PEA - Controle Metrológico de Produtos e Processos-2014

Embed Size (px)

Citation preview

  • PLANO DE ENSINO E APRENDIZAGEMCURSO: Engenharia Mecnica

    Disciplina:Controle Metrolgico deProdutos e Processos

    Perodo Letivo:1 sem/2014

    Srie:4 Srie

    Periodo:No definido

    Semestre de Ingresso: 2 Ano de Ingresso: 2012C.H. Terica:

    30C.H. Prtica:

    10C.H. Total:

    40

    EmentaINTRODUO E CONCEITOS FUNDAMENTAIS DE METROLOGIA: reas da Metrologia; Sistema Internacional de Unidades; osistema brasileiro de normalizao. PROCESSO DE MEDIO: Fatores metrolgicos; Erros de medio; Incerteza de medio;Padres e Rastreabilidade. SISTEMAS DE TOLERNCIA E AJUSTES: Sistemas de Ajustes; Terminologia de tolerncias;Indicaes de tolerncia; Sistema Internacional %u2013 ISO. TOLERNCIAS GEOMTRICAS: De Forma; de Orientao e dePosio. RUGOSIDADE: Conceito e classificao e Desvios Microgeomtricos. BLOCOS PADRO E PEAS AUXILIARES:Blocos padro angulares; Cilindros e esferas calibradas. PRINCIPAIS TIPOS DE INSTRUMENTOS DE MEDIO: Paqumetros;Traadores de altura; Micrmetros; Relgios comparadores; Relgios apalpadores; Rugosmetros; Gonimetros; Aferio ecalibragem de instrumentos. INTRODUO E CONCEITOS FUNDAMENTAIS DE METROLOGIA: reas da Metrologia; SistemaInternacional de Unidades e o sistema brasileiro de normalizao. PROCESSO DE MEDIO: Fatores metrolgicos; Erros demedio; Incerteza de medio; Padres e Rastreabilidade. SISTEMAS DE TOLERNCIA E AJUSTES: Terminologia detolerncias; Indicaes de tolerncia; Sistema Internacional %u2013 ISO. MEDIDORES DE DESLOCAMENTO: Caractersticaconstrutiva e princpio de funcionamento; Tipos; Aspectos operacionais; Leitura de medidas. INSTRUMENTOS AUXILIARES DEMEDIO E CALIBRADORES: Desempenos; Rguas; Esquadros; Calibradores. MQUINAS DE MEDIR: Projetores,Microscpios; Mquinas Dedicadas; Dispositivos de Controle. MQUINAS DE MEDIO POR COORDENADAS: CMM; Brao deMedio; Laser Tracker; Fotogrametria e Teodolito; Software de Anlise Dimensional. CONTROLE ESTATSTICO DEPROCESSO: Conceitos e Definies; Grficos de Controle; Grficos de Controle para Variveis (Grficos de Controle paraMonitorar a Disperso do Processo; Grficos de Controle para Monitorar o Nvel do Processo e Grficos de Controle ParaMedidas Individuais).

    ObjetivosA disciplina Princpios de Metrologia Industrial tem como objetivo analisar os conceitos metrolgicos bsicos, sua normalizao eimpacto nos sistemas de gesto da qualidade, para a avaliao de produtos e controle de processos, com o reconhecimento eaplicao de tcnicas e metodologias modernas para o gerenciamento dos disposItivos de medio e monitoramento.

    Contedo Programtico1. INTRODUO E CONCEITOS FUNDAMENTAIS DE METROLOGIA1.1. Aplicaes da Metrologia1.2. reas da Metrologia: Metrologia Cientfica; Metrologia Industrial e Metrologia Legal1.3. Sistema Internacional de Unidades1.4. O sistema brasileiro de normalizao: rgos governamentais, laboratrios, redes de metrologia.2. PROCESSO DE MEDIO2.1. Fatores metrolgicos2.2. Erros de medio2.3. Incerteza de medio2.4. Padres e Rastreabilidade3. SISTEMAS DE TOLERNCIA E AJUSTES3.1. Sistemas de Ajustes3.2. Terminologia de tolerncias3.3. Indicaes de tolerncia %u2013 Representao Simblica

    1 / 4

  • 3.4. Sistema Internacional %u2013 ISO4. TOLERNCIAS GEOMTRICAS4.1. De Forma4.2. De Orientao4.3. De Posio5. RUGOSIDADE5.1. Conceito e classificao5.2. Desvios Microgeomtricos5.3. Rugosmetro6. BLOCOS PADRO E PEAS AUXILIARES6.1. Constituio dos blocos padro e dos blocos protetores6.2. Blocos padro angulares6.3. Cilindros e esferas calibradas7. PRINCIPAIS TIPOS DE INSTRUMENTOS DE MEDIO7.1. Paqumetros7.2. Traadores de altura7.3. Micrmetros7.4. Relgios comparadores7.5. Relgios apalpadores7.6. Rugosmetros7.7. Gonimetros7.8. Aferio e calibragem de instrumentos7.8.1. Normas de calibrao7.8.2. RBC8. PAQUMETRO8.1. Caracterstica construtivas8.2. Princpio de funcionamento8.3. Principio de nnio8.4. Tipos e usos8.5. Aspectos operacionais8.6. Leitura de medidas.9. MICROMETRO9.1. Caracterstica construtiva9.2. Princpio de funcionamento9.3. Tipos e usos9.4. Aspectos operacionais9.5. Leitura de medidas10. GONIMETRO %u2013 Medio Angular10.1. Unidades de medio angular10.2. Caracterstica construtiva10.3. Princpio de funcionamento10.4. Tipos e usos10.5. Aspectos operacionais10.6. Leitura de medidas11. RELGIO COMPARADOR11.1. Caracterstica construtiva11.2. Princpio de funcionamento11.3. Tipos e usos11.4. Aspectos operacionais11.5. Leitura do relgio12. MEDIDORES DE DESLOCAMENTO12.1. Definio12.2. Caracterstica construtiva12.3. Tipos12.4. Aspectos operacionais12.5. Princpio de funcionamento12.6. Leitura de medidas13. INSTRUMENTOS AUXILIARES DE MEDIO E CALIBRADORES13.1. Desempenos13.2. Rguas13.3. Esquadros13.4. Calibradores: Tipos e Aplicaes

