a grade imediatamente após o tratamento.


6.2.2.2 Procedimento de deposição do NM na grade

Homogeneizar a dispersão com o nanomaterial por agitação ou pipetagem.

Cada alíquota precisa ser retirada do recipiente original utilizando-se uma

micropipeta com ponteira plástica descartável e de uso único. Se desejado,

também podem ser utilizadas pipetas descartáveis tipo Pasteur.

Se o NM está bem disperso em um meio apolar ou com uma concentração

muito baixa, o método gota sobre grade (fig. 2a) em geral é suficiente: uma

gota (5-50 µm) é pipetada sobre a grade e deixada secar.

Se o NM estiver em meio aquoso, o método grade sobre gota (fig. 2b) é mais

adequado: numa superfície limpa pingar uma gota da suspensão (5-50 µm) e

sobre ela colocar a grade. Deixar interagir entre 1-10 minutos. Remover o

excesso de líquido colocando gentilmente um papel absorvente na borda da

grade.

Nota – Opcionalmente, a grade com o nanomaterial pode ser lavada colocando-

a sobre uma gota de agua pura por 30 s. Este passo reduz o sinal de fundo

removendo o excesso de sais e material contaminante. Estender o tempo de

lavagem pode resultar na perda seletiva das partículas maiores, o que deve ser

evitado.

Guardar as grades num local apropriado (caixa de grades, placa de Petri,

eppendorf) devidamente identificadas.

Fig. 2 – Métodos de disposição nas grades: (a) gota sobre grade e (b)

grade sobre gota. Em ambos os métodos o filme de carbono da grade

deve estar em contato com a suspensão.

7 Aquisição de imagens

O equipamento deve estar alinhado e calibrado utilizando-se algum protocolo

adequado para o tipo de microscópio e configurações de câmera [11-13, 28].

7.1 Amostragem

Para evitar a subjetividade do microscopista na seleção das partículas a serem

analisadas, as posições da grade onde as imagens serão adquiridas devem ser

predefinidas (exemplo na figura 3). Quando a posição cair numa região obscurecida

(pela grade, por impureza, etc) ou numa região sem nada a observar, deve-se

deslocar a amostra até achar uma região com NP.

(b) (a)


Em cada região devem ser adquiridas imagens suficientes para contabilizar um total

de pelo menos 500 partículas.

Fig. 3 – Algumas regiões predefinidas numa grade de TEM.

7.2 Escolha da magnificação

A escolha da magnificação dependerá tanto do tamanho das NP analisadas como da

configuração de cada microscópio e resolução da câmera. A faixa de trabalho útil é

definida pelos limites de quantificação superior e inferior [27, 29]. O limite inferior é

baseado no trabalho de Merkus [30], que mostrou que desvios sistemáticos nas

medidas de tamanho podem ser evitados se a área da partícula for de pelo menos 100

pixels. O limite superior depende do campo de visão, sendo restrito a um décimo do

tamanho da imagem, como recomenda a ISO 13322 -1 [14].

Em outras palavras, para estabelecer qual é a melhor magnificação, duas

magnificações devem ser determinadas:

A menor magnificação Ms na qual a área da menor partícula analisada seja de pelo

menos 100 pixels (critério de Merkus [30])

A maior magnificação Mh de tal modo que a maior partícula do espécime seja, no

máximo, um décimo do tamanho da micrografia (recomendação da ISO 13322 -1

[14]).

Quando Mh for maior que Ms, qualquer magnificação entre essas duas pode ser usada.

Caso contrário (exemplo da figura 4), as imagens devem ser adquiridas usando duas

magnificações diferentes para evitar tendência (viés).


Fig. 4 – Este NM apresenta uma dispersão de tamanho tal que não é

possível caracterizá-lo usando uma só magnificação para esta resolução

da câmera. O tamanho da imagem em pixels é de 2048 x 2048. A NP

indicada em vermelho tem uma área menor que 100 pixels e a partícula

indicada em azul tem um diâmetro maior que os 10% de 2048, portanto

ambas teriam que ser excluídas da análise. Para incluir essas partículas

(e similares), duas magnificações diferentes devem ser utilizadas.

7.3 Procedimento para aquisição de imagens por SEM

Antes de tudo, é importante ressaltar que algumas NP são tão pequenas que muitos

SEM não são capazes de resolver seu tamanho e morfologia.

7.3.1 Ajuste dos parâmetros

O microscópio deve estar alinhado de acordo com os procedimentos do

fabricante. Diversos parâmetros podem ser definidos nos SEM para obter uma

imagem com boa qualidade, ou seja, com alto poder de resolução:

A magnificação e, consequentemente, o tamanho do campo de visão (HFW)

devem ser escolhidos de tal forma que a imagem contenha a quantidade de

pixels suficiente para um bom detalhamento dimensional da NP (ver item 7.2),

ao mesmo tempo em que minimize a deposição de contaminantes induzida

pela longa exposição do feixe sobre a partícula.

