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www.labmetro.ufsc.br/ livroFMCI 4 4 O Sistema de O Sistema de Medição Medição Fundamentos da Metrologia Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial Científica e Industrial

Aula 4 controle da qualidade e metrologia

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44 O Sistema de Medição O Sistema de Medição

Fundamentos da Metrologia Fundamentos da Metrologia Científica e IndustrialCientífica e Industrial

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4.14.1Métodos básicos de mediçãoMétodos básicos de medição

Page 3: Aula 4 controle da qualidade e metrologia

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 3/42)

Método da comparaçãoMétodo da comparação O valor do mensurando é determinado O valor do mensurando é determinado

comparando-o com um artefato cujo valor comparando-o com um artefato cujo valor de referência é muito bem conhecido.de referência é muito bem conhecido.

0

medidas materializadas

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 4/42)

DefiniçãoDefinição Medida materializada:Medida materializada:

Dispositivo destinado a reproduzir ou Dispositivo destinado a reproduzir ou fornecer, de maneira permanente fornecer, de maneira permanente durante seu uso, um ou mais valores durante seu uso, um ou mais valores conhecidos de uma dada grandeza.conhecidos de uma dada grandeza.

São exemplos: massas-padrão; resistor São exemplos: massas-padrão; resistor elétrico padrão; um bloco-padrão; um elétrico padrão; um bloco-padrão; um material de referência.material de referência.

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 5/42)

Método da indicaçãoMétodo da indicação Mostram um número proporcional ao Mostram um número proporcional ao

valor do mesurando. valor do mesurando.

Galvanômetro.

Termômetro de Bulbo.

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 6/42)

Medição diferencialMedição diferencial

A pequena diferença entre o A pequena diferença entre o mensurando e uma medida mensurando e uma medida materializada é indicada.materializada é indicada.

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 7/42)

Medição diferencialMedição diferencial

base

coluna

relógio comparador

0

0

d

padrão peçapeça

d

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 8/42)

característica indicação comparação diferencialvelocidade de medição muito rápido muito lento rápidofacilidade de automação muito fácil muito difícil muito fácilestabilidade com tempo instável muito estável muito estávelcusto moderado a

elevadoelevado moderado

muito usada na indústria

Análise comparativaAnálise comparativaA seleção do melhor método de medição depende de uma série de características da aplicação para a qual a medição se destina.

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4.24.2Módulos básicos de um Módulos básicos de um

sistema de mediçãosistema de medição

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 10/42)

Módulos básicos de um SMMódulos básicos de um SM

transdutor e/ou

sensor

unidade de tratamento

do sinal

dispositivo mostrador

ou registrador

indicação ou

registro

mensurando

sistema de medição

• em contato com o mensurando

• transformação de efeitos físicos

• sinal fraco

• amplifica potência do sinal do transdutor

• pode processar o sinal

• torna o sinal perceptível ao usuário

• pode indicar ou registrar o sinal

A grande maioria dos sistema de medição que operam pelo princípio da indicação apresenta três módulos funcionais bem definidos

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 11/42)

Dispositivos registradoresDispositivos registradores

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 12/42)

Módulos de um SMMódulos de um SM

F

d

transdutor

dispositivo mostrador

Page 13: Aula 4 controle da qualidade e metrologia

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 13/42)

Módulos de um SMMódulos de um SM

F

D

A

transdutordispositivo mostrador

unidade de tratamento de sinais

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 14/42)

Módulos de um SMMódulos de um SM

PW A

F

N

B14,5 N

ID

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4.34.3Características metrológicas Características metrológicas

dos sistemas de mediçãodos sistemas de medição

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 16/42)

Quanto à faixa de utilização...Quanto à faixa de utilização...

Faixa de indicaçãoFaixa de indicação intervalo compreendido entre o menor intervalo compreendido entre o menor

e o maior valor que pode ser indicado. e o maior valor que pode ser indicado.

faixa de indicação

4 dígitos

Page 17: Aula 4 controle da qualidade e metrologia

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 17/42)

Quanto à faixa de utilização...Quanto à faixa de utilização... Faixa nominalFaixa nominal

faixa ativa selecionada pelo usuário.faixa ativa selecionada pelo usuário. Faixa de mediçãoFaixa de medição

faixa de valores do mensurando para faixa de valores do mensurando para a qual o sistema de medição foi a qual o sistema de medição foi desenhado para operar.desenhado para operar.

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 18/42)

ExemploExemplo

3½ dígitos0 a 1000 V

0 a 200 V0 a 20 V0 a 2 V

0 a 200 mV

Faixas nominais

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 19/42)

Quanto à indicação ...Quanto à indicação ... Valor de uma divisão (da escala)Valor de uma divisão (da escala)

diferença entre os valores da escala diferença entre os valores da escala correspondentes à duas marcas correspondentes à duas marcas sucessivas.sucessivas.

