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Instituto de Materiais Cerâmicos PERFILOMETRIA TRIBOLOGIA TOPOGRAFIA DE SUPERFÍCIES. CARACTERIZAÇÃO DE PAVIMENTOS CERÂMICOS Prof. Dr. Márcio R. F. Soares Universidade de Caxias do Sul Área do Conhecimento de Ciências Exatas e Engenharias [email protected] 18/04/2017 IMC, Bom Princípio, RS Projeto Pavimentos Tribológicos - SCIT 52/2013

Presentación de PowerPoint - UCS · ABNT NBR 4287-2002 Rugosidade (nano- e microrugosidade) Direção superficial predominante (estrias) Ondulações (“macrorugosidades”) É

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PERFILOMETRIATRIBOLOGIA – TOPOGRAFIA DE SUPERFÍCIES. CARACTERIZAÇÃO DE PAVIMENTOS CERÂMICOS

Prof. Dr. Márcio R. F. Soares

Universidade de Caxias do Sul

Área do Conhecimento de Ciências Exatas e Engenharias

[email protected]

18/04/2017

IMC, Bom Princípio, RS

Projeto Pavimentos Tribológicos - SCIT

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Cerâmicos

Sumário

Topografia de Superfícies Natureza das superfícies

Alguns métodos de caracterização de camadas superficiais natureza das superfícies sólidas

Análise Topográfica – rugosidade superficial

Técnicas Topográficas

Interferometria de Luz Branca (WLI)

Caracterização topográfica – perfilometria 3D Pavimentos cerâmicos

Outros materiais

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Topografia de Superfícies

•Natureza das superfícies sólidas

Superfície Sólida

Tem estrutura e propriedades complexas dependentes da natureza do sólido,

do método de preparação e da interação com o meio.

Funções tribológicas

Tais propriedades de superfície sólida são cruciais na interação

entre superfícies, afetandoÁrea de contato real

Atrito

Desgaste

Lubrificação

Performance

Óptica

Elétrica

Térmica

Aparência

+

+

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Topografia de Superfícies

Método de preparação

Independente do método, a superfície sempre contém irregularidades

ou desvios assumindo diferentes formas geométricas

com alturas que excedem distâncias da

ordem do espaçamento atômico

Nenhum método de usinagem (mesmo preciso) pode produzir uma

superfície molecularmente plana em materiais convencionais

(mesmo as mais suaves)

Além das irregularidades

Superfície consiste de várias zonas

com propriedades físico-químicas

peculiares a do volume do material

Camada de adsorção

(van der Waals, covalentes)

Camada de deformação

(gerada pelo acabamento superficial)

Camada reativa

(óxidos, nitretos, sulfetos...)

Camada gerada por desgaste

B.Bhushan. Modern Tribology Handbook. CRC Press LLC, 2001, Pages 46-78

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Topografia de Superfícies

•Alguns métodos de caracterização de camadas superficiais natureza das superfícies sólidas

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Topografia de Superfícies

•Análise Topográfica – rugosidade superficial

Medido através da

rugosidade superficial.

ABNT NBR 4287-2002

Rugosidade (nano- e microrugosidade)

Direção superficial predominante (estrias)

Ondulações (“macrorugosidades”)

É o desvio repetitivo ou aleatório da

superfície nominal que forma uma

topografia tridimensional na superfície

Funções tribológicas

Performance

Aparência

Afetam:

Função da preparação:

Grinding (corte)

Lapping (lapidação)

Machining (usinagem mecânica)

Polishing (polimento)

....

Imperfeições

Textura superficial

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Rugosidade

(micro e nanorugosidade)

Estrias (marcas de ferramenta)

Ondulações

(macrorugosidade)

Imperfeições

Grandes desvios na forma nominal

em grandes comprimentos de onda

são conhecidos como erro de forma

normalmente não são considerados

parte da textura superficial

Topografia de Superfícies

(sulco, risco, trinca, poro,

recobrimento, erosão pitting...)