O brilho/contraste da imagem deve ser definido a fim de prover o melhor

detalhamento visual das NP e suas distinções do substrato.

Recomenda-se fortemente não utilizar sistemas eletrônicos capazes de girar a

aquisição de imagens (scan rotation) ou transladá-la (beam shift). Se estes

forem indispensáveis é necessário analisar os efeitos causados sobre a

dimensionalidade da NP e suas consequências na avaliação da incerteza

associada a estes procedimentos.

área: 80 pixels

diâmetro: 332 pixels


7.3.2 Exemplo

Os parâmetros definidos aqui são apenas guias para os demais operadores, não

representando necessariamente as melhores condições para todos os SEM.

Diversas NPs têm sido observadas por meio de um equipamento estável, sem

evidências de astigmatismo ou outro defeito óptico e focado, utilizando tensão de

aceleração de 15 kV, com corrente de 100 pA e distância de trabalho em torno

de 4 mm. As imagens foram adquiridas com resolução digital de (2048 x 1768)

pixels e com tempo de aquisição de 10 a 30 µs em cada pixel. Para este tipo de

análise, os parâmetros acima resultam em imagens com boa relação sinal-ruído,

resultando em uma resolução espacial do equipamento eficaz.

As imagens contidas na figura 5 são representativas e servem para guiar o

operador a adquirir uma imagem apropriada para resolver a dimensão e os

aspectos morfológicos das NP. Estas imagens foram adquiridas utilizando-se o

equipamento SEM/FIB FEI Helios NanoLab 650, instalado no

Inmetro/Dimat/Nulam, seguindo os procedimentos descritos acima.

7.3.3 Identificação

As imagens devem ser salvas em um diretório dedicado e identificado. Devem

ser incluídas informações relevantes, tais como: modelo do equipamento,

tamanho do pixel e do quadro, resolução da captura da imagem e condições de

detecção.

Fig. 5 – (a) MR NIST 8013 contendo NP de Au, com ECD médio de 54,9

nm. HFW de 995 nm. (b) MRC ERM-FD100 contendo NP de SiO2 com

ECD modal de 19,4 nm. HFW de 691 nm.

7.4 Procedimento para aquisição de imagens por TEM

É muito importante que todas as imagens a serem analisadas sejam adquiridas sob as

mesmas condições de operação. O fundo (background) deve ser de intensidade

uniforme e deve haver um bom contraste com o NM. Às vezes pode ser necessário

executar a sequência do protocolo adquirindo algumas imagens antes da análise.

Quanto melhor forem as imagens adquiridas, menos intervenções do operador serão

necessárias no processamento das mesmas.


7.4.1 Calibração

O equipamento deve estar calibrado e alinhado. A verificação da correta

operação do instrumento dentro das especificações do fabricante deve ser

realizada periodicamente utilizando-se materiais de referência.

Como o zoom da magnificação geralmente é não linear, a porcentagem de erro

na magnificação pode ser diferente em cada magnificação. Recomenda-se,

portanto, que a(s) magnificação(ões) usada(s) na(s) análise(s) esteja(m)

calibrada(s).

7.4.2 Operação do TEM

Antes da análise deve-se escolher a voltagem de aceleração conforme a

amostra a ser analisada deixando tempo suficiente para que estabilize.

7.4.2.1 Escolha das condições de operação

Para se determinar os parâmetros ótimos de operação, pode-se utilizar uma

grade extra com o NM, preparada para tal fim, ou, caso isso não seja possível,

pode-se utilizar uma região da mesma amostra. Esses testes são necessários

para:

Estabelecer as condições de iluminação: abertura da condensadora, gun lens e

spot size.

Decidir se será necessária a introdução de uma abertura na lente objetiva.

Escolher a(s) magnificação(ões) como explicado no item 7.2

7.4.2.2 Aquisição de imagens

Para cada posição preestabelecida (figura 3) recomenda-se seguir os seguintes

passos:

Posicionar a amostra na altura eucêntrica, de forma que a corrente nas lentes

objetivas e nas intermediárias fique sempre no mesmo valor.

Usar a(s) magnificação(ões) escolhidas e ao alterar a magnificação, sempre

fazê-lo no mesmo sentido.

Aplicar, se for possível, uma função de relaxamento nas lentes após qualquer

mudança.

Corrigir astigmatismo.

Focar (sugere-se foco Gaussiano para partículas de alto contraste, e foco de

Scherzer para partículas com pouco contraste).

Adquirir e salvar cada uma das imagens.

Incluir a informação da aquisição (tamanho da imagem, tamanho do pixel,

condições de aquisição, tipo e marca do TEM).

