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Curso de Introdução à Instrumentação em Engenharia Módulo Básico Instituto de Pesquisas Tecnológicas do Estado de São Paulo – IPT Divisão de engenharia Mecânica Divisão de Tecnologia de Transportes Divisão de engenharia Civil Mário Gongora Rubio São Paulo, 2000

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  • Curso de Introduo Instrumentao em Engenharia

    Mdulo Bsico

    Instituto de Pesquisas Tecnolgicas do Estado de So Paulo IPT

    Diviso de engenharia Mecnica Diviso de Tecnologia de Transportes

    Diviso de engenharia Civil

    Mrio Gongora Rubio

    So Paulo, 2000

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    SUMRIO

    1. FUNDAMENTOS TERICOS DA INSTRUMENTAO ELETRNICA....................... 9

    1.1. SISTEMAS DE MEDIDAS 9 1.1.1. O QUE INFORMAO.......................................................................................................... 9 1.1.2. O QUE MEDIO .............................................................................................................. 10 1.1.3. TIPOS DE MEDIDAS ............................................................................................................. 10 1.1.4. SINAIS................................................................................................................................. 13 1.1.4.1. Series temporais analgicas ......................................................................................... 13 1.1.4.2. Sinais peridicos.......................................................................................................... 14 1.1.4.3. Sinais amostrados ........................................................................................................ 14 1.1.4.4. Sinais estocsticos ....................................................................................................... 15 1.1.5. SISTEMA GERAL DE MEDIDA............................................................................................... 15 1.1.6. MODELOS E DIAGRAMAS DE BLOCOS ................................................................................. 16 1.1.7. FUNO DE TRANSFERNCIA ............................................................................................. 17

    2. ASPECTOS GERAIS EM INSTRUMENTAO ................................................................ 18

    2.1. REA DE APLICAO 18 2.2. ASPECTOS BSICO DE DESEMPENHO 18 2.2.1. PRECISO, EXATIDO E INCERTEZA E CARACTERSTICAS ESTTICAS ............................... 18 2.2.2. VELOCIDADE E CARACTERSTICAS DINMICAS ................................................................. 18 2.2.3. CAPACIDADE ...................................................................................................................... 18 2.3. ASPECTOS OPERACIONAIS 18 2.3.1. CARACTERSTICAS FSICAS BSICAS.................................................................................. 18 2.3.2. CONFIABILIDADE................................................................................................................ 18 2.3.3. MANUTENO.................................................................................................................... 18 2.4. ASPECTOS FSICOS 18 2.4.1. INTERFACE ELTRICA ........................................................................................................ 18 2.4.2. INTERFACE MECNICA ....................................................................................................... 19 2.4.3. INTERFACE TRMICA.......................................................................................................... 19 2.5. ASPECTOS ECONMICOS 19 2.6. ASPECTOS ERGONMICOS 19 2.6.1. MOSTRADORES................................................................................................................... 19 2.6.2. CONTROLES ........................................................................................................................ 19 2.6.3. JANELA AUDITIVA E VISUAL............................................................................................... 19 2.7. TESTES DE QUALIFICAO PARA INSTRUMENTOS E SENSORES 20

    3. ESPECIFICAO TCNICA DE UM INSTRUMENTO................................................... 21

    3.1. CARACTERSTICAS ESTTICAS DOS INSTRUMENTOS 21 3.1.1. SENSIBILIDADE................................................................................................................... 21 3.1.2. GANHO ............................................................................................................................... 21 3.1.3. EXATIDO .......................................................................................................................... 21 3.1.4. PRECISO ........................................................................................................................... 21 3.1.5. LINEARIDADE ..................................................................................................................... 22 3.1.6. AJUSTE DE DADOS EXPERIMENTAIS PELO MTODO DOS MNIMOS QUADRADOS................ 22 3.1.7. OFFSET ............................................................................................................................... 23 3.1.8. DRIFT OU DERIVA DO ZERO ................................................................................................ 23 3.1.9. REPETIBILIDADE................................................................................................................. 23 3.1.10. HISTERESE ........................................................................................................................ 23

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    3.1.11. RESOLUO...................................................................................................................... 24 3.1.12. BANDA DE ERRO ESTTICA .............................................................................................. 24 3.1.13. CONCEITO DE INCERTEZA................................................................................................. 24 3.2. CARACTERSTICAS DINMICAS DOS INSTRUMENTOS 24 3.2.1. CONSTANTE DE TEMPO....................................................................................................... 24 3.2.2. RESPOSTA EM FREQUNCIA (LARGURA DE BANDA) .......................................................... 25 3.2.3. FREQUNCIA NATURAL ...................................................................................................... 25 3.2.4. RAZO DE AMORTECIMENTO ............................................................................................. 25 3.2.5. FUNES DE TRANSFERNCIA DE SUB-SISTEMAS .............................................................. 26 3.2.6. SISTEMA DE ORDEM ZERO .................................................................................................. 26 3.2.7. SISTEMA DE PRIMEIRA ORDEM ........................................................................................... 26 3.2.8. SISTEMA DE SEGUNDA ORDEM .......................................................................................... 27 3.3. EFEITOS DE CARGA 29 3.3.1. CARREGAMENTO ................................................................................................................ 29 3.3.2. CARREGAMENTO ELTRICO ............................................................................................... 30 3.3.3. CARREGAMENTO DE UM VOLTMETRO .............................................................................. 30 3.3.4. CARREGAMENTO DE UM POTENCIMETRO ........................................................................ 31 3.3.5. CARREGAMENTO DE UMA PONTE DE WHEATSTONE .......................................................... 31 3.3.6. CARREGAMENTO DE ELEMENTOS EM UM SISTEMA DE MEDIDA ......................................... 32 3.4. RUDO 33 3.4.1. FONTES DE INTERFERNCIA ............................................................................................... 33 3.4.2. TIPOS DE INTERFERNCIA................................................................................................... 33 3.4.3. FORMAS DE REDUO DA INTERFERNCIA........................................................................ 33 3.4.4. RUDO ALEATRIO ............................................................................................................. 34 3.4.5. REJEIO DE RUDO ........................................................................................................... 35 3.4.6. RELAO SINAL - RUDO.................................................................................................... 35 3.5. ERROS 35 3.5.1. FONTES DE ERRO ................................................................................................................ 36 3.5.2. ESTATSTICA DE ERRO........................................................................................................ 36 3.5.3. ERRO PROVVEL ................................................................................................................ 38 3.5.4. ADIO DE ERROS .............................................................................................................. 38 3.5.5. EXATIDO DE UM SISTEMA ................................................................................................ 39 3.6. CONFIABILIDADE EM INSTRUMENTOS 39 3.6.1. FALHAS (MTBF) ................................................................................................................ 40 3.6.2. DISPONIBILIDADE............................................................................................................... 40 3.6.3. CURVA DA BANHEIRA ........................................................................................................ 40 3.6.4. PROJETO DE SISTEMAS COM ALTA CONFIABILIDADE ......................................................... 41 3.6.5. REDUNDNCIA ................................................................................................................... 41 3.6.6. TIPOS DE REDUNDNCIA EM INSTRUMENTOS..................................................................... 42 3.6.6.1. Redundncia paralela................................................................................................... 42 3.6.6.2. Redundncia Stand-by ............................................................................................. 42 3.6.6.3. Redundncia por voto majoritrio .............................................................................. 42