B.Bhushan. Modern Tribology Handbook. CRC Press LLC, 2001, Pages 46-78

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Topografia de Superfícies

Imperfeições Não intencionais e inesperadas levando a interrupções na textura

Estrias (ranhuras) Direção do padrão superficial predominante determinada pelo processo de produção

Ondulações Flutuações na superfície em grandes comprimentos de onda (baixa frequência)

Produzidas por imperfeições

na ferramenta, vibrações e

tensões de deformação

RugosidadeFlutuações na superfície em pequenos comprimentos de onda

(alta frequência), caracterizado por máximos e mínimos locais

com amplitudes e espaçamentos variáveis

“Aspereza”Picos em perfis 2D

Topos em mapas 3D

Intrínsecas ao processo de

produção da sup. (corte)

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Topografia de Superfícies

•Parâmetros topográficos

associados a rugosidades

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Topografia de Superfícies

•Rugosidade

Parâmetros S – parâmetros definidos para sistemas verdadeiramente 3D, fornecendo parâmetros

híbridos de distribuição espacial (plano z(x,y)).

Parâmetros R – originalmente desenvolvido para 2D, para aplicações em perfilômetro de ponteira (linha z(x)).

Muitos dos parâmetros foi mais tarde adaptado para 3D, para sistemas verdadeiramente 3D

Parâmetros de amplitude

Relacionados a variações de altura da

superfície relativa a um plano de referência

medidas ao longo

de uma linha

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Bearing area curve (Abbott curve)

vales mais

profundos

picos mais

elevados

“superfície/fração de apoio”

Material ratio [%]

rugosidade

média

análise

estatistica

Funções de distribuição de altura superficial

As distribuições em alturas também podem ser representadas

como uma função distribuição cumulativa P(z)

Topografia de Superfícies

Taylor Hobson - Surface Roughness Measurement Instrument Operator's Handbook

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Rk ,Rpk, Rvk, Mr1 ,Mr2 (DIN 4776)

Parâmetros obtidos a partir da curva de Abbott

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Taylor Hobson - Surface Roughness Measurement Instrument Operator's Handbook

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N.K Myshkin, A.Ya Grigoriev, S.A Chizhik, K.Y Choi, M.I Petrokovets, Surface roughness and texture analysis in microscale, Wear, Volume 254, Issue 10, July 2003, Pages 1001-1009

Rugosidade em Micro e Nano-escala

Diagrama com parâmetros de altura e espaçamento lateral e

intervalos de resolução para os métodos mais usuais de medida

de rugosidade

•Perfilometria de contato (Stylus)

•Perfilometria de não-contato (Ótica)

•Microscopia eletrônica de varredura (estéreo, fotométrico, ...)

•Microscopia de força atômica

•Microscopia de tunelamento

Técnicas Topográficas

milimétrico

atômico

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Técnicas Topográficas

•Perfilometria de contato (Stylus)

•Perfilometria de não-contato (Ótica)

•Microscopia eletrônica de varredura

•Microscopia de força atômica

•Microscopia de tunelamento

Limitações

- Contato pode danificar a amostra/ponteira; mapeamento 3D lento

- Curvatura da superfície pode não retornar a luz ao detector

- Requer superfície condutora; análise de pequenas áreas

- Contato pode danificar a amostra/ponteira; análise de pequenas áreas

- Requer superfície condutora; análise de pequenas áreas; demorado

Stylus WLI AFM STMSEM

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Técnicas Topográficas

Nas últimas décadas uma variedade de novos métodos para avaliação e análise topográfica têm sido

investigados e desenvolvidos.

- Combinações híbridas

- AFM-Raman

- AFM-IR

AFM vs Chemical mapping of a single nanotube.

300 x 160 nm (100 x 60 points) - Horiba

Blue Scientific

Mapas químico-topográfico

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Técnicas Topográficas

Considerações quanto a escolha do método de análise topográfica!

- Há vários fatores que devem ser considerados quando escolher um método de medida de textura superficial.

•Qual o tipo de superfície que se pretende medir? De um único tipo ou de característica variada?