7.4.3 Exemplo

As imagens da figura 6 são representativas e servem apenas como guia para o

operador. Foram adquiridas seguindo os procedimentos descritos previamente

neste guia utilizando-se os microscópios eletrônicos de transmissão FEI Tecnai


G2 Spirit com filamento de LaB6 (Fig. 6a) e FEI Titan 80-300, com FEG (Fig. 6b)

instalados no Inmetro/Dimat/Nulam.

Fig. 6 – Imagens de TEM de (a) MRC ERM-FD100 contendo NP de SiO2

com ECD modal de 19,4 nm; (b) MR NIST 8012 contendo NP de Au, com

ECD médio de 27,2 nm.

7.4.4 Identificação

As imagens devem ser salvas numa pasta dedicada e identificada. Devem ser

incluídas informações relevantes, tais como: modelo do equipamento, voltagem

de aceleração usada, uso ou não de lentes objetivas e tamanho da abertura das

mesmas, tamanho do pixel e do quadro, resolução da captura da imagem e

condições de detecção.

8 Análise de dados

O procedimento para análise das imagens aqui descrito serve tanto para imagens

obtidas por TEM como por SEM. Caso haja alguma etapa específica para alguma das

técnicas, a mesma será indicada no texto.

Devido ao grande número de partículas a serem analisadas, é recomendado o uso de

um software de análise de imagens. Quanto mais automatizado for o procedimento,

menor será a influência do operador sobre o mesmo. O software ImageJ

[http://imagej.net/Welcome] ou o pacote Fiji [http://fiji.sc/] que inclui o ImageJ, tem a

grande vantagem de serem softwares abertos e gratuitos. Mas qualquer outro software

que permita uma análise da imagem fornecendo informações sobre o tamanho e forma

do NM pode ser usado.

A principal função do processamento digital é a de fornecer ferramentas para facilitar a

identificação e a extração das informações contidas nas imagens, para posterior

interpretação. O resultado desse processamento é a produção de outras imagens,

com informações específicas, extraídas e realçadas a partir das imagens originais.

Nesse sentido, para obter informações sobre as NPs presentes na imagem, deve-se

distingui-las do fundo. Imagens com muito ruído, bordas das partículas pouco

definidas ou fundo não homogêneo, requerem um processamento maior com uso de

filtros, que podem comprometer a veracidade dos resultados.

200 nm 200 nm

(b) (a)


8.1 Preparação das imagens

O procedimento consiste em transformar uma imagem em escala de cinza para uma

imagem binária, com partículas discretas e destacadas do fundo, a fim de determinar a

distribuição de tamanho das partículas primárias.

8.1.1 Preparação prévia

Algumas imagens precisarão de uma preparação prévia caso apresentem um

fundo não homogêneo, pouco contraste ou bordas pouco definidas.

Remover o background caso exista algum gradiente devido a uma iluminação

heterogênea (isso deve ser evitado alinhando corretamente o microscópio e

alargando o feixe);

Corrigir a escala de cinza para maximizar o contraste;

Caso seja necessário, aplicar um filtro gaussiano ou outro filtro apropriado para

definir a borda das NP.

8.1.2 Binarização

As imagens adquiridas nas mesmas condições de iluminação podem ser

agrupadas formando pilhas (stacks) para se trabalhar com todas as imagens

juntas. Assim, o processamento realizado numa das imagens pode ser aplicado

a todas as outras, otimizando-se o tempo de trabalho.

Aplicar o threshold, separando as nanopartículas do fundo.

Binarizar a imagem e salvá-la na base de dados.

8.2 Estabelecimento do marco de medição

Se todos os objetos que aparecem na imagem forem aceitos para a medição, a

exatidão da distribuição final será prejudicada, pois alguns desses objetos estarão

cortados pela borda da micrografia. Para prevenir isso, um marco de medição deve ser

incluído (ISO 13322-1 [14]). O marco de medição pode ser definido de duas maneiras:

(b) (a)


Fig. 7 – Exclusão das partículas com base em: (a) marco de medição, (b)

posição das coordenadas X-Y do centro de massa das nanopartículas

8.2.1 NP excluídas de acordo com o marco de medição (figura 7a).

As bordas superior e esquerda do marco são estabelecidas a partir de 10% das

bordas superior e esquerda originais da micrografia. As bordas inferior e direita

permanecem as mesmas.

As partículas dentro do marco são incluídas na análise.

As partículas que estão dentro da faixa dos 10%, mas tocando no novo marco,

são incluídas.

As partículas tocando a borda inferior ou direita são excluídas da análise.

8.2.2 NP excluídas de acordo com suas coordenadas X-Y do centro de massa (figura

7b).

As coordenadas X-Y do centro de massa de cada partícula são determinadas.