    4. PRINCPIOS BSICOS DE TRANSDUO....................................................................... 44

    4.1. ESTRUTURAS BSICAS DE TRANSDUO 44 4.1.1. ESTRUTURA SERIE .............................................................................................................. 45 4.1.2. ESTRUTURA DIFERENCIAL.................................................................................................. 45 4.1.3. ESTRUTURA DE RAZO....................................................................................................... 46 4.1.4. ESTRUTURA DE SERVO TRANSDUO ................................................................................ 47

    5. ELEMENTOS BSICOS DE SENSORIAMENTO.............................................................. 48

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    5.1. DOMNIOS DE ENERGIA 48 5.2. CONVERSO NOS DIVERSOS DOMNIOS DE ENERGIA 49 5.3. TIPOS DE TRANSDUTORES 51 5.3.1. TRANSDUTORES AUTO-GERADORES OU ATIVOS................................................................ 51 5.3.2. TRANSDUTORES MODULADOS OU PASSIVOS ..................................................................... 51 5.3.3. TRANSDUTORES INVASIVOS............................................................................................... 51 5.3.4. TRANSDUTORES INTRUSIVOS ............................................................................................. 51 5.4. ELEMENTOS DE CONTATO 52 5.5. ELEMENTOS RESISTVOS 52 5.5.1. ELEMENTOS RESISTIVOS DE JUNO.................................................................................. 52 5.5.2. POTENCIMETROS.............................................................................................................. 53 5.6. TERMO-RESISTORES 55 5.6.1. RESISTNCIAS METLICAS ................................................................................................. 55 5.6.2. TERMISTORES..................................................................................................................... 56 5.7. PIEZORESISTORES E STRAIN GAGES 58 5.8. ELEMENTOS COM ELETRODOS 60 5.8.1. MEDIDA DE POTENCIAIS (PH)............................................................................................. 61 5.8.2. CONDUTIVIDADE EM SOLUES ......................................................................................... 62 5.9. ELEMENTOS CAPACITIVOS 62 5.9.1. ESTRUTURAS USADAS PARA SENSORES CAPACITIVOS ....................................................... 62 5.10. ELEMENTOS INDUTIVOS 63 5.10.1. ESTRUTURAS USADAS PARA SENSORES INDUTIVOS ......................................................... 64 5.10.2. TACO-GERADOR DE RELUTNCIA VARIVEL ................................................................... 65 5.11. ELEMENTOS COM TRANSFORMADORES (LVDT) 65 5.12. ELEMENTOS ELETRODINMICOS 66 5.12.1. BOBINA MVEL ................................................................................................................ 66 5.13. ELEMENTOS RESSONANTES 67 5.13.1. CORDAS VIBRATRIAS ..................................................................................................... 67 5.13.2. ESTRUTURAS VIBRATRIAS.............................................................................................. 68 5.14. ELEMENTOS PIEZOELTRICOS 69 5.15. ELEMENTOS TERMOELTRICOS 70 5.15.1. TERMOPARES.................................................................................................................... 70 5.16. ELEMENTOS PTICOS E FOTOSENSVEIS 72 5.16.1. CLULAS FOTOCONDUTORAS ........................................................................................... 72 5.16.2. FOTOACOPLADORES ......................................................................................................... 72 5.16.3. FIBRAS TICAS ................................................................................................................. 73 5.16.3.1. Dispositivos de obturador .......................................................................................... 74 5.16.3.2. Deteco de intensidade modulao .......................................................................... 74 5.16.3.3. Deteco de fase modulada........................................................................................ 75 5.16.3.4. Deteco polarizao modulada ................................................................................ 75 5.16.3.5. Deteco de frequncia tica modulada..................................................................... 75 5.16.3.6. Deteco de modulao de cor .................................................................................. 75

    6. TRANSDUTORES UTILIZADOS PARA MEDIDAS EM ENGENHARIA...................... 76

    6.1. MEDIDAS MECNICAS 77 6.1.1. MEDIDAS DE FORA E PESO ............................................................................................... 77 6.1.1.1. Balana de braos iguais:............................................................................................. 78 6.1.1.2. Balanceamento de molas: ............................................................................................ 78 6.1.1.3. Balanceamento de foras: ............................................................................................ 79 6.1.2. MEDIDAS DE ACELERAO ................................................................................................ 80 6.1.2.1. Medida de acelerao medindo deformaes de um corpo ......................................... 80 6.1.3. MEDIDAS DE PRESSO........................................................................................................ 81 6.1.3.1. Manmetro tipo U........................................................................................................ 82

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    6.1.3.2. Transdutor de Presso usando Elementos Elsticos Primrios.................................... 83 6.1.4. MEDIDAS DE DESLOCAMENTO............................................................................................ 85 6.1.4.1. Inductosyn : ................................................................................................................. 85 6.1.4.2. Codificador ou "Encoder":........................................................................................... 86 6.1.5. MEDIDAS DE DENSIDADE.................................................................................................... 87 6.1.6. MEDIDAS DE NVEL ............................................................................................................ 87 6.1.6.1. Medida de Nvel usando Ultra-Som ............................................................................ 88 6.1.7. MEDIDAS DE VAZO........................................................................................................... 89 6.1.7.1. Placa de Orifcio: ......................................................................................................... 90 6.1.7.2. Pitot:............................................................................................................................. 90 6.1.7.3. Rotmetro: ................................................................................................................... 91 6.2. MEDIDAS TRMICAS 92 6.2.1. MEDIDAS DE TEMPERATURA .............................................................................................. 92 6.2.1.1. Lminas bimetlicas: ................................................................................................... 92 6.2.1.2. Dispositivos semicondutores de juno:...................................................................... 93 6.3. MEDIDAS ELTRICAS 94 6.3.1. MEDIDAS DE TENSO, CORRENTE E POTNCIA .................................................................. 94 6.3.1.1. Medida de Tenso DC: ................................................................................................ 94 6.3.1.2. Medida de corrente DC................................................................................................ 95 6.3.1.3. Medida de tenso AC................................................................................................... 95 6.3.1.4. Multmetro Digital ....................................................................................................... 96 6.3.1.5. Medida de Potncia...................................................................................................... 96 6.3.2. MEDIDAS DE FREQUNCIA.................................................................................................. 97 6.4. MEDIDAS DE RADIAO LUMINOSA 98 6.4.1. FOTODIODOS ...................................................................................................................... 99 6.4.2. FOTODETETORES SENSITIVOS A POSIO......................................................................... 100 6.5. MEDIDAS QUMICAS 100 6.5.1. MEDIDAS ANALTICAS (TCNICAS DE VOLTAMETRIA).................................................... 101 6.5.2. MEDIDAS DE COMPOSIO QUMICA (ESPECTROSCPIO DE MASSA)............................... 101 6.6. MEDIDAS MAGNTICAS 102 6.6.1. MEDIDAS COM EFEITO HALL............................................................................................ 102

    7. ESTRUTURAS BSICAS DE CONDICIONAMENTO ANALGICO DE SINAIS PARA INSTRUMENTAO ...................................................................................................................... 103

