Micrografia: adequação de amostras embutidas para observação microscópica Ensaios metalográficos realizados com auxílio do microscópio constituem em uma ferramenta indispensável para quem trabalha com materiais metálicos A adequação da amostra é a condição necessária para a obtenção de resultados confiáveis em metalografia, principalmente nas observações microscópicas com grandes aumentos (acima de 500 vezes). Ensaios metalográficos realizados com auxílio do microscópio constituem em uma ferramenta indispensável para quem trabalha com materiais metálicos [1]. A micrografia quando aliada ao conhecimento da composição química do metal oferece informações relevantes sobre os processos utilizados na sua fabricação, falhas e defeitos oriundos de ciclos térmicos e/ou de tensões mecânicas excessivas sofridas pelo material. Na maioria das vezes, estas observações são realizadas com o auxílio de um microscópio óptico (MO) ou eletrônico de varredura (MEV). Mas, para garantir que a observação indique o caminho correto para a investigação, a amostra deve ser escolhida e preparada de forma a ser realmente representativa de um todo, como enfatiza o professor e metalógrafo Walter A. Mannaheimer quando cita Cervantes, em Dom Quixote, 1605: “Por uma pequena parte se pode julgar o todo”[2]. Por isso, a extração da amostra é um ponto importante a ser considerado na preparação metalográfica. Métodos que evitem danificar ou até mesmo modificar a superfície a ser analisada (pelo calor ou por produtos químicos) devem ser preferencialmente utilizados. Após a extração da amostra, é necessário preparar a superfície para deixá-la plana, polida e/ou atacada quimicamente com o reagente indicado para a investigação desejada. A microscopia óptica requer uma preparação bem mais rigorosa da superfície do que a microscopia eletrônica. Isso porque a profundidade de foco alcançada por um microscópio ótico típico (MO) é bem menor do que a fornecida em um microscópio eletrônico de varredura (MEV). A profundidade de foco em um MO convencional é de 0,27 µm para uma ampliação de 10 3 vezes, enquanto para um MEV típico pode-se obter a profundidade de foco de 0,4 µm para uma ampliação de 10 5 vezes [3]. A Figura 1 ilustra duas situações que normalmente podem

Micrografia

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Ensaio micrografia

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Micrografia: adequao de amostras embutidas para observao microscpica Ensaios metalogrficos realizados com auxlio do microscpio constituem em uma ferramenta indispensvel para quem trabalha com materiais metlicos adequao da amostra ! a condio necessria para a obteno de resultados confiveis em metalografia" principalmente nas observa#es microscpicas com grandesaumentos $acima de %&& vezes'( Ensaios metalogrficos realizados com auxlio do microscpio constituem em uma ferramenta indispensvel para quem trabalha com materiais metlicos )*+(micrografia quando aliada ao conhecimento da composio qumica do metal oferece informa#es relevantes sobre os processos utilizados na sua fabricao" falhas e defeitos oriundos de ciclos t!rmicos e,ou de tens#es mec-nicas excessivas sofridas pelo material( .a maioria das vezes" estas observa#es so realizadas com o auxlio de um microscpio ptico $M/' ou eletr0nico de varredura $ME1'( Mas" para garantir que a observao indique o caminho correto para a investigao" a amostra deve ser escolhida e preparada de forma a ser realmente representativa de um todo" como enfatiza o professor e metalgrafo 2alter ( Mannaheimer quando cita 3ervantes" em 4om 5uixote" *6&%: 78or uma pequena parte se pode 9ulgar o todo:);+( 8or isso" a extrao da amostra ! um ponto importante a ser considerado na preparao metalogrfica( M!todos que evitem danificar ou at! mesmo modificar a superfcie a ser analisada $pelo calor ou por produtos qumicos' devem ser preferencialmente utilizados(ps a extrao da amostra" ! necessrio preparar a superfcie para deix ?m para uma ampliao de *&@ vezes" enquanto para um ME1 tpico pode