Partículas cujas coordenadas X-Y estão distantes em até 5% do tamanho da

micrografia, de qualquer uma de suas bordas, são excluídas da análise.

8.3 Seleção dos mensurandos

Distribuições de tamanhos requerem um único mensurando, enquanto que

distribuições de forma requerem dois mensurandos. Desta forma, recomenda-se

salvar os valores de todos os mensurandos que o software pode calcular. Assim, o

operador fica com uma base de dados completa da amostra, visto que análises

posteriores não poderão ser realizadas para complementar uma base de dados já

existente. Alguns possíveis mensurandos estão descritos na secção 3.3. Para

distribuições de tamanho, é importante levar em consideração que o diâmetro circular

equivalente (ECD) geralmente é o valor certificado nos materiais de referência.

8.4 Tratamento das partículas em contato ou superpostas

Ainda havendo minimizado a aglomeração do NM durante o preparo das amostras, é

comum encontrar partículas em contato ou superpostas nas imagens em análise.

Quando a análise da imagem é realizada automaticamente, artefatos como produtos

químicos secos ou partículas em contato são erroneamente incluídos como objetos

identificados. A remoção dos mesmos pode ser realizada de forma manual ou

automática. O descarte automático é baseado em critérios geométricos,

estabelecendo-se limites em parâmetros como a circularidade, fator de forma, área,

etc [31]. Recomenda-se que seja verificado que tais limites não alterem

significativamente a distribuição de tamanho.

Quando a intenção é caracterizar as partículas primarias ou cristalitos que formam

agregados, primeiramente as partículas primárias devem ser identificadas e

separadas. A utilização de ferramentas para separação de objetos como o algoritmo

“divisor de águas” (watershed) costuma subestimar o tamanho e mudar a forma das

partículas, como é mostrado na figura 8.


Fig. 8 – (a) Grupo de três partículas em contato, (b) binarização e

separação das mesmas usando a ferramenta “divisor de águas”

(watershed) (c) comparação com as partículas originais.

A técnica tradicional para se medir o tamanho das partículas primárias dentro de

agregados e aglomerados envolve uma extensiva intervenção do operador em

medidas manuais e na interpretação das micrografias. De Temmerman et al [32]

propuseram um método usando um algoritmo de análise de imagem automático que

combina a detecção das partículas primárias nas imagens binarizadas usando a

segmentação watershed, com a medida de seus tamanhos a partir dos mapas de

distância euclidiana EDM (Euclidean distance map). O EDM cria uma imagem em

escala de cinza a partir da imagem binarizada atribuindo um valor de cinza a cada

pixel. Esses valores correspondem à distância euclidiana do pixel ao pixel do fundo

mais próximo.

8.5 Processamento das imagens

8.5.1 Análise das NP

É importante que todos os passos seguidos e métodos selecionados sejam

registrados num relatório.

Realizar o thresholding selecionando as partículas de interesse.

A área da menor partícula considerada nos cálculos deve ser de 100 pixels (ver

7.2).

Excluir as partículas seguindo algum dos critérios descritos no item 8.2.

Permitir que o programa usado identifique as partículas detectadas nas

imagens com um número, e que este esteja relacionado com a base de dados

gerada.

Não usar a função fill holes nem incluir os buracos nas análises.

Para análises de NP aproximadamente esféricas, descartar os agregados e

aglomerados (ver 8.4). Não usar a função watershed.

Salvar as medições numa planilha.

8.5.2 Planilha de dados

Gerar uma planilha de dados que contenha como mínimo:

Valores dos mensurandos medidos de cada partícula analisada.

Nome da imagem à qual pertence cada partícula.

(a) (b) (c)


Número da partícula (o mesmo que a identifica nas imagens).

Coordenadas X-Y do centro da área projetada da partícula.

9 Avaliação da incerteza de medição

As incertezas associadas às análises quantitativas dimensionais das NPs, a partir das

imagens adquiridas por SEM e TEM, podem ser avaliadas seguindo duas abordagens:

Abordagem bottom – up.

Abordagem top – down.

9.1 Abordagem bottom–up

Essa abordagem pressupõe um modelo matemático completo e está descrita na ISO

GUM (Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement) [33]. A incerteza de um

resultado de medição é geralmente avaliada utilizando-se o modelo e a lei de

propagação de incertezas. Dessa forma, as incertezas das grandezas de entrada são

avaliadas e posteriormente combinadas na incerteza padrão da grandeza de saída.