    7.1. AMPLIFICADORES OPERACIONAIS 103 7.2. FONTES E REFERNCIAS 103 7.2.1. FONTES E REFERNCIAS DE TENSO................................................................................. 103 7.2.2. FONTES DE CORRENTE...................................................................................................... 105 7.3. PONTES 105 7.3.1. PONTE DE WHEATSTONE.................................................................................................. 105 7.4. AMPLIFICADORES 107 7.4.1. AMPLIFICADOR INVERSOR ............................................................................................... 107 7.4.2. AMPLIFICADOR NO INVERSOR....................................................................................... 107 7.4.3. AMPLIFICADOR DE INSTRUMENTAO ............................................................................ 108 7.4.4. AMPLIFICADOR DE CARGA ............................................................................................... 108 7.5. DEMODULAO SNCRONA A FASE (PSD) 109 7.6. CONVERSORES 112 7.6.1. CONVERSOR TENSO/CORRENTE .................................................................................... 112 7.6.2. CONVERSOR AC/DC ........................................................................................................ 113 7.6.3. CONVERSOR RMS ............................................................................................................ 113 7.6.4. CONVERSOR TENSO/FREQUNCIA ................................................................................. 114 7.6.5. CONVERSOR FREQUNCIA/TENSO.................................................................................. 115 7.7. FILTROS ANALGICOS 115

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    7.7.1. FILTRO PASSA BAIXA....................................................................................................... 115 7.7.2. FILTRO PASSA ALTA ........................................................................................................ 116 7.8. GERADORES DE SINAL 116 7.8.1. ONDA SENOIDAL (PONTE DE WIEN)................................................................................. 116 7.8.2. ONDA QUADRADA (555)................................................................................................... 117 7.9. CIRCUITOS DE LINEARIZAO 118 7.9.1. LINEARIZAO USANDO UM CONVERSOR LOGARTMICO ................................................ 118 7.9.2. LINEARIZAO USANDO UM MULTIPLICADOR ANALGICO............................................. 119 7.10. OUTROS ELEMENTOS PARA PROCESSAMENTO ANALGICO DE SINAIS 120 7.10.1. SOMADORES ................................................................................................................... 120 7.11. TCNICAS DE REDUO DE RUDO EM INSTRUMENTAO 121 7.11.1. TIPOS DE ACOPLAMENTO................................................................................................ 121 7.11.1.1. Acoplamento capacitivo........................................................................................... 121 7.11.1.2. Acoplamento indutivo.............................................................................................. 121 7.11.2. CONEXES DE ATERRAMENTO ....................................................................................... 122 7.11.3. CONEXO DE CABOS BLINDADOS .................................................................................. 123

    8. CIRCUITOS DIGITAIS PARA AQUISIO DE DADOS E CONTROLE EM INSTRUMENTAO ...................................................................................................................... 125

    8.1. CONTADORES 125 8.2. PORTAS DE E/S DIGITAIS 126 8.3. COMPARADORES E CHAVES ANALGICAS 127 8.3.1. COMPARADORES .............................................................................................................. 127 8.3.2. CHAVES ANALGICAS ...................................................................................................... 127 8.4. CIRCUITOS SAMPLE/HOLD 128 8.5. MULTIPLEXADORES ANALGICOS 129 8.6. CONVERSORES D/A 130 8.6.1. CONVERSOR A/D COM REDE RESISTVA PONDERADA...................................................... 130 8.6.2. CONVERSOR D/A TIPO REDE R-2R................................................................................... 131 8.7. CONVERSORES A/D 131 8.7.1. CONVERSORES A/D TIPO FLASH ...................................................................................... 131 8.7.2. CONVERSOR A/D POR APROXIMAES SUCESSIVAS ....................................................... 132 8.8. SISTEMAS DE AQUISIO DE DADOS 133 8.9. SISTEMAS DE AQUISIO DE DADOS USANDO REDE ETHERNET 135

    9. TCNICAS DE TRANSMISSO DE DADOS PARA INSTRUMENTAO................ 135

    TCNICAS ANALGICAS DE TENSO E CORRENTE, 135 TCNICAS ANALGICAS POR TRANSMISSO DE FREQUNCIA E DIVERSAS MODULAES 135 TCNICAS DIGITAIS PARALELAS E SERIAIS 135 BARRAMENTOS PARA INSTRUMENTAO 135 TCNICAS DE RDIO-TELEMETRIA ANALGICA E DIGITAL 135

    10. SISTEMAS COMPUTADORIZADOS PARA INSTRUMENTAO............................. 136

    SISTEMA TPICO DE AQUISIO DE DADOS 136 SISTEMA IEE-488 136 SISTEMAS FIELD BUS 136 INSTRUMENTAO VIRTUAL 136 SISTEMAS ORIENTADOS INTERNET 136

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    11. MTODOS BSICOS DE TRATAMENTO DE DADOS E USO DE SOFTWARES COMERCIAIS PARA PROCESSAMENTO E APRESENTAO DE INFORMAES...... 136

    EXCEL 136 MATLAB 136 SCILAB 136 MAPLE 136

    12. BIBLIOGRAFIA..................................................................................................................... 137

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    Introduo Este curso pretende fornecer os conceitos bsicos para a prtica da Instrumentao Eletrnica em Engenharia, para isto apresenta-se de forma sucinta e simplificada dentro do possvel os termos e conceitos que na nossa opinio so relevantes para-se obter uma noo clara desta disciplina. A idia principal deste texto(ainda no est na forma de apostila) fornecer aos participantes do curso a informao bsica para poderem acompanhar o desenvolvimento dos conceitos apresentados em aula Este texto mostra os diversos conceitos tericos, alguns tipos de transdutores e mtodos de medida existentes, noes sobre condicionamento de sinais e processamento de informaes normalmente usados em Instrumentao Eletrnica.

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    1. Fundamentos tericos da Instrumentao eletrnica

    1.1. Sistemas de medidas Existe a necessidade do ser humano de obter informaes do meio ambiente, A partir destas informaes ser possvel modelar os fenmenos observados,

    Em engenharia a maioria das informaes so obtidas de forma experimental. Na Figura 1 apresenta-se um sistema generalizado de Pesquisa Experimental em Engenharia.

    Armazenamentoda

    Informao

    Atuao no

    Sistema

    SensoresIntrusivos/Invasivos

    Sistemasob

    estudo

    Sensoresno

    Intrusivos/Invasivos Condicionamento

    daInformao

    Transduo parauso humano

    Processamentode

    Sinais

    Realimentaopara

    Controle

    Caminho doConhecimentoExperimental,

    JulgamentoHumanoTeoria

    eModelagem

    Bases de Conhecimento

    Figura 1 Sistema generalizado de Pesquisa Experimental em Engenharia

    1.1.1. O que informao Informao aquilo que gera um significado na mente humana modificando nosso

    conhecimento. O termo informao tem dois usos principais: Em linguagem comum ela relaciona uma coleo de fatos, idias, entidades,

    conceitos e atributos que definem um sujeito ou objeto. (Ex. Enciclopdia). Em teoria de informao se refere quantidade transferida numa mensagem

    passando por um canal de comunicao. Em Instrumentao aplicam-se os dois conceitos j que nos sistemas de medidas

    deve-se mapear a varivel ( isto codificar a medida) e ainda transmiti-la atravs de um canal de comunicao.

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    Nas cincias naturais a informao pode ser quantificada , definido-se a menor quantidade de informao (Ex. bit), ela pode ser representada de diversas formas , mas sempre limitada a um certo tipo de portador de energia ou massa.

    Existem cinco diferentes tipos de portadores de energia: 1. Radiao 2. Energia eltrica ou magntica 3. Calor 4. Energia Qumica 5. Energia Mecnica.

    1.1.2. O que medio o processo emprico e objetivo de designao de nmeros a propriedades de

    objetos ou eventos do mundo real de forma a descreve-los. Outra forma de explicar este processo comparando a quantidade ou varivel

    desconhecida com um padro definido para este tipo de quantidade, implicando ento num certo tipo de escala, como mostrado pela Figura 2.