    2 / 4

  • 14. MQUINAS DE MEDIR14.1. Projetores, Microscpios14.2. Mquinas Dedicadas14.3. Dispositivos de Controle.15. MQUINAS DE MEDIO POR COORDENADAS15.1. CMM15.2. Brao de Medio15.3. Laser Tracker15.4. Fotogrametria e Teodolito,15.5. Software de Anlise Dimensional16. CONTROLE ESTATSTICO DE PROCESSO16.1. Conceitos e Definies;16.2. Grficos de Controle: fundamentao estatstica dos Grficos de Controle;16.3. Grficos de Controle para Variveis16.3.1. Grficos de Controle para Monitorar a Disperso do Processo16.3.1.1. Grfico do Desvio-Padro;16.3.1.2. Grfico da Varincia; Grfico da Amplitude16.3.2. Grficos de Controle para Monitorar o Nvel do Processo16.3.2.1. Grfico da Mdia16.3.2.2. Grfico da Mediana.16.3.3. Grficos de Controle Para Medidas Individuais16.3.3.1. Grfico de Controle para Amplitude Mvel16.3.3.2. Grfico de Controle para Observaes Individuais.AULAS PRTICAS:1. Manuseio e medio com paqumetro, micrmetro e altmetro.2. Manuseio e medio com gonimetro, blocos padro e rugosmetro.3. Relgio Comparador e Apalpador4. Mquinas Tridimensionais5. Projetor de Perfil

    Procedimentos Metodolgicos IndicadosExposies dialogadas com ilustraes em quadro negro e/ou lousa branca, adicionado por recursos audiovisuais e multimdia;Aulas prticas de Laboratrio, Trabalhos em grupo e/ou individuais atravs de tarefas especficas; Anlise de materialdidtico-tcnico utilizvel em empresas. Desenvolvimento de atividades prticas supervisionadas - ATPS.

    Sistema de Avaliao1 Avaliao - PESO 4,0 2 Avaliao - PESO 6,0Atividades Avaliativas a Critrio do Professor Prova Escrita OficialPrticas: 2 Prticas: 2Tericas: 8 Tericas: 8Total: 10 Total: 10

    Bibliografia Bsica Padro1) SILVA NETO, Joo Cirilo da (org.). Metrologia e controle dimensional : conceitos, normas e aplicaes. 1 ed. Rio deJaneiro: CAMPUS, 2012, v.1.

    Bibliografia Bsica Unidade: Universidade Anhanguera de So Paulo - UNIAN/SP (FEC)1) HEMUS. A Tcnica da Ajustagem : Metrologia, Medio, Roscas e Acabamento. 1 ed. So Paulo: Hemus, 2004.2) ALBERTAZZI G. JR, Armando (org.) et al. Fundamentos de metrologia cientfica e Industrial. 1 ed. Barueri: MANOLE,2013.

    Bibliografia Complementar: Universidade Anhanguera de So Paulo - UNIAN/SP (FEC)1) LIRA, Francisco A. de. Metrologia na Indstria.. 9 ed. So Paulo: rica, 2013.2) JUNIOR, SANTOS. Metrologia Dimensional : Teoria e Pratica. 2 ed. Porto Alegre: UFRGS - Universidade Federal do RioGrande do Sul, 1995, v.1.3) FELIX, Jlio C.. A metrologia no Brasil. 1 ed. Rio de Janeiro: Qualitymark, 1995.

    3 / 4

  • 4) ALVES, Artur S.. Metrologia geomtrica. 1 ed. Lisboa: Fundao Calouste Gulbenkian, 1996.5) WAENY, Jos Carlos de C.. Controle total da qualidade em metrologia. 1 ed. So Paulo: Makron Books, 1992.

    Cronograma de AulasSemana n. Tema

    1 Introduo e Conceitos Fundamentais de Metrologia. Processo de Medio.2 Sistemas de Tolerncia e Ajustes. Tolerncias Geomtricas.3 Rugosidade. Blocos Padro e Peas Auxiliares4 Principais Tipos de Instrumentos de Medio.5 Aula prtica: Manuseio e medio com paqumetro, micrmetro e altmetro.6 Principais Tipos de Instrumentos de Medio.7 Principais Tipos de Instrumentos de Medio.8 Aula prtica: Manuseio e medio com gonimetro, blocos padro e rugosmetro.9 Primeira Avaliao10 Medidores de Deslocamento. Instrumentos Auxiliares de Medio e Calibradores.11 Maquinas de Medir12 Aula prtica: Relgio Comparador e Apalpador13 Maquinas de Medio por coordenadas. Automao e Controle Dimensional.14 Controle Estatstico de Processo.15 Aula prtica: Mquinas Tridimensionais16 Controle Estatstico de Processo.17 Aula prtica: Projetor de Perfil18 Prova Escrita Oficial19 Reviso de contedos20 Prova Substitutiva

    Coordenador do Curso_____________________

    Assinatura

    Diretor Executivo __/__/_________________________

    Assinatura

    Powered by TCPDF (www.tcpdf.org)

    4 / 4