Esta abordagem normalmente segue o seguinte roteiro:

Definição do mensurando e do seu modelo

Identificação e quantificação das fontes de incerteza (construção do diagrama de

Ishikawa)

Cálculo dos coeficientes de sensibilidade

Cálculo dos componentes de incerteza

Cálculo da incerteza padrão combinada

Cálculo do número de graus de liberdade efetivos

Cálculo do coeficiente de abrangência (para uma determinada probabilidade de

abrangência)

Cálculo da incerteza expandida

Declaração do resultado final indicando o valor do coeficiente de abrangência e a

probabilidade de abrangência (geralmente igual a 95%)

9.1.1 Modelagem

Na maioria dos casos o mensurando 𝑧 não é medido diretamente, mas é determinado a partir de outras grandezas, 𝑥𝑖, por uma função 𝑓:

𝑧 = 𝑓(𝑥1, 𝑥2, … , 𝑥𝑁) (1)

Uma medição pode ser modelada matematicamente até o grau imposto pela

exatidão requerida na medição. Geralmente convém começar com o modelo

mais simples possível para depois ir refinando-o, incluindo mais grandezas de

entrada que influenciem no valor do mensurando.

9.1.2 Diagrama de Ishikawa


O diagrama de Ishikawa, ou espinha de peixe, é muito útil na construção do

modelo e identificação das fontes de incerteza. Por exemplo, se o mensurando

depende da medição das grandezas de entrada 𝑥1 e 𝑥2, e do valor de outro

parâmetro 𝑥3, o diagrama causa-efeito pode ser o da figura 9.

Fig. 9 – Diagrama de Ishikawa para um mensurando calculado a partir de

três grandezas de entrada, com quatro fontes de incerteza.

9.1.3 Quantificação das fontes de incerteza

A incerteza de uma medição compreende, em geral, muitas componentes.

Algumas destas componentes podem ser avaliadas com base na distribuição

estatística dos resultados de séries de medições e podem ser caracterizadas por

desvios-padrão experimentais. Outras componentes, que também podem ser

caracterizadas por desvios-padrão, são avaliadas por meio de distribuições de

probabilidade atribuídas com base na experiência do operador ou em outras

informações que estejam disponíveis. As componentes de incerteza são

classificadas em duas categorias dependendo do método de avaliação:

incertezas do tipo A ou do tipo B. Ambos os tipos de avaliação são baseados em

distribuições de probabilidade e os componentes de incerteza resultantes de

cada tipo são quantificados por variâncias ou desvios-padrão.

9.1.3.1 Incerteza tipo A

É o método de avaliação de incerteza proveniente da análise estatística de uma

série de observações. Na maioria dos casos essas observações têm uma

distribuição normal, e a melhor estimativa é avaliada pela média aritmética.

A incerteza padrão da média ux é calculada a partir do desvio padrão

experimental Sx e o número de observações repetidas e independentes n:

ux =Sx

√n (2)

𝒙𝟏 𝒙𝟐

𝒙𝟑

𝒛

repetição repetição

certificado

certificado


9.1.3.2 Incerteza tipo B

É a incerteza avaliada por julgamento científico baseado em todas as

informações disponíveis, histórico de medições, especificações do fabricante,

dados fornecidos nos certificados de calibração ou outros certificados, dados de

referência extraídos de manuais, etc. Dependendo do tipo de distribuição, serão

os valores dos desvios-padrão. Seguem exemplos da avaliação das incertezas

para as distribuições mais comuns.

Distribuição retangular ou uniforme:

ux =(b−a)

√12 (3)

sendo 𝑎 e 𝑏 os limites inferior e superior da distribuição.

Distribuição triangular:

ux =a

√6 (4)

para uma distribuição simétrica triangular de base 2𝑎.

Distribuição proveniente de um certificado de calibração:

ux =U

k (5)

sendo 𝑈 a incerteza expandida declarada e 𝑘 o coeficiente de abrangência.

9.1.4 Lei de propagação das incertezas

Conhecendo-se o modelo (Eq.1) e as incertezas das grandezas de entrada 𝑢𝑥𝑖, é

possível encontrar a incerteza da grandeza medida 𝑢𝑧 por meio da lei da

propagação das incertezas:

𝑢𝑧2 = ∑ (

𝜕𝑓

𝜕𝑥𝑖)

2𝑁𝑖=1 𝑢𝑥𝑖

2 + 2 ∑ ∑ (𝜕𝑓

𝜕𝑥𝑖) (

𝜕𝑓

𝜕𝑥𝑗) cov(𝑥𝑖 , 𝑥𝑗)

𝑁𝑗=𝑖+1

𝑁−1𝑖=1 (6)

Onde as derivadas parciais são os coeficientes de sensibilidade 𝑐𝑥𝑖 para cada

fonte de incerteza:

𝑐𝑥𝑖 =𝜕𝑓

𝜕𝑥𝑖 (7)

9.1.5 Incerteza padrão combinada

Caso não haja correlação entre as grandezas de entrada, a Eq. 6 é simplificada

perdendo seu termo de correlação, e a incerteza padrão combinada é obtida

pela combinação de todos os componentes de incerteza (multiplicação do

coeficiente de sensibilidade pela incerteza da grandeza de entrada: 𝑐𝑥𝑖𝑢𝑥𝑖)

segundo a seguinte equação:

𝑢𝑐(𝑧) = √∑ 𝑐𝑥𝑖2 𝑢𝑥𝑖

2𝑁𝑖=1 (8)


A incerteza padrão combinada corresponde apenas a um desvio-padrão, ou a

um intervalo contendo 68% de todas as medidas, considerando-se uma

distribuição final normal.