    1m 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10

    Figura 2 Representao de medio atravs de comparao

    1.1.3. Tipos de medidas Medida Nominal:

    Quando duas quantidades do mesmo tipo so comparadas para saber se so iguais (Ex. duas cores , acidez de dois lquidos)

    Medida Ordinal: Quando necessrio ter informao a tamanhos relativos (Ex. Classificao por peso e altura de uma turma))

    Medida em Intervalos: Quando deseja-se uma informao mais especifica, envolve-se ento uma certa escala, sem incluir pontos de referncia ou zero. (Ex. no caso anterior usar a escala de metros e quilogramas)

    Medidas Normalizadas: Define-se um ponto de referncia e realiza-se a razo, dividindo cada medida pelo valor de referncia, determinando as magnitudes relativas. (Ex. O maior valor obtido ser 1, quando foi escolhido como referncia o valor mximo medido).

    Medidas Cardinais: O ponto de referncia comparado com um padro definido. Assim todo parmetro fsico pode ser medido contra uma referncia padro, como o Sistema Internacional de medidas SI.

    Na Figura 3 representa o sistema internacional de unidades com as unidades bsicas e as derivadas.

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    Figura 3 Sistema Internacional de Unidades

    Na Tabela 1 a seguir apresentam-se as unidades legais do SI, agrupadas em unidades de: Espao e tempo Mecnica e acstica Temperatura e calor Eletricidade magnetismo e luz Radiatividade, radiaes ionizantes e fsica molecular

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    Tabela 1 Unidades legais do Sistema Internacional (S.I.)

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    1.1.4. Sinais Nenhuma informao pode ser carreada desde uma fonte a um receptor sem algum transporte de energia ou massa, esta informao, vem como uma mudana de estado ou modulao da portadora de energia ou massa, isto chamado de sinal. Sinais ento podem tomar a forma de variaes de parmetros, como presso , deflexo de um feixe de luz, deslocamentos mecnicos, etc. Quatro tipo de sinais podem ser identificadas:

    1.1.4.1. Series temporais analgicas Sinais cuja amplitude ou frequncia varia analgicamente no tempo, veja Figura 4.

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    Amplitude

    Tempo

    SinalAnalgico

    Sinal analgico de frequncia

    Amplitude

    Tempo

    Figura 4 Sinais temporais analgicos em amplitude e frequncia

    1.1.4.2. Sinais peridicos So sinais que podem transportar a informao atravs de uma modulao analgica da amplitude, frequncia ou fase da portadora, veja Figura 5.

    Sinal binaria Tempo

    Modulao em Amplitude Tempo

    Modulao em frequncia Tempo

    Modulao em Fase Tempo

    Mudanas de fase

    Figura 5 Sinais peridicos modulados em amplitude, frequncia e fase

    1.1.4.3. Sinais amostrados So sinais que possuem valores discretos eqidistantes no tempo, estes sinais podem ser multiplexados temporalmente podem realizar diversos tipos de modulao como:

    - PAM (Modulao por amplitude de pulso) - PWM (Modulao por largura de pulso) - PPM (Modulao pela posio do pulso) - PCM (Modulao por pulso codificado) - A/D (Converso analgica/Digital)

    Veja na Figura 6 e Figura 7 .

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    SinalAnalgico

    Amplitude

    Amostras Sucessivas

    Amplitude

    Sinal PAM

    Tempo

    Tempo

    Amplitude

    SinalAnalgico

    Amostras sucessivas

    Sinal PPM

    Tempo

    Tempo Figura 6 Sinais amostrados tipo PAM e PPM

    SinalAnalgico

    Amplitude

    Amostras Sucessivas

    Sinal PWM Tempo

    Tempo

    8Nveis

    SinalAnalgico

    SinalQuantizado

    Tempo

    PulsosQuantizados

    Tempo

    Valor Quantizado(em decimal)

    Valor Quantizado(em binario)

    Sinal binariaPCM

    Figura 7 Sinais amostrados tipo PWM, PCM e A/D

    1.1.4.4. Sinais estocsticos Neste caso o valor instantneo do sinal descrito por uma funo densidade de probabilidade em relao ao espao e tempo. (Ex. rudo branco)

    1.1.5. Sistema geral de medida Os sistemas de medidas apresentam geralmente trs elementos constituintes, mostrado na Figura 8:

    Elementos sensores Conversores de sinais Elementos mostradores ou atuadores

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    ElementoSensor

    MostradorConversorde sinais

    Processo

    Observador

    Figura 8 Forma geral de um sistema de medidas

    1.1.6. Modelos e diagramas de blocos Sistemas e instrumentos quando subdivididos, podem ser modelados de forma simples usando as equaes constitutivas dos sub-sistemas , analogias fsicas e diagramas de blocos para a sua representao veja Tabela 3. Na Tabela 2 a seguir verifica-se uma analogia entre as variveis mecnicas e eltricas

    Tabela 2 Analogia entre variveis mecnicas e eltricas

    Tabela 3 Smbolos para diagramas de blocos

    16

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    1.1.7. Funo de transferncia Em condies de estado estacionrio define-se funo de transferncia de um sistema como a razo entre o sinal de sada e o de entrada

    i

    oG =

    De acordo com o diagrama de blocos anterior para cada elemento constituinte do sistemas teremos uma funo de transferncia prpria, assim, veja Figura 9:

    1 2 G1Elemento

    Sensor

    G3Mostrador

    G2Conversorde sinais

    Figura 9 Funes de transferncia do sistema de medidas

    Desta forma teremos que as funes de transferncia do elemento sensor (G1), conversor de sinais (G2) e elemento mostrador (G3) sero:

    i

    G = 11 ;

    1

    22

    =G ; 2

    3 = oG

    A funo de transferncia do sistema pode-se escrever assim:

    21

    21

    =

    = oii

    oG

    Ou seja: 321 GGGG =Ento: Um sistema com blocos em serie apresenta uma funo de transferncia que o produto das funes de transferncia individuais dos blocos.

    17

  • 2. Aspectos Gerais em Instrumentao As caractersticas gerais de um instrumento se manifestam nas especificaes atravs dos seguintes aspectos:

    Aplicao Desempenho Operao Fsico Econmico

    2.1. rea de aplicao a rea tcnica para a qual o instrumento adequado, (Ex. Analise experimental de tenses, Qumica analtica ou foto - elasticidade).

    2.2. Aspectos bsico de desempenho

    2.2.1. Preciso, exatido e incerteza e caractersticas estticas So caractersticas estticas dos instrumentos, sero descritas adiante

    2.2.2. Velocidade e caractersticas dinmicas So caractersticas dinmicas dos instrumentos, sero descritas adiante

    2.2.3. Capacidade Limites fsicos tpicos e mximos de desempenho do instrumento

    2.3. Aspectos operacionais

    2.3.1. Caractersticas Fsicas bsicas As caractersticas fsicas de um instrumento devem incluir: Configurao fsica, dimensional, massa e volume Requerimentos de transporte e armazenamento Critrios de segurana e sade para o operador

    2.3.2. Confiabilidade Este aspecto trata da probabilidade de um instrumento fazer uma certa funo sob certas condies ou seja a probabilidade de no falhar em um certo tempo, parmetros com MTBF usualmente so fornecidos.