00 11 22 33 44

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 20/42)

Quanto à indicação ...Quanto à indicação ...

g

1,0

quantidade de açúcar (g)

indicação (g)

2,0 3,0 4,0 5,0 6,0

1,0

2,0

3,0

4,0

0,00,0

incremento digital01234

Incremento digital

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 21/42)

Quanto à indicação ...Quanto à indicação ... ResoluçãoResolução

é a menor diferença entre indicações é a menor diferença entre indicações que pode ser significativamente que pode ser significativamente percebidapercebida

Nos instrumentos digitais é igual ao Nos instrumentos digitais é igual ao incremento digitalincremento digital Nos instrumentos analógicos pode Nos instrumentos analógicos pode ser:ser:

VDVD VD/2VD/2 VD/5VD/5 VD/10VD/10

Page 22: Aula 4 controle da qualidade e metrologia

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 22/42)

Relação estímulo/respostaRelação estímulo/resposta Sensibilidade (constante):Sensibilidade (constante):

0 mm

40 mm400 N

0 mm4 mm

400 N

A B

F (N)

d (mm)

0 400

40

4

B

A

resposta

estímulo

SbA = 0,01 mm/N SbB = 0,10 mm/N

ΔestimuloΔrespostaSb

Page 23: Aula 4 controle da qualidade e metrologia

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 23/42)

Quanto ao erro de medição ...Quanto ao erro de medição ... RepetitividadeRepetitividade

faixa dentro da qual é esperado o faixa dentro da qual é esperado o erro aleatório em medições repetidas erro aleatório em medições repetidas realizadas nas mesmas condições.realizadas nas mesmas condições.

Reprodutibilidade (Reprodutibilidade (exprime a intensidade com exprime a intensidade com que agem os erros aleatórios)que agem os erros aleatórios) faixa dentro da qual é esperado o faixa dentro da qual é esperado o

erro aleatório em medições repetidas erro aleatório em medições repetidas realizadas em condições variadas.realizadas em condições variadas.

Page 24: Aula 4 controle da qualidade e metrologia

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 24/42)

Quanto ao erro de medição ...Quanto ao erro de medição ... Erro de linearidade ( Erro de linearidade ( é um parâmetro que é um parâmetro que

exprime o quanto a curva característica de resposta real se exprime o quanto a curva característica de resposta real se afasta da linha reta ideal afasta da linha reta ideal ))

estímulo

resposta

d2d1

reta MMQ

EL = máx(d1, d2)

Page 25: Aula 4 controle da qualidade e metrologia

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 25/42)

Quanto ao erro de medição ...Quanto ao erro de medição ...

Erro máximo ( é o parâmetro numérico que melhor descreve

a qualidade global do sistema de medição )

Erro

Indicação

Es

Re

Re

Emáx

- Emáx

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 26/42)

Quanto a erros de medição ...Quanto a erros de medição ...

Precisão e exatidãoPrecisão e exatidão são termos apenas são termos apenas qualitativosqualitativos. Não . Não

podem ser associados a números.podem ser associados a números. PrecisãoPrecisão significa significa pouca dispersãopouca dispersão. .

Está associado ao baixo nível de erros Está associado ao baixo nível de erros aleatórios.aleatórios.

ExatidãoExatidão é sinônimo de “ é sinônimo de “sem errossem erros”. ”. Um sistema de medição com grande Um sistema de medição com grande exatidão apresenta pequenos erros exatidão apresenta pequenos erros sistemáticos e aleatórios.sistemáticos e aleatórios.

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4.44.4Representação absoluta e Representação absoluta e

relativarelativa

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 28/42)

Representação absolutaRepresentação absoluta Parâmetros expressos na unidade do Parâmetros expressos na unidade do

mensurando:mensurando: EEmáxmáx = 0,003 V = 0,003 V Re = 1,5 KRe = 1,5 K Sb = 0,040 mm/NSb = 0,040 mm/N

É de percepção mais fácil.É de percepção mais fácil.

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 29/42)

Parâmetro é expresso como um Parâmetro é expresso como um percentual de um valor de referênciapercentual de um valor de referência Em relação ao valor final de escala (VFE)Em relação ao valor final de escala (VFE)

EEmáxmáx = 1% do VFE = 1% do VFE EL = 0,1% (do VFE)EL = 0,1% (do VFE)

Em relação à faixa de indicaçãoEm relação à faixa de indicação Em relação ao valor nominal (medidas Em relação ao valor nominal (medidas

materializadas)materializadas) Facilita comparações entre SM distintosFacilita comparações entre SM distintos

Representação relativa ou Representação relativa ou fiducialfiducial