9.1.6 Incerteza expandida

Em aplicações comerciais, industriais e regulamentadoras, e quando a saúde e a

segurança estão em questão, para dar maior confiabilidade é necessário definir

um intervalo maior que o dado por 𝑢𝑐: um intervalo em torno do resultado da medição com o qual se espera abranger uma extensa fração da distribuição de

valores que poderiam ser razoavelmente atribuídos ao mensurando. Essa

medida adicional de incerteza é denominada incerteza expandida 𝑈. A incerteza

expandida é obtida multiplicando-se a incerteza padrão combinada 𝑢𝑐 por um

fator de abrangência 𝑘.

𝑈(𝑧) = 𝑘𝑢𝑐(𝑧) (9)

Esse fator de abrangência geralmente varia entre 2 (95%) e 3 (99%)

considerando-se uma distribuição normal.

O resultado de uma medição é então expresso como

𝑧 ± 𝑈(𝑧) (10)

indicando-se o valor de 𝑘 e da probabilidade de abrangência escolhida (normalmente 95%).

9.2 Abordagem top–down

Na ausência de um modelo matemático, deve-se planejar um experimento que

contemple variação suficiente para avaliar a incerteza. Esta abordagem é uma forma

direta para a determinação da incerteza de medição, baseada nos dados de

desempenho do método inteiro. O procedimento de medição em questão é aplicado a

objetos apropriados de referência (padrões, medidas de materiais, materiais de

referência). Os resultados obtidos são comparados em condições de reprodutibilidade

intralaboratorial.

Nesta metodologia, tanto a repetibilidade (variação dentro do mesmo dia), quanto à

precisão intermediária (variação dia a dia) são avaliadas, primeiro com um material de

referência, e depois com o NM que se quer caracterizar.

9.2.1 Esquema experimental

Deve-se desenhar um experimento de dois níveis como o esquema

representado na figura 10. Com essa montagem é capturada a variabilidade da

preparação da amostra, da aquisição da imagem, da análise da imagem e da

análise dos dados, além da repetibilidade.

Diferentes ampolas/alíquotas são analisadas em m dias diferentes;

Em cada dia são analisadas 𝑛𝑟 amostras preparadas a partir de uma única

ampola;

São realizadas imagens de ao menos 5 regiões separadas de cada amostra.


A repetibilidade indica a proximidade entre os resultados das medições,

realizadas durante um curto período, utilizando-se o mesmo instrumento e

realizadas pelo mesmo operador. A precisão intermediária fornece informações

sobre as variações que acontecem dia a dia.

Fig.10 – Esquema experimental de medição na abordagem top-down usado nas

comparações interlaboratoriais do NANoREG [27] (a) para material de

referência: 𝑚(𝑀𝑅𝐶) = 5 e 𝑛𝑟(𝑀𝑅𝐶) = 3; (b) para o NM 𝑚(𝑁𝑀) = 3 e 𝑛𝑟(𝑁𝑀) = 3.

9.2.2 Avaliação da incerteza

Nesse esquema, a diferença entre o valor do mensurando 𝑦 e o valor verdadeiro

µ é dada pela tendência do laboratório 𝐵, a tendência do método 𝛿 e o erro

aleatório 𝑒 [34]:

𝑦 = 𝜇 + 𝐵 + 𝛿 + 𝑒

A tendência do laboratório depende do sistema de medição e de outros fatores

de precisão intermediária como o operador, preparo da amostra e condições

ambientais. Para fins de simplificação neste documento, será definido que 𝐵 = 0.

A incerteza associada à veracidade da medição, 𝑢𝑡(𝛿), é uma medida da

tendência do método (a diferença sistemática entre o resultado medido e o valor

de referência).

A incerteza associada ao termo aleatório engloba as incertezas relacionadas às

variações não sistemáticas na preparação das amostras, aquisição de imagens,

análise de imagens e análise de dados (incerteza tipo A). No esquema de dois

níveis definido no item anterior, a incerteza relativa do termo aleatório, pode ser

avaliada a partir das contribuições provenientes da repetibilidade do método, ou

variações no mesmo dia, 𝑢𝑟, e das variações entre dias consecutivos, ou

precisão intermediária, 𝑢𝑖𝑝.