    2.3.3. Manuteno Caso o instrumento falhe qual a probabilidade que num certo intervalo de tempo o instrumento possa ser concertado

    2.4. Aspectos fsicos

    2.4.1. Interface Eltrica As caractersticas da interface eltrica de um instrumento devem incluir:

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    Potncia Comunicaes Compatibilidade electromagntica

    2.4.2. Interface mecnica As caractersticas da interface mecnica de um instrumento devem incluir: Caractersticas mecnicas tpicas do instrumento Mtodos de montagem do instrumento

    2.4.3. Interface Trmica As caractersticas da interface mecnica de um instrumento devem incluir: Necessidades do instrumento para remoo de calor Controle de temperatura interno ou externo

    2.5. Aspectos econmicos Dentre os aspectos econmicos a serem tomados em conta destacamos: Custo inicial Custo operacional Custo de instalao Peas de reposio

    2.6. Aspectos Ergonmicos A ergonomia tem como objetivos bsicos: Criar boas condies de trabalho Realizar uma interface Homem - Mquina adequada Apresentar informaes de forma a permitir sua correta interpretao Posicionar e implementar mecanismos de controle adequados ao ser humano

    2.6.1. Mostradores Os mostradores devem permitir: A apresentao de informao quantitativa A apresentao de informao qualitativa A apresentao de informaes de Status A apresentao de informaes de forma grfica A apresentao de informaes de forma alfanumrica ou simblica

    2.6.2. Controles Os controles devem permitir:

    A introduo de informaes quantitativas A introduo de informaes alfanumricas ou simblicas A introduo de controles de emergncia 2.6.3. Janela auditiva e visual

    O ser humano apresenta limitaes sensoriais que devem ser respeitadas, veja Figura 10:

    19

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    Viso

    380 720 nmResoluo 1-20 nm/cortimo 40-650 nmResoluo deintensidade luminosa100 cd/m2

    Audio20 20KHztimo de 300-6KHzIntensidade de 0-140dBtimo de 40-80 dBResoluo 3Hz/ 0.3%

    Figura 10 Limitao da viso e audio do ser humano.

    2.7. Testes de qualificao para instrumentos e sensores O objetivo de qualificar um instrumento ou sensor estabelecer sua adequao para uma particular aplicao. Estes testes incluem procedimentos de medida de caractersticas tpicas de : Calibrao esttica Calibrao dinmica Ambiente operacional Durabilidade Confiabilidade Alm destes testes outros procedimentos se fazem necessrios para garantir a abrangncia da qualificao: Exame visual Inspeo mecnica Testes para variaes na excitao Teste para verificar efeitos de warm-up Testes para rudos de contato Testes de sobre-excitao Testes para efeitos de posio

    20

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    3. Especificao tcnica de um instrumento

    3.1. Caractersticas estticas dos Instrumentos

    3.1.1. Sensibilidade A sensibilidade de um instrumento define-se como: A razo entre a mudana y na sada, causada por uma mudana x na entrada:

    xyS

    = A diferena com funo de transferncia que esta reflete tambm os aspectos dinmicos

    do instrumento.

    3.1.2. Ganho O ganho de um sistema ou instrumento define-se como a sada divida pela entrada

    EntradaSadaG =

    3.1.3. Exatido Qualidade da medio que assegura que a medida coincida com o valor real da grandeza considerada. O valor representativo deste parmetro o valor mdio. Quando o valor real ou correto conhecido, a exatido garante a rastreabilidade da medio. Isso significa que o valor pode passar de um laboratrio para outro, sempre mantendo a medida exata. Este parmetro expresso, em geral como porcentagens do fundo de escala

    3.1.4. Preciso Qualidade da medio que representa a disperso dos vrios resultados, correspondentes a repeties de medies quase iguais, em torno do valor central. usualmente associado ao erro padro. Este parmetro expresso, em geral como porcentagens do fundo de escala Na Figura 11 apresenta-se a relao entre preciso e exatido.

    Figura 11 Relao entre preciso e exatido

    21

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    3.1.5. Linearidade A linearidade de um instrumento indica a mxima aproximao da relao entrada sada, com uma determinada linha reta. Geralmente quantifica-se a no linearidade expressando-se como porcentagem do fundo de escala assim, veja Figura 12:

    100%max

    max

    =

    xxNL

    Reta ideal

    MedidaReal

    y

    xmax x

    Sada

    Entrada

    xmax

    Figura 12 No linearidade num sistema de medida

    3.1.6. Ajuste de dados experimentais pelo mtodo dos mnimos quadrados

    Este mtodo ajusta uma srie de valores medidos (y1,y2....yn) a uma reta que apresenta a seguinte forma:

    bxay i += com: y = varivel dependente (valores medidos) x = varivel independente (valores de entrada impostos) a = inclinao da curva b = intercepo da linha no eixo vertical O mtodo dos mnimos quadrados deseja minimizar a seguinte expresso:

    ( )[ ]=

    +=n

    iii bxayS

    1

    2

    Aps o processo de minimizao podem-se obter os valores ajustados de a e b.

    2

    11

    2

    11 1)(

    =

    ==

    == =n

    ii

    n

    ii

    n

    ii

    n

    i

    n

    iiii

    xxn

    xxyxna

    2

    11

    2

    111

    2

    1

    =

    ==

    ====n

    ii

    n

    ii

    n

    iii

    n

    ii

    n

    ii

    n

    ii

    xxn

    yxxxyb

    22

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    3.1.7. Offset Define-se como o desvio de zero do sinal de sada quando a entrada zero

    3.1.8. Drift ou deriva do zero Descreve a mudana da leitura em zero do instrumento com o tempo.

    3.1.9. Repetibilidade E a capacidade do instrumento de reproduzir as mesmas sadas, quando as mesmas entradas so aplicadas, na mesma seqncia e nas mesmas condies ambientais Este valor expresso como sendo o valor pico da diferena entre sadas, em referncia ao fundo de escala e em porcentagem, veja Figura 13. ( )

    100..

    __%

    =

    SFyydePicoValor

    daderepetibili ikij

    y

    100%

    x

    Sada

    Entrada

    yijyik

    Figura 13 Repetibilidade em sistemas de medida

    3.1.10. Histerese Quando um certo valor de entrada atingido, a primeira vez quando os valore de entrada esto aumentando, e a segunda vez quando eles esto diminuindo, a diferena das sadas chamada de histerese, a qual pode ter diversas causas fsicas. Calcula-se a este parmetro como sendo o valor pico da diferena das sadas, em referncia ao fundo de escala e em porcentagem, veja Figura 14. ( )

    100..

