TM361 - Sistemas de Medio 1
Prof. Alessandro Marques [email protected]
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FICHA No 1 (permanente) Disciplina: Sistemas de Medies I Cdigo: TM361 Natureza: (x) obrigatria ( ) optativa Semestral ( ) Anual ( ) Modular (x) Pr-requisito: Metrologia Co-requisito: Modalidade: (x) Presencial ( ) EaD ( ) 20% EaD
C.H. Semestral Total: 20h
PD: 01 LB: 01 CP: 00 ES: 00 OR: 00 C.H. Semanal: 02h EMENTA (Unidades Didticas) Caracterizao esttica e dinmica dos sistemas de medies; Conceitos de instrumentao; Fundamentos de estatstica, incerteza de medio e propagao de incerteza; Efeitos fsicos aplicados em sensores; Medidas de deformao e fora, posio, velocidade angular e velocidade tangencial, presso.
EMENTA DA DISCIPLINA TM361 SM1
Legenda: Conforme Resoluo 15/10-CEPE: PD- Padro LB Laboratrio CP Campo ES Estgio OR - Orientada
BIBLIOGRAFIA BSICA (3 TTULOS) 1) BALBINOT, A.; BRUSAMARELLO, V. J.; Instrumentao e fundamentos de
medidas, volume 1 e 2, 2010. 2) DOEBELIN, E.; Measurement Systems - Application and Design, Ed. McGraw
Hill 4th Edition, 1992. 3) FIGLIOLA, R.S.; BEASLEY D.E., Teoria e Projeto para Medies Mecnicas, 4a
Edio, LTC, 2007. BIBLIOGRAFIA COMPLEMENTAR (2 TTULOS)
1) ALBERTAZZI, A.; SOUZA, A. R.; Fundamentos Metrologia Cientfica e Industrial. 407p., Editora Manole, 2008.
2) Bolton, Willian: "Instrumentao & Controle", So Paulo-SP, Hemus Editora Ltda, 2005.
Chefe de Departamento: ___________________________________ Assinatura: __________________________________________
EMENTA DA DISCIPLINA FICHA No 1 (permanente)
FICHA No 2 (varivel)
EMENTA DA DISCIPLINA TM361 SM1
Disciplina: Sistemas de Medies I Cdigo: TM361 Natureza: (x) obrigatria ( ) optativa Semestral ( ) Anual ( ) Modular (x) Pr-requisito: Metrologia Co-requisito: Modalidade: (x) Presencial ( ) EaD ( ) 20% EaD C.H. Semestral Total: 20h PD: 01 LB: 01 CP: 00 ES: 00 OR: 00 C.H. Semanal: 02h EMENTA (Unidades Didticas) Caracterizao esttica e dinmica dos sistemas de medies; Conceitos de instrumentao; Fundamentos de estatstica, incerteza de medio e propagao de incerteza; Efeitos fsicos aplicados em sensores; Medidas de deformao e fora, posio, velocidade angular e velocidade tangencial, presso.
PROGRAMA (itens de cada unidade didtica) CARACTERIZAO ESTTICA E DINMICA DE SINAIS: conceitos de sinais de entrada e sada, faixa de indicao; faixa de medio; faixa nominal; fundo de escala; valor de uma diviso (da escala); incremento digital; threshold; resoluo; curva caracterstica de resposta; sensibilidade; relao estmulo/resposta. CONCEITOS DE INSTRUMENTAO: o mtodo cientfico; grandezas fsicas; unidades de medidas; definies e conceitos, resposta dinmica; transformada de Laplace, anlise de sistemas de ordens zero, primeira e segunda. FUNDAMENTOS DE ESTATSTICA, INCERTEZA DE MEDIO E PROPAGAO DE INCERTEZA: teoria da medio estatstica; estatsticas finitas; anlise de regresso; erros de medio; fontes de erros; erros aleatrios e sistemticos; propagao de erros; analise de incerteza de estagio avanado. EFEITOS FSICOS APLICADOS EM SENSORES: resistivo; indutivo; capacitivo; fotocondutivo; fotovoltaico; piezeltrico; potenciomtrico; eletromagntico. MEDIDAS DE DEFORMAO E FORA: fundamentos tericos; tenso mecnica; deformao elstica; balana e medio de peso; transdutores de fora: piezeltricos, capacitivos, sensor de fora, extensmetro de resistncia eltrica (strain gages). MEDIDAS DE POSIO, VELOCIDADE ANGULAR E VELOCIDADE TANGENCIAL: transdutores potenciomtricos; sensores capacitivos e indutivos; sensor magnetorresistivo. PRESSO: definio e conceitos; manmetros: diafragmas e foles, tubos; sensores capacitivos, piezeltricos e piezorresistivo.