Outra fonte de incerteza que afeta a variabilidade do sistema de medição é a

incerteza associada à calibração do instrumento 𝑢𝑐𝑎𝑙 (incerteza tipo B).

A incerteza relativa associada ao valor medido 𝑢𝑚 pode ser obtida pela combinação quadrática das incertezas descritas anteriormente:

(a) (b)


𝑢𝑚2 (𝑦) = 𝑢𝑡

2(𝛿) + 𝑢𝑖𝑝2 (𝑦) + 𝑢𝑟

2(𝑦) + 𝑢𝑐𝑎𝑙2 (11)

Para avaliar a tendência do método (ou veracidade da medição) 𝑢𝑡(𝛿), a ideia é

desenhar um experimento de dois níveis para capturar a variabilidade do método

quando se mede um material de referência (ver fig. 10a) [21]. Assim:

𝑢𝑡2(𝛿) = 𝑢𝑟

2(𝛿) + 𝑢𝑖𝑝2 (𝛿) + 𝑢𝑀𝑅𝐶

2 (12)

Sendo 𝑢𝑟(𝛿) a incerteza associada à repetibilidade e 𝑢𝑖𝑝(𝛿) às variações em

diferentes dias quando um MRC é medido (incertezas tipo A), e 𝑢𝑀𝑅𝐶 a incerteza do valor certificado do MRC (incerteza tipo B).

A incerteza associada à repetibilidade é calculada a partir do conjunto de dados usando-se a Eq. 13.

𝑢𝑟 = √𝑀𝑆𝑤𝑖𝑡ℎ𝑖𝑛

𝑚∙𝑛𝑟 (13)

sendo 𝑀𝑆𝑤𝑖𝑡ℎ𝑖𝑛 a média da soma dos quadrados, m o número de dias e 𝑛𝑟 o número de repetições.

A incerteza associada à precisão intermediária é determinada a partir da Eq. 14:

𝑢𝑖𝑝 = √𝑀𝑆𝑏𝑒𝑡𝑤𝑒𝑒𝑛−𝑀𝑆𝑤𝑖𝑡ℎ𝑖𝑛

𝑚∙𝑛𝑟 (14)

sendo 𝑀𝑆𝑏𝑒𝑡𝑤𝑒𝑒𝑛 a média da soma dos quadrados entre diferentes dias.

Calculando-se as contribuições da repetibilidade (Eq.13) e da precisão

intermediária (Eq.14) para o material de referência obtém-se a incerteza

associada à veracidade mediante a Eq. 12. Assume-se que todas as

contribuições para a incerteza final estão cobertas pela incerteza associada à

precisão intermediária e à repetibilidade para o NM, além das incertezas

associadas à veracidade e à calibração. Então a incerteza da medição

combinada pode ser avaliada a partir da Eq. 11. Supondo que a incerteza

combinada está normalmente distribuída e que se requer um nível de confiança

de aproximadamente 95%, a incerteza combinada pode ser multiplicada por um

fator de abrangência 𝑘 = 2 para se obter a incerteza de medição expandida 𝑈(𝑦)

(ver Eq.10).

10 Relatório de ensaio

O relatório de ensaio é um instrumento formal capaz de descrever com clareza e

detalhamento os procedimentos usados durante o experimento e seus respectivos

resultados. O relatório deve conter informações sobre a identificação do operador,

identificação da amostra e sua preparação para a técnica utilizada, a metodologia

empregada na análise, os instrumentos e equipamentos utilizados e os resultados

obtidos.


A seguir serão citadas algumas informações recomendadas a serem reportadas em

um relatório de ensaio.

10.1 Informações gerais [19]

Nome e endereço institucional do responsável pela amostra.

Nome e endereço institucional do operador/usuário do equipamento.

Identificação única da amostra.

10.2 Informações da amostra [14]

Data de recebimento das amostras.

Breve descrição das amostras e identificação das mesmas.

Data da abertura do recipiente.

Descrição completa do método de preparação usado, com detalhes quantitativos das

massas nominais, volumes e composições dos produtos para amostras que precisam

ser dispersadas ou diluídas.

Data de preparação da amostra.

10.3 Preparação da amostra

Data de preparo de cada espécime para microscopia.

Método usado, incluindo limpeza e secagem.

Tipo de substrato utilizado.

10.4 Descrição do instrumento e método utilizado

Tipo e modelo de equipamento utilizado.

Descrição do procedimento de calibração e data da última verificação do

equipamento.

Material de referência utilizado e incerteza da calibração.

Frame da câmera (pixels).

Descrição do método utilizado e condições experimentais.

10.5 Análises e resultados

Data de realização do ensaio.

Tamanho do pixel.

Área da imagem.

Área total analisada em cada amostra.

Procedimento de exclusão de partículas da borda da imagem.

