IFPE CAMPUS RECIFENOME DA DISCIPLINA
Prof. [NOME DO PROFESSOR]RELATRIO DA AULA PRTICA N [XX][TTULO DA
PRTICA]Este relatrio de aula prtica pr-requisito parcial para
aprovao na disciplina [NOME DA DISCIPLINA]. [NOME(S) DO(S)
AUTOR(ES)][LOCAL, DATA].1. INTRODUOEmbasamento terico do
experimento. A literatura consultada, apresentando-se uma reviso do
assunto. Normalmente, as referncias bibliogrficas so feitas por
nmeros entre parnteses no texto (ao final da frase ou pargrafo) e
listadas no final do relatrio. Lembrar que a introduo no uma cpia
da literatura. No copie os textos consultados. A introduo deve
conter entre 02 e 05 pargrafos.
2. METODOLOGIADescrio detalhada do experimento realizado, dos
mtodos analticos e tcnicas empregadas, bem como descrio dos
instrumentos utilizados. Este item precisa conter elementos
suficientes para que qualquer pessoa possa ler e reproduzir o
experimento EM laboratrio. Desenhos e diagramas SO IMPORTANTES PARA
UMA DESCRIO CLARA E OBJETIVA. (No deve incluir discusso de
resultados, QUE SERO TRATADOS NO TEM SEGUINTE).3. RESULTADOSEsta a
parte principal do relatrio, onde sero mostrados todos os
resultados obtidos, que podem ser numricos ou no. Dever ser feita
uma anlise dos resultados obtidos, com as observaes e comentrios
pertinentes.
Em um relatrio desse tipo espera-se que o aluno discuta os
resultados em termos dos fundamentos estabelecidos na introduo, mas
tambm que os resultados inesperados e observaes sejam relatados,
procurando uma justificativa plausvel para o fato. Em textos
cientficos, tabelas, grficos e figuras so usados para melhor
esclarecimento do assunto abordado.
4. CONCLUSES
Sntese pessoal (do grupo) sobre as concluses alcanadas com o
trabalho. No deve apresentar nenhuma concluso que no seja fruto de
discusso do grupo.
5. REFERNCIAS
Livros, artigos e endereos eletrnicos utilizados como fonte de
consulta para escrever o relatrio. DEVE SEGUIR A NORMA PADRO PARA
REFERNCIAS.(vide exemplo abaixo).[1] K. J. Olejniczak and G. T.
Heydt. Special Section on the Hartley Transform. Proceedings of
the IEEE, 82:372447, Mar 1994.1