- Qual a geometria da superfície?

- Qual o tipo de material de superfície pretende medir?

dependendo só por AFM ou SEM

(dura, macia, de característica ótica, magnética, química, etc.)

dependendo da refletividade

método óptico não é possível

ou se for macio o uso de ponteiras

de contato deve ser evitado...•Qual o tamanho do objeto que se quer medir a superfície?

- Da para cortar ou não é possível?algumas técnicas são restritivas quanto ao

tamanho, ex. STM, AFM e até mesmo o SEM.

•Quão rápido se deseja medir uma amostra? técnicas óticas tendem a ser mais rápidas em relação as demais.

muitas vezes necessitam ser preparadas•Que tipo de incerteza de medição você precisa?

a análise da incerteza é complexa para a medição da textura

da superfície•Que características deseja obter?

•Quanto se está disposto a gastar?

Algumas questões devem ser levantadas:

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Interferometria de Luz Branca (WLI)

Equipamento: ContourGT-K

Interferômetro ótico 3D Considerações:

• Imagens 3D obtidas rapidamente (~10s).

• Pode atingir resoluções verticais de 0,1 nm (e laterais de 2,2 mm a 0,5 mm).

• Mapeamento da topografia e rugosidade.

• Combinação de lentes e objetivas (x2,8; x5; x10; x20; x40; x50; x100...).

• Combinação de imagens (stitching) usando o estágio XY motorizado.

• Fonte de luz LED branca e verde (535 nm).

• Altura máxima da amostra (95 mm).

• Máxima curvatura da amostra até 40º para superfícies brilhantes

até 87º para superfícies ásperas

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Caracterização topográfica de pavimentos cerâmicos – perfilometria 3D

Amostras ensaiadas em tribômetro em modo:

- Rotativo (esfera/pino sobre disco)

- Alternado (esfera/pino sobre placa)

Análise em perfilômetro óptico 3D do volume removido e

posterior obtenção de taxa desgaste

Trilha de desgaste

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Caracterização topográfica de pavimentos cerâmicos – perfilometria 3D

0,0 mm

-7,55 mm

Superfície material cerâmico sem ensaio

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Trilhas de desgaste material cerâmico

1,0 cm

0,23 cm

0,0 mm

-230,4 mm

Caracterização topográfica de pavimentos cerâmicos – perfilometria 3D

0,0 mm

-92,42 mm

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Caracterização topográfica outros materiais – perfilometria 3D

Trilha de desgaste material polimérico - PMMA

aumento de 5x

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Caracterização topográfica outros materiais – perfilometria 3D

Superfície material compósito – Pastilha de freio

aumento de 5x

Área: 0.947 mm X 1.262 mm

110,0 mm

-150,0 mm

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Caracterização topográfica outros materiais – perfilometria 3D Caracterização topográfica outros materiais – perfilometria 3D

Superfície material compósito – Pastilha de freio

16,0 mm

-16,0 mm

Área: 94.4 µm X 126 µm

Aumento de 50X Aumento de 2,8x

combinação de uma objetiva de 5x com uma lente de 0,55x

Área 1,694 mm X 2,258 mm

115,0 mm

-175,0 mm

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Caracterização topográfica outros materiais – perfilometria 3D Caracterização topográfica outros materiais – perfilometria 3D

Superfície material compósito – Pastilha de freio

superposição dos dados de intensidade com os dados topográficos

Área: 236 µm X 315 µm

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Caracterização topográfica outros materiais – perfilometria 3D Caracterização topográfica outros materiais – perfilometria 3D

Superfície metálica – Ex. folha de alumínio comercial

aumento de 5X Filtro de Regressão Gaussiana

Determinação dos parâmetros de textura de superfície

separando a rugosidade da ondulação da superfície

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Caracterização topográfica outros materiais – perfilometria 3D Caracterização topográfica outros materiais – perfilometria 3D

Exemplo de combinação de imagens 357 imagens

combinadas Aumento de 5X em cada imagem

tempo total da medida: 3,5 h