Quantidade de NPs analisadas.

Identificação do software utilizado para o processamento digital de imagem.

Descrição de ajustes digitais na imagem (brilho, contraste, filtros, threshold).


Resultados (média, moda e/ou mediana, razões de aspecto, distribuições e

histogramas).

Avaliação da incerteza associada à medição em relação à média, moda e/ou

mediana do mensurando.

11 Referências

1- NMIJ-PTB: Bilateral comparison on nanometrology according to the rules of CCL

key comparisons; APEC ISTWG Project Interlaboratory Comparison on

Nanoparticle Size Characterization, 2012

2- Projeto NanoValid, Developing Reference Methods for Nanomaterials, 2012-2015

3- NANoREG, A common European approach to the regulatory testing on

nanomateriais, 2014-2017. Protocolos disponíveis em: http://www.nanoreg.eu/

4- ISO/TS 80004-1:2015. Nanotechnologies – Vocabulary – Part 1: Core terms.

2015, ISO: Geneva, Switzerland.

5- ISO/TS 80004-2:2015. Nanotechnologies – Vocabulary – Part 2: Nano-objects.


6- ISO/TS 80004-6:2013. Nanotechnologies – Vocabulary – Part 6: Nano-objects

characterization. 2013, ISO: Geneva, Switzerland.

7- ISO/TS 17200:2013. Nanotechnologies – Nanoparticles in powder form –

Characteristics and measurements. 2013, ISO: Geneva, Switzerland.

8- ASTM E2456-06 (2012). Standard Terminology for Nanotechnology. 2012. ASTM

International, West Conshohocken, PA, United States. [DOI: 10.1520/E2456-

06R12]

9- Boyd, R.D., et al., Good practice guide for the determination of the size distribution

of spherical nanoparticle samples, in Measurement Good Practice Guide No. 119.

2011, National Physical Laboratory: Teddington, Middlesex, UK.

10- Bonevich, J.E. and W.K. Haller, Measuring the size of nanoparticles using

transmission electron microscopy (TEM), in NIST-NCL Joint Assay Protocol, PCC-

7 Version 1.1, NIST, Editor. 2010, NIST-NCL: Washington, DC, United States.

11- ISO 16700:2016. Microbeam analysis – Scanning electron microscopy –

Guidelines for calibrating image magnification. 2016, ISO: Geneva, Switzerland.

12- ISO 29301:2010. Microbeam analysis – Analytical transmission electron

microscopy – Methods for calibrating image magnification by using reference

materials having periodic structure. 2010, ISO: Geneva, Switzerland.

13- ASTM E766-14e1. Standard Practice for Calibrating the Magnification of a

Scanning Electron Microscope. 2014. ASTM International, West Conshohocken,

PA, United States. [DOI: 10.1520/E0766-14E01]

14- ISO 13322-1:2014. Particle size analysis – Image analysis methods – Part 1:

Static image analysis methods. 2014, ISO: Geneva, Switzerland.

15- ASTM E2578 – 07 (2012). Standard Practice for Calculation of Mean

Sizes/Diameters and Standard Deviations of Particle Size Distributions. 2012,

ASTM International, West Conshohocken, PA, United States.

[DOI: 10.1520/E2578-07R12]


16- ISO 9276-2:2014. Representation of results of particle size analysis – Part 2:

Calculation of average particle sizes/diameters and moments from particle size

distributions. 2014, ISO: Geneva, Switzerland.

17- ISO 9276-3:2008. Representation of results of particle size analysis – Part 3:

Adjustment of an experimental curve to a reference model. 2008, ISO: Geneva,

Switzerland.

18- ISO 9276-6:2008: Representation of results of particle size analysis – Part 6:

Descriptive and quantitative representation of particle shape and morphology.


19- ABNT NBR ISO/IEC 17025:2005. Requisitos gerais para a competência de

laboratórios de ensaio e calibração. 2005, ABNT NBR.

20- Norma NIT-Dicla-035: Princípios das Boas Práticas De Laboratório – BPL. Rev.

02. 2011. Dicla/Cgcre.

21- ISO 21748:2017. Guidance for the use of repeatability, reproducibility and trueness

estimates in measurement uncertainty estimation. 2017, ISO: Geneva, Switzerland

22- L 275/38 Official Journal of the European Union 20.10.2011

23- VIM 2012: Vocabulário Internacional de Metrologia: Conceitos fundamentais e

gerais e termos associados. Duque de Caxias, RJ: INMETRO, 2012. 94 p. [http://

www.inmetro.gov.br/inovacao/publicacoes/vim_2012.pdf]

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Análise dimensional de nanomateriais utilizando ...ftp.inmetro.gov.br/metcientifica/pdf/Analise...ASTM E766 – 14e1: Standard Practice for Calibrating the Magnification of a Scanning