Informações Gerais: A difração e fluorescência de raios-X são técnicas indispensáveis na determinação das fases cristalinas e quantificação de elementos químicos, respectivamente. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. Além da introdução teórica, será enfatizado o uso dos equipamentos (DRX e FRX) pelos participantes e a utilização do programa de identificação de fases cristalinas HighScore da Panalytical. O curso será destinado a profissionais que atuam nas indústrias, alunos de pós-graduação, geólogos e técnicos. Instrutores: J.M. Sasaki (Doutor) É professor adjunto do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física "Gleb Wataghin" no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios-X usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq. J.A. Nogueira Neto (Doutor) Professor Associado do Departamento de Geologia da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/Ce) desde 1981. Doutorado pela Universidade Estadual Paulista (UNESP) e Pós-Doutorado pelo Instituto Superior Técnico (IST) da Universidade Técnica de Lisboa (UTL). Atualmente trabalha com caracterização tecnológica de rochas e minerais de aplicação industrial. Local:

• As aulas teóricas e de tutoriais serão ministradas na sala de Geologia Geral (bloco 913) do Departamento de Geologia e as aulas práticas no Laboratório de Raios-X (X-Pert MPD – Panalytical e ZSX Mini II - Rigaku).

• Endereço: Universidade Federal do Ceará Laboratório de Raios-X - LRX

Departamento de Física Campus do Pici CEP 60455-970, Fortaleza – CE Fone: (85)3366-9917/3366-9013

Público Alvo: Estudantes de Mestrado, Doutorado, Iniciação Científica, Geólogos, Engenheiros de Minas, Engenheiros de Materiais e profissionais que atuam nas indústrias com interesses em análises de minerais/minérios. Carga horária: 8 horas de aulas teóricas e 32 horas de tutoriais Total: 40 horas Inscrição:

• Preenchendo o formulário de pré-inscrição que se encontra na homepage http://www.astef.ufc.br

• As inscrições serão recebidas até o dia 10 de Agosto de 2012.

• Valor da taxa de inscrição: Professores universitários, geólogos e técnicos das indústrias, o valor será de R$ 750,00 (setecentos e cinquenta reais) Alunos de pós-graduação e de iniciação científica, o valor será de R$ 150,00 (cento e cinquenta reais). • Serão oferecidas 45 vagas • Sendo 15 alunos da disciplina de Mineralogia I

estarão isentos da taxa de inscrição. • É OBRIGATÓRIO trazer o notebook pessoal.

Informações: Laboratório de Raios-X - LRX http://www.fisica.ufc.br/raiosx ASTEF http://www.astef.ufc.br Tel: (85) 3458-7068/9622-0303 (Dalva) Fortaleza-Ceará

I Curso de Análise de Minerais/Minérios pelas Técnicas de DRX e FRX 10 a 14 de Setembro de 2012

Fortaleza - CE

Instrutores: Profs. José Marcos Sasaki e José de Araújo Nogueira Neto

Monitor: Edipo Silva de Oliveira, Joel Pedrosa Sousa e Francisco José Lins Magalhães

Coordenador: José de Araújo Nogueira Neto

Apoio:

Realização:

Nota: O curso será cancelado e devolvida a taxa de inscrição no caso onde o número mínimo de participantes não atingir a 20 (vinte). Conteúdo geral do curso: Teórico

• Estrutura e simetria cristalina • Elementos/operações de simetria • Sistemas cristalinos • Introdução à difração (DRX) e

fluorescência de raios-X (FRX); • Introdução ao programa HighScore da

Panalytical. Experimental

• Métodos de preparação de amostras para DRX e FRX;

• Medidas de DRX e FRX; • Identificação de fases cristalinas.

Programação do Curso:

• 10/09/2012 - Segunda-Feira 8:00 - Abertura 8:30 - 12:00 Aula Teórica: Definição de cristais/minerais, estrutura cristalina e simetria. Elementos de simetria: eixos, planos, centro de simetria. Operações de simetria: rotação, reflexão, inversão e roto-inversão. Parâmetros lineares e angulares, formas cristalinas e sistemas cristalinos. 14:00 - 18:00 Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico.

Dispersão anômala, difração de raios-x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.

• 11/09/2012 – Terça-Feira 8:00 - 12:00 Apresentação do difratômetro e espectrômetro de fluorescência de raios-X instalados no Laboratório de Raios-X/Panalytical. Identificação de fases cristalinas, apresentação e instalação, pelos participantes, do programa HighScore da Panalytical e utilização das Bases de Dados PDF2. 14:00 - 18:00 Aula experimental: medidas de fluorescência e padrões de difração pelos participantes e aplicação do programa HighScore.

• 12/09/2012 – Quarta-Feira 8:00 - 12:00 Aula experimental: medidas de fluorescência e padrões de difração pelos participantes e aplicação do programa HighScore. 14:00 - 18:00 Aula experimental: medidas de fluorescência e padrões de difração pelos participantes e aplicação do programa HighScore.

• 13/09/2012 – Quinta-Feira 8:00 - 12:00 Aula experimental: medidas de fluorescência e padrões de difração pelos participantes e aplicação do programa HighScore. 14:00 - 18:00

Aula experimental: medidas de fluorescência e padrões de difração pelos participantes e aplicação do programa HighScore.

• 14/09/2012 – Sexta-Feira 8:00 - 12:00 Mr. Harald van Weeren - Gerente de Produto de Difração de Raios-X da PANalytical na Holanda e Dr. Luciano Gobbo. PDF-Analysis and SAXS. 14:00 - 17:00 Mr. Harald van Weeren - Gerente de Produto de Difração de Raios-X da PANalytical na Holanda e Dr. Luciano Gobbo. PDF-Analysis and SAXS. 18:00 - Confraternização Material Didático:

• Cada participante receberá no início do curso um “pendrive” contendo os programas que serão utilizados e uma pasta contendo apostila e notas de aula.