EMENTA DA DISCIPLINA FICHA No 2 (varivel)
OBJETIVO GERAL Aprofundar o conhecimento dos alunos nos diversos tipos de instrumentos de medida, enfocando seus princpios de funcionamento, aplicaes e restries, bem como seus elementos auxiliares tais como registradores e processadores de sinais. PROCEDIMENTOS DIDTICOS As aulas tericas sero expositivas, contando com os recursos tais como quadro negro e projetor multimdia. As aulas prticas sero iniciada com demonstraes sobre os equipamentos, seguida da execuo e repetio das atividades em grupos de no mximo 3 alunos por bancada, orientados pelo monitor e/ou pelo professor.
EMENTA DA DISCIPLINA FICHA No 2 (varivel)
FORMAS DE AVALIAO A nota final do conjunto de avaliaes ser determinada conforme os critrios abaixo: Avaliao dos conceitos tericos adquiridos: Sero realizadas duas avaliaes, como provas individuais, sendo a primeira ao final da 1 parte da disciplina e a segunda avaliao terica ao final da 2 parte da disciplina com apresentao de seminrios pelo alunos e Prova 2. O peso da mdia destas avaliaes ser de 70 % da nota final da disciplina. Sendo 40% da mdia das provas e 30% dos seminrios. Avaliao prtica: Ao final das aulas prticas proposto ao aluno que faa um relatrio das atividades da aula prtica. O Peso da mdia destas avaliaes ser de 30 % da nota final da disciplina. As avaliaes sero feitas mediante apresentao de relatrios elaborados por grupos de at 3 alunos. A nota dada ao grupo. Os relatrios devero ser entregues at 1 semana aps a realizao da aula prtica.
EMENTA DA DISCIPLINA FICHA No 2 (varivel)
A nota final ser calculada pelos critrios acima, se for maior que 70 o aluno aprovado. Se a nota final estiver entre 40 e 70, o candidato ser submetida a uma avaliao que cubra toda a ementa ministrada durante o mdulo. A nota mdia mnima de aprovao de 50. O clculo da Nota Final (NF) ser efetuado segundo o critrio abaixo: NF = 0,3 x (Mdia dos Relatrios de Aula Prtica) + 0,3 x (Nota do Seminrio) + 0,4 x (Mdia das Provas) NF 70 Aprovado; 70 > NF 40 Exame final, considerando a frequncia (Resoluo
37/97 CEPE (Artigo 95). NF < 40 Reprovado.
EMENTA DA DISCIPLINA FICHA No 2 (varivel)
BIBLIOGRAFIA BSICA (3 TTULOS) 1) BALBINOT, A.; BRUSAMARELLO, V. J.; Instrumentao e fundamentos de
medidas, volume 1 e 2, 2010. 2) DOEBELIN, E.; Measurement Systems - Application and Design, Ed. McGraw
Hill 4th Edition, 1992. 3) FIGLIOLA, R.S.; BEASLEY D.E., Teoria e Projeto para Medies Mecnicas, 4a
Edio, LTC, 2007. BIBLIOGRAFIA COMPLEMENTAR (2 TTULOS) 1) ALBERTAZZI, A.; SOUZA, A. R.; Fundamentos Metrologia Cientfica e
Industrial. 407p., Editora Manole, 2008. 2) Bolton, Willian: "Instrumentao & Controle", So Paulo-SP, Hemus Editora
Ltda, 2005. 3) Siemens AG; Instrumentao Industrial, Ed. Edgard Blcher Ltda., 1976. 4) Sirohi, R.S. & Krishna, H.C.R., Mechanical Measurements, Ed. John Wiley,
1991.
Professor da Disciplina: ____________________________________ Assinatura: ______________________________________________
Chefe de Departamento: ___________________________________ Assinatura: __________________________________________
EMENTA DA DISCIPLINA FICHA No 2 (varivel)
A nota final ser calculada pelos critrios acima, se for maior que 70 o aluno aprovado. Se a nota final estiver entre 40 e 70, o candidato ser submetida a uma avaliao que cubra toda a ementa ministrada durante o mdulo. A nota mdia mnima de aprovao de 50. O clculo da Nota Final (NF) ser efetuado segundo o critrio abaixo:
NF = 0,3 x (Mdia dos Relatrios de Aula Prtica) + 0,3 x (Nota do Seminrio) + 0,4 x (Mdia das Provas) NF 70 Aprovado;
70 > NF 40 Exame final, considerando a frequncia (Resoluo 37/97
CEPE (Artigo 95). NF < 40 Reprovado.
TURMA 2016 2
Forma de Avaliao: I) Avaliao dos Conceitos Tericos adquiridos: Datas previstas para as provas:
PROVA 1: 31 de maio ou 02 de junho Pr-entrega do Seminrios : 07 ou 09 de junho
Seminrios : 14 ou 16 de junho Prova 2: 28 ou 30 de junho
II) Avaliao Prtica :
A) Entrega de relatrios de Aulas Prticas
Data prevista para o Exame final: 05 ou 07 de julho 70 > NF 40 , considerando a frequncia (Resoluo 37/97 CEPE (Artigo
95). assegurado o direito segunda chamada ao aluno que no tenha
comparecido avaliao, nos casos e condies constantes no Artigo 106 da Resoluo 37/97 CEPE.
TURMA 2016 2