    __%

    =

    SFyydePicoValor

    histerese ii

    y

    x

    Sada

    Entrada

    ymax

    xmax

    yi

    yi

    Figura 14 Histerese em sistemas de medida

    23

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    3.1.11. Resoluo Define-se como o menor incremento de entrada o qual gera uma sada perceptvel e repetitiva, quantificando-se como porcentagem do fundo de escala ( )

    ( ) 100..___%

    =

    SFentradademnimoValorresoluo

    3.1.12. Banda de erro esttica Para levar em conta todos os efeitos que causam desvios em relao a um instrumento ideal, ou seja histerese, no- linearidade, repetibilidade, variaes com outros parmetros (Ex. Temperatura) define-se banda de erro esttica , onde os valores admissveis de erro esto dentro de uma faixa limitada por duas retas paralelas, onde os valores mais provveis so indicados por uma reta mediana esta faixa, veja Figura 15

    y

    x

    Sada

    Entrada

    Mximo valorAdmissvel

    Mnimo valorAdmissvel

    Melhor Reta

    Figura 15 Banda de erro esttico em sistemas de medida

    3.1.13. Conceito de incerteza Sabe-se que uma medio um processo no repetitivo, portanto o resultado no nico. Assim mesmo que se tomem todos os cuidados para diminuir os erros inerentes das medidas sempre existe a chamada incerteza ou tolerncia da medida. Define-se incerteza como uma faixa de valores que pode ser associada a um certo nvel de confiana e que deve ser calculada para cada mtodo experimental adotado. A incerteza deve ter sempre a mesma natureza que o valor bsico. Ex. 0,876 L 0,003 L

    3.2. Caractersticas dinmicas dos Instrumentos Alguns termos que caracterizam um sistema dinamicamente sero apresentados a seguir:

    3.2.1. Constante de tempo Quando um sistema submetido a uma entrada que apresenta uma variao abrupta (Ex. degrau), a sada toma um certo tempo para atingir seu valor final. A constante de tempo ( )de um sistema definida como o tempo que esse sistema toma para atingir 63,2 %do seu valor final, como mostrado na Figura 16.

    24

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    Degrauna entrada

    t

    Sada

    0 Entrada

    63,2%

    100%

    Respostado sistema

    Valorfinal

    Constantede Tempo

    Figura 16 Constante de tempo de sistema de primeira ordem para excitao degrau

    3.2.2. Resposta em frequncia (Largura de Banda) Quando o sinal aplicado a um instrumento apresenta uma variao com a frequncia, chama-se resposta em frequncia deste instrumento, a mudana da relao sada / entrada do instrumento, usualmente dado em dB (decibeis). Define-se tambm largura de banda (Bw) como a faixa de frequncia cuja relao (Sada/entrada) normalizada encontra-se entre 0 e 3 dB, veja Figura 17.

    32

    1log20log20 10max

    10 =

    =

    =

    valorvalordB

    db

    f(Hz)

    Sada/Entrada

    fc1 fc2 Entrada

    -3db

    0db

    Bw

    Figura 17 Resposta em frequncia de um sistema passa-banda e largura de banda

    3.2.3. Frequncia natural a frequncia de oscilao livre (n)do sistema em questo, um instrumento deve ser projetado para ter sua frequncia natural 5-10 vezes superior mxima frequncia de trabalho do instrumento.

    3.2.4. Razo de amortecimento a caracterstica de dissipao de energia () do sistema que junto com a frequncia natural determina o limite da resposta em frequncia do instrumento ou sistema.

    25

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    3.2.5. Funes de transferncia de sub-sistemas Em sistemas lineares as funes de transferncia podem ser classificadas de acordo com sua complexidade em sistemas de ordem (0,1,2..), em instrumentao para caracterizao da informao divide-se o sistema em sub-sistemas mais simples, especificando as funes de transferncia bsicas.

    3.2.6. Sistema de ordem zero por definio independente da frequncia, fornecendo uma sada proporcional entrada, veja Figura 18. Ex. Um potencimetro quando usado como transdutor de deslocamento angular, fornece a seguinte funo de transferncia:

    =180

    fVV

    Potencimetro

    +

    Vf Vo

    Vf

    Sada

    Entrada

    180

    0

    Vo

    Figura 18 Sistema de ordem zero e sua caracterstica de transferncia

    3.2.7. Sistema de primeira ordem Estes sistemas geralmente contm um elemento que armazena energia e se comporta de acordo com a seguinte expresso

    ( ) ( ) jkjF += 1

    Sendo: = Constante de tempo do sistema, k = Constante de ganho, = 2f A resposta em frequncia deste sistema ser: Amplitude:

    ( ) ( )221|| += kjF Fase ( ) = 1tg Graficamente est apresentado na Figura 19 e Figura 20:

    26

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    Figura 19 Resposta em frequncia de um sistema de primeira ordem (Amplitude)

    Figura 20 Resposta em frequncia de um sistema de primeira ordem (Fase) Como exemplo de um sistema de primeira ordem, apresentamos o termmetro a lcool e sua resposta a um degrau de temperatura, veja Figura 21:

    T1

    T1

    T

    T2 T2

    T-T1= Tind

    T2>T1

    t

    Sada

    2 3 4 EntradaT1

    2

    ind

    Figura 21 Sistema de primeira ordem e sua resposta degrau

    3.2.8. Sistema de Segunda Ordem Este o sistema de maior ocorrncia nas cincias experimentais, j que muitos sistemas podem ser aproximados a um sistema de segunda ordem.

    27

  • IPT Curso de Instrumentao

    A funo de transferncia deste sistema est dada por:

    ( )12

    2

    +

    +

    =

    nn

    jjkjF

    A resposta em frequncia deste sistema ser: Amplitude:

    ( )222

    21

    ||

    +

    =

    nn

    j

    kjF

    Fase

    =

    n

    n

    tg 21

    Graficamente est mostrado na Figura 22e Figura 23:

    Figura 22 Resposta em frequncia de um sistema de Segunda ordem (Amplitude)

    28

  • IPT Curso de Instrumentao

    Figura 23 Resposta em frequncia de um sistema de Segunda ordem (Fase) A resposta a excitao degrau est apresentada na Figura 24

    Figura 24 Resposta a degrau de um sistema de segunda ordem

    3.3. Efeitos de carga

    3.3.1. Carregamento Entende-se como carregamento a modificao introduzida na medida, pelo instrumento ou sistema no ato da medio, isto acontece em todos os instrumentos em maior ou menor magnitude. Da mesma forma quando se conectam entre si sub-sistemas, o sub-sistema precedente modifica suas caractersticas devido ao carregamento.

    29

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    3.3.2. Carregamento eltrico Em eletricidade utiliza-se o chamado teorema de Thevenin que afirma: Todo circuito eltrico que apresenta dois terminais A - B, no qual uma carga eltrica pode ser colocada, comporta-se como se o circuito tive-se uma fonte (Eth) em serie com uma impedncia (Zth), onde a fonte (Eth) representa a diferena de potencial entre os pontos A - B com a carga (Zl) desligada e (Zth) a impedncia do circuito entre os ponto A e B quando todas as fonte tem sido substitudas por suas impedncias internas, veja Figura 25.

    B

    A

    ZlCircuitoeltrico

    B

    A

    ZlCircuitoeltrico

    Zth

    Eth

    Il

    Vl

    Figura 25 Circuito equivalente Thevenin de um circuito eltrico

    Quando a carga (Zl) ligada aos terminais A-B a corrente que circula pelo circuito :

    lth

    thl ZZ

    EI += A diferena de potencial na carga est dada por:

    lth

    lthlll ZZ

    ZEZIV +==

    Verifica-se ento que o efeito produzido pela conexo da carga no circuito depende da relao entre (Zl) e (Zth). Assim a condio de mxima transferncia de tenso implica em Zl >> Zth e a condio de mxima transferncia de potncia ser para Zl = Zth . O efeito de ligao da carga no circuito produz em erro de carregamento eltrico:

    +== lthl

    thlth ZZZEVEtocarregamendeErro 1__

    3.3.3. Carregamento de um Voltmetro Quando um voltmetro com resistncia Rm conectado atravs de um circuito que apresenta uma resistncia e tenso equivalente Thevenin Rth e Eth, a leitura indicada por este :

    mth

    mthm RR

    REV +=

    Ento a preciso deste voltmetro :

    %100%100 +== mthm

    th

    m

    RRR

    EVpreciso

    30

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    3.3.4. Carregamento de um potencimetro Considere um potencimetro como o mostrado pela Figura 26 abaixo:

    VsTenso Rp do Potencimetrode Entrada A L x VL RL

    B

    Figura 26 Carregamento de um potencimetro O cursor do dispositivo est a uma distncia x do fim da pista que tem um comprimento total de L. Sabendo que a resistncia por unidade de comprimento uniforme e Rp a resistncia total do dispositivo, a tenso Thevenin equivalente, obtida medindo-se a tenso em circuito aberto em A-B, :

    =LxVsEth

    A resistncia Thevenin equivalente do potencimetro, a qual obtida fazendo Vs = 0 e calculando a impedncia nos terminais A-B :

    =Lx

    LxRR pth 1

    Ao carregar o circuito obtm-se uma tenso carga assim:

    11 +

    =

    Lx

    Lx

    RR

    LxVs

    V

    L

    pL

    O efeito de carregamento produz um erro de no linearidade, j que a relao entre Vl e x no linear. Este erro est dado por:

    +

    =

    11

    11

    Lx

    Lx

    RRL

    xVsVE

    L

    plth

    3.3.5. Carregamento de uma ponte de Wheatstone Uma ponte de Wheatstone uma estrutura muito usada de instrumentao, veja na Figura 27 a seguir. A resistncia e tenso Thevenin equivalentes sero:

    31

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    +

    += 434

    21

    1

    RRR

    RRRVE sth

    ++

    +=

    43

    43

    21

    12

    RRRR

    RRRRRth

    VsEth

    R1 R2

    R3R4

    Ponte deWheastoneequivalente

    Rth

    Eth

    B

    A

    RL

    IL

    VL

    Figura 27 Carregamento de uma ponte de Wheatstone

    A tenso de sada fica: ( )

    ( ) ( ) ( ) ( )

    ++++=

    43214321

    4231

    RRRRRRRRRRRRRRR

    VL

    sLL

    3.3.6. Carregamento de elementos em um sistema de medida Consideremos o sistema simples de medida, que consiste num transdutor de entrada, um amplificador e um mostrador com circuitos equivalentes Thevenin da figura a seguir: As tenses Vin e Vm ficam:

    +==

    int

    intininin RR

    RVRIV

    e

    ( ) ( )

    ++==

    moutint

    mintmmm RRRR

    RRVGRIV

    Rt

    VtRm

    Im

    VmVin Rin GVin

    RoutIin

    Transdutor Amplificador Mostrador

    Figura 28 Carregamento de um sistema de medidas

    32

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    3.4. Rudo O termo rudo se usa geralmente para sinais indesejadas que aparecem durante o processo de medio e podem interferir com o sinal sendo medido, existem dois tipos bsicos de rudo:

    Rudo de Interferncia Acontece devido interao entre campos magntico ou eltricos externos com o sistema de medida, Ex. rudo produzido pela rede AC. Rudo Aleatrio Este rudo devido ao movimento aleatrio de eltrons e outros portadores de carga em componentes e sistemas eletrnicos.

    3.4.1. Fontes de Interferncia Mudanas de temperatura Choques mecnicos Equipamentos que possuem sistemas de ignio Equipamentos que possuem circuitos digitais ou que trabalham com sinais

    pulsados Chaveamentos em sistemas de distribuio eltrica Motores eltricos AC e DC e inversores para o seu controle Altas tenses e descargas corona Descargas em gases ionizados Geradores de RF ou microondas Outras fontes com alto contedo de frequncias Materiais semicondutores em geral

    3.4.2. Tipos de interferncia Existem vrios tipos principais de interferncia:

    Acoplamento galvnico: Quando diversos circuitos apresentam um acoplamento direto de interferncias, atravs do mesmo terra.

    Acoplamento indutivo: tambm chamado de acoplamento magntico ou electromagntico. Neste caso uma corrente eltrica circulando num circuito prximo gera um campo magntico que varia, e que induz uma corrente no sistema de interesse.

    Acoplamento capacitivo: Os cabos de energia, terra e condutores do sistema esto separados por um dieltrico que o ar, assim podem existir capacitncias entre estes elementos, que permitem o acoplamento com o sistema de sinais de rudo.

    Terras mltiplos: Se um instrumento apresenta diversas conexes para o terra, isto permitira a produo de uma interferncia no sistema de medida

    Acoplamentos por RF ou Microondas: Rudo pode ser acoplado atravs de ondas de rdio e microondas

    3.4.3. Formas de Reduo da interferncia Existem diversos mtodos para reduzir interferncias, entre eles:

    Utilizao de pares tranados: diversos elementos de um sistema de medida podem ser conectados com pares tranados, assim o rudo induzido poder se cancelar devido a direo das correntes j que os campos induzidos se cancelam, veja Figura 29.

    33

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    Sub-sistemade Medida

    1

    Sub-sistemade Medida

    2Iin

    Iout

    Figura 29 Reduo de interferncia usando pares tranados

    Grade Eletrosttica: Com este mtodo todo tipo de acoplamento capacitivo e magntico evitado, j que o sistema de medida encontra-se cercado por uma grade metlica aterrada, este mtodo pode apresentar o problema de mltiplos terras, veja Figura 30.

    Grade Eletroesttica

    Sistema de Medida

    CaboBlindado

    Interferncia

    Figura 30 Reduo de interferncia usando grade eletrosttica Cabos blindados: Trata-se de uma extenso do mtodo anterior mas

    aplicado transmisso das informaes Terra nico: definindo um nico ponto de terra no sistema de medida evita-

    se o problema de terras mltiplos. Filtragem do sinal: Com esta tcnica a largura de banda do sistema de

    medida modificada para rejeitar o sinal de interferncia. Utilizao de isolao galvnica: permite o desacoplamento de dois

    circuitos de forma a evitar certos tipos de interferncias. A utilizao de amplificadores diferenciais e de instrumentao: permitem

    eliminar a interferncia quando esta se encontra em modo comum.

    3.4.4. Rudo aleatrio O rudo aleatrio podem aparecer de formas diversas:

    Rudo Trmico: Este rudo gerado pelo movimento randmico dos eltrons e outros portadores de carga em resistores e semicondutores. A tenso RMS de rudo para uma certa largura de banda dado por:

    fTRkvn = 4 Com : k = Constante de Boltzmann R = Resistncia do material T = Temperatura Absoluta F = Faixa de frequncia

    Rudo Shot: Este rudo devido a flutuaes randmicas na taxa de difuso de portadores de carga atravs das barreiras de potencial em junes P-N. A tenso RMS de rudo dada por:

    34

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    )(2 frTkv dns = Com: rd = Resistncia diferencial do diodo 26/Id(mA)

    Rudo (1/f): O rudo (1/f) ou Flicker noise deve-se ao fluxo de portadores de carga em mdios descontnuos e fica predominante em frequncias muito baixas, apresenta uma tenso RMS de rudo inversamente proporcional frequncia.

    Ms conexes: Rudo pode resultar de ms conexes devido a sujeira em contatos, contatos mecnicos mal feitos ou soldas frias

    3.4.5. Rejeio de rudo Trata-se da capacidade de um sistema rejeitar rudo e pode ser quantificada para duas formas tpicas de ocorrncia de rudo:

    Rudo em modo normal: corresponde a aquele rudo que ocorre junto ao sinal medido, o sistema de medida no consegue discriminar esta forma de ocorrncia

    Rudo em modo comum: corresponde a aquele rudo que aparece entre o terminal de terra e um outro terminal do sistema de medida. Existem mtodos (utilizao de amplificadores diferenciais) que permitem a reduo do rudo que ocorre desta forma.

    Define- se razo de rejeio em modo comum (CMRR) como a habilidade do sistema de medida reduzir o erro na medida introduzido por um rudo que ocorre desta forma, assim:

    =

    e

    cm

    VVdBCMRR 10log20)(

    com: Vcm = O valor pico do rudo em modo comum Ve = O valor pico do erro produzido na medida a uma certa frequncia

    3.4.6. Relao sinal - rudo Define-se razo sinal-rudo como a razo entre a potncia do sinal e a potncia do rudo no sistema de medida. A partir de este calculo ser possvel saber que tipo de instrumento necessrio para realizar a medida desejada. Para o caso de um resistor R temos ento:

    =

    n

    s

    VV

    dBNS 10log20)(/

    Com: Vs = Tenso do sinal Vn = tenso de rudo

    3.5. Erros Os erros em instrumentao basicamente podem ser classificados como:

    Erros randmicos: so aqueles que variam de forma aleatria entre medidas sucessivas da mesma quantidade

    Erros sistemticos: so aqueles que no variam de uma leitura para outra Erros absolutos: so definidos como a diferena entre o valor atual medido e o

    valor livre de erro (Padro).

    35

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    sia XXX = com: xi = valor atual da medida

    xs = valor correto da medida Erros relativos: so definidos como os erros absolutos normalizados, ou seja o

    erro absoluto dividido por uma quantidade de referncia, Ex. erros percentuais

    100%

    =X

    XXX sir com: X = valor de referncia

    3.5.1. Fontes de erro As fontes de erro em sistemas de medidas so de acordo a classificao anterior: 1. Erros randmicos

    Erros de operao: podem ter varias causas como erros de parallax e de incerteza nas medidas, dependendo principalmente do operador

    Erros ambientais: como mudanas de temperatura, interferncia eletromagntica, etc.

    Erros estocsticos: como resultado de processos de rudo em materiais e componentes do instrumento.

    Erros dinmicos: so erros devidos a mltiplos fatores que modificam o comportamento dinmico do instrumento, como carregamentos dinmicos variveis.

    2. Erros Sistemticos: Erros de construo: Erros durante a fabricao do instrumento, problemas com

    tolerncias de dimenses ou componentes fora de valor, etc. Erros de aproximao: devida a suposies, como linearidade entre duas

    variveis Erros de envelhecimento: Erros resultantes de variaes, em materiais e

    componentes integrantes do instrumento, com o tempo. Componentes se deterioram e variam seu valor ou materiais com processos de fadiga mudam suas caractersticas mecnicas variando sensibilidades, etc.

    Erros de insero: So erros de carregamento, que acontecem quando o instrumento inserido em certos locais para realizar medidas, como voltmetros, ampermetros, etc.

    Erros aditivos: so erros superpostos ao sinal de sada do instrumento e no dependem do valor numrico da sada, portanto provocam somente uma modificao no valor de zero no instrumento

    Erros multiplicativos: estes erros so caracterizados pela multiplicao da varivel de entrada por um valor, Ex. variaes de sensibilidade com diversos fatores.

    3.5.2. Estatstica de erro Os resultados de uma serie de medies da mesma quantidade podem ser plotados como uma distribuio de frequncia, sendo que frequncia neste caso o nmero de vezes que um valor particular ou faixa de valores ocorrem.. Esta distribuio mostra como os valores obtidos durante a medio variam, veja Figura 31. O espalhamento desta distribuio uma indicao da impreciso da medida.

    36

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    Frequncia

    Valores da serie de medidas

    Figura 31 Distribuio de frequncia para uma medida A representao de um nmero de medidas de uma certa quantidade pode tomar as seguintes formas:

    Mdia Aritmtica ( ): Representa-se como a soma de todos os resultados dividida pelo nmero (n) de resultados considerados.

    _X iX

    n

    XX

    n

    ii

    == 1_ Moda: o valor com maior frequncia, se a distribuio de frequncia simtrica

    ento a mdia e a moda apresentaro o mesmo valor, veja Figura 32.

    Frequncia

    Valores da serie de medidas

    Moda

    Mdia

    Figura 32 Moda e Mdia

    Mediana: o valor que divide a distribuio de frequncia em duas reas iguais Desvio Padro: A medida da preciso ou seja o espalhamento da

    distribuio de frequncia pode ser medido com a raiz do desvio quadrtico mdio ou desvio padro (). O desvio de uma medida (d) a diferena entre o valor medido e a mdia aritmtica:

    _XXd ii =

    ento o desvio padro define-se:

    37

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    11

    2

    =

    =n

    dn

    ii

    3.5.3. Erro provvel

    A distribuio de frequncia de um conjunto de medidas mostra os desvios das varias medidas em relao mdia. Como a distribuio de frequncia freqentemente toma a forma de uma distribuio Gaussiana, veja Figura 33,cuja medida mais freqente a mdia e no apresenta erro. Numa distribuio gaussiana a possibilidade de uma medida estar a um da mdia de 68,3%, dentro de 2 da mdia 95,5% e dentro de 3 da mdia 99,7%, ento a possibilidade de uma medida estar em 0,6745 da mdia de 50%. Define-se ento como erro provvel 0,6745 da mdia.

    Frequncia

    3 2 Mdia 2 3 Erro- +

    Figura 33 Distribuio gaussiana

    Isto significa que se tomamos uma medida qualquer, da serie de medidas, esta ter 50% de chance de apresentar um erro no maior que 0,6745 da mdia.

    3.5.4. Adio de erros Existem diversas formas de obter resultados a partir de um conjunto de medidas, cada medida apresenta um erro associado e dependendo da forma o erro final do resultado calculado pode variar. As diversas forma de obter o resultado podem ser:

    Soma ou subtrao de medidas: neste caso o erro total a soma dos erros absolutos Sem erro temos:

    BAX += Tomando em conta os erros:

    BBAAXX += O erro neste caso :

    BAX += Multiplicao e diviso de medidas: Adiciona-se o erro percentual para obter o

    erro relativo percentual total. Sem erro a medida fica: BAX =

    Tomando em conta os erros: ( ) ( ) ABBABABBAAXX == O erro neste caso :

    38

  • IPT Curso de Instrumentao

    ABBAX += O erro relativo percentual ser

    100100100 +=AA

    BB

    XX

    3.5.5. Exatido de um sistema A funo de transferncia do elemento sensor de um sistema medida (G1) na ausncia de erros :

    iG = 11 Tomando em conta erros no sistema e mantendo a entrada constante a funo de transferncia fica: ( ) iGG = 1111 A sada do conversor de sinais considerando o erro fica: ( ) ( ) iGGGG = 112222 A sada do elemento mostrador de sinais considerando o erro fica: ( ) ( ) ( ) iGGGGGG = 11223300 esta sada pode ser expressa assim:

    iGG

    GG

    GGGGG

    =

    1

    1

    2

    2

    3

    312300 1

    sabemos que sem erros a funo de transferncia de um sistema de medida

    io GGG = 321 Obtm-se ento o erro relativo na sada do sistema de medida como:

    ++=

    1

    1

    2

    2

    3

    3

    0

    0

    GG

    GG

    GG

    Assim o erro relativo na sada de um sistema de medidas a soma dos erros relativos de cada elemento do sistema

    3.6. Confiabilidade em Instrumentos Define-se confiabilidade de um instrumento de medida como a