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    Captulo 5 - Deposio de xidose Nitretos CVD

    Ioshiaki DoiFEEC/UNICAMP

    Deposio de SiO2e Si3N

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    IE726 Processos de Filmes Finos

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    1. Isolao entre multinveis de metal

    2. Mscara contra difuso ou I/I

    3. Dieltrico de porta

    4. umentar o !"ido de campo

    #. $onte de %etterin%

    &. $onte de dopantes

    '. (assivao final do dispositivo

    )Deposio de xido deDeposio de xido de

    SilcioSilcio Aplicaes

    Deposio de SiO2e Si3N

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    )Propriedades doPropriedades doSiOSiO22 alta rigidez mecnica;

    oa ades!o com as camadas em "#e s!o de$ositadas; alta resist%ncia el&trica; alta tens!o de r#$t#ra el&trica; im$ermeailidade ' #midade e metais alkalinos;

    alta estailidade "#(mica e t&rmica)

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    a! Deposies em "ai#as $empera$%ras &3''(4)'

    *!

    Si+4, O2 &,N2! SiO2, 2+2

    reatores APC*D+ ,PC*D e PEC*D

    -antagem. aia tem$erat#ra

    des-antagem. coert#ra de degra# $ore

    adi0!o de P12$rod#z #m 34s3orosilicato 5P678 e9:1#m orosilicato 59678

    o 4ido $rod#zido a aia tem$erat#ra a$resenta #ma

    densidade menor "#e o 4ido t&rmico

    )Mtodos de DeposioMtodos de Deposio

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    ) PECVD, T !""PECVD, T !""

    C,C,com decomposio de *+,-com decomposio de *+,-

    Si&O*2+)!4 SiO2, s%"(prod%$os da reao

    PE*-D. 2''(4'' *+rea0!o de silana com 4ido nitroso etetracloreto de sil(cio com oig%nio.

    Si+4, 2N2O SiO2, 2N2, 2+2

    Si*l4, O2SiO2, 2*l2

    Incor$ora0!o de 1 5

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    reatores,PC*D$ela decom$osi0!o de tetraetil=ortosilicato 5EB68

    Si&O*2+)!4 SiO2, s%"(prod%$os da reao

    -an$a/ens#ni3ormidade ecelente+ coert#ra de degra#

    con3orme+ oas $ro$riedades do 3ilme) Des0an$a/ensalta tem$erat#ra+ 3onte l("#ida+ di3(cil

    controle

    0 Deposio em temperatura mdia0 Deposio em temperatura mdia &6)'(7)'

    *!

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    reatores ,PC*D+rea0!o de diclorosilana com4ido nitroso)

    Si+2*l2, 2N2O

    SiO2, 2N2, 2+*l

    -an$a/em#ni3ormidade e coert#ra de degra# ecelente

    E@ do 6iB:t&rmico)

    Des0an$a/em= alta tem$erat#ra

    = 4ido cont&m 1Cl $ode reagirc/6i=$oli+ ca#sar rachad#ra do

    3ilme)

    c0 Deposio em temperaturas altasc0 Deposio em temperaturas altas & 1''*!

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    Do$agem com F4s3oro 5P8 P67

    Dopa/em P+3. As+3. 2+6e o%$ros

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    Dopa#e$ co$ %oro &%' - %S(

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    )Dopa#e$ co$ %oro e )*s+oro - %PS(Dopa#e$ co$ %oro e )*s+oro - %PS(

    mesmas 3ontes de do$antes anteriores

    concentra0Hes. 9P67 t($ico cont&m= t? de P e 9mant&m $ro$riedades do P67 5stress

    e E@8

    @e3lo do 9P67 . J> = G>C

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    )oncentrao de Dopantes alores *picosoncentrao de Dopantes alores *picos

    a8 = como 3onte de do$antes. a

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    )eflo5eflo5

    Flo de$ende de.

    a8 tem$o de recozimento;

    8 tem$erat#ra de recozimento;c8 taa de a"#ecimento;

    d8 concentra0!o de P; e

    e8 amiente de recozimento 5-a$or& melhor8

    '' 5$P 22 5$P

    46 5$P 72 5$P

    SE de amos$ra reco8idaem 0apor a 99''*. 2' min

    O#anto maior a concentra0!o

    de P+ melhor o re3lo) Menor o ng#lo de re3lo+ +

    melhor a $lanariza0!o das#$er3(cie)

    @e3lo & melhor em amientede -a$or e alta tem$erat#ra)

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    )Coertura e$ De#rau StepCoertura e$ De#rau Step

    Co.era#eCo.era#e

    S$ep co0era/e mede a hailidade de de$ositar3ilmes sore $aredes laterais e no 3#ndo de #matrincheira $ro3#nda o# -ias)

    A 3ig#ra acima de3ine os $armetros da coert#raem degra# e a con3ormalidade)

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    B ng#lo de incid%ncia e amoilidade s#$er3icial do

    $erc#rsor determina a coert#raem degra#)

    A 9

    C

    ng#lo maior 598+ maior "#antidade de tomos e

    mol&c#las $erc#rsores) 6e reagir imediatamente+ sem migra0!o s#$er3ical+

    canto 9+ /8 mais de$osi0!o "#e A eem C+ metade 5G>/8 da de$osi0!o de A)

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    )Exe$plos de Step Co.era#eExe$plos de Step Co.era#e

    a8 Coert#ra $ore de-ido a$o#ca o# nenh#ma moilidadedo material de$ositado sore as#$er3(cie)

    8 Coert#ra melhor mas $aredes

    laterais 3inas e mais de$osi0!onos cantos)

    c8 Il#stra o $rocesso de ecelentecoert#ra em degra#)

    @ela0!o da ste$ co-erage com

    $ress!o e moilidade s#$er3icial

    Alta moilidade s#$er3icaldo $erc#rsor+ melhorcoert#ra em degra# emelhor con3ormalidade)

    o% PE*-D

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    ))or$ao de %uraco)or$ao de %uraco

    @egi!o de maior de$osi0!o $rod#zsali%ncias "#e com o a#mento daess$es#ra do 3ilme+ 3echa o ga$

    3ormando o #raco) Bs #racos cont&m gases selados e

    $odem di3#ndir $ara os CIs e $odemca#sar $rolemas em $rocessos$osteriores o# d#rante a o$era0!o do

    chi$ em #m sistema eletrnico)

    @e"#er dos $rocessos C*D o $reenchimentodo ga$ li-re de #racos $ara asseg#ra a

    con3iailidade dos chi$s de CIs)

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    passi0ao de disposi$i0os

    m:scara para o#idaes sele$i0as &;O*OS!

    diel%so de s@dio e am"ien$e

    m:scara con$ra II e e$cBin/

    ) Deposio de Nitretos deDeposio de Nitretos de

    Silcio &SiSilcio &Si//NN!!''Aplicaes

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    )Co$parao SiCo$parao Si//NN!!.ersus SiO.ersus SiO22

    alto om $ara ca$acitor;

    melhor arreira contra di3#s!o om $araenca$s#lamento)

    "! SiO2

    aio om $ara isolanteentre n(-eis de metaliza0!o)

    a! Si3N4

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    )01todos de Deposio01todos de Deposio

    a8 @eatores APC*D+ Q J>> a G>> C

    8 @eatores ,PC*D+ Q J>> a K>> C

    3Si+4, 4N+3Si3N4, 92+2

    3Si*l2+2, 4N+3Si3N4, 6+*l , 6+2

    Fal$a de N+3>ilme rico em Si

    %sar N+3em e#cesso

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    c! Por rea$ores PE*-D. C 2'' a 4'' *

    3Si+4, N+3&o% N2! Si#N+8, #+2

    @e"#er N12em ecesso+ $ois n!o

    decom$He ra$idamente como a silana

    aa de De$osi0!o . > >> R/min)

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    ) Caractersticas do Processo eCaractersticas do Processo edos +il$es PECVDdos +il$es PECVD

    o 3ilme n!o & este"#iom&trico com 6i/N >)K

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    *antagem .tem$erat#ra aia

    Des-antagens .

    Controle de com$osi0!o $ore 53ilmen!o este"#iom&trico8

    ,iga0Hes n!o #ni3ormes no 3ilme;

    Incor$ora0!o de tomos n!o deseTados)Pro$riedades el&tricas+ mecnicas e

    "#(micas -ari-eis)

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    )Pi3oles 4Pi3oles 4 & #m de3eito com#m)

    = s!o 3#ros com diametro L < m) origem.$art(c#las $resentes na s#$er3(cie;

    = $art(c#las geradas d#rante a de$osi0!o) contagem .3azer re-ela0!o $or sol#0!o "#e ataca

    o s#strato e n!o o 3ilme)

    Par?me$ros do processo

    ( Presso

    ( $empera$%ra

    ( >re%Gncia e po$Gncia do HF

    ( >l%#os de /ases

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    )Caractersticas4Caractersticas4)ta"a de deposio6

    )este7uiometria6

    )incorporao de 8 9:06

    )impure;as6

    )densidade6

    )stress.

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    ) Nitreto PECVD diceNitreto PECVD dicede 6e+rao x Taxade 6e+rao x TaxaSi7Si7!!8N8N22

    DeseTa=se n Q :)>

    a#a de deposio #a#a de deposio #

    Po$Gncia HFPo$Gncia HF

    D@ a#menta com $ot%ncia @F

    D@ a#menta com concentra0!o

    de 6i1

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    ) Nitreto PECVD TaxaNitreto PECVD Taxade Deposio e dicede Deposio e dicede 6e+rao x Pressode 6e+rao x Presso

    Ni$re$o PE*-D a#a deDeposio e ndice deHe>rao # empera$%ra

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    ) aracterstica do filme de nitreto em funo daaracterstica do filme de nitreto em funo da

    concentrao de

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    ) Caracterstica do +il$e deCaracterstica do +il$e deitreto e$ +uo daitreto e$ +uo date$peratura de deposiote$peratura de deposio

    Ponto $ara Q J>>C+corres$onde a C*Dt&rmico sem $lasma)

    Densidade a#menta com ;?1 dimin#i com a#mento de )

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    a$erial Hea/en$es >=>>2>>=>>

    2>>=>>2>>=>>

    P67P67

    9P679P67

    Ni$re$o de Sil=cio 6i1X N1

    2

    6iCl:1

    :X N1

    2

    6i1

    X N12

    6i1X N

    :

    ,PC*D,PC*DPEC*D

    PEC*D

    J>>=G>>>=J>:>>=2>

    :>>=2>5

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    )efer=nciasefer=ncias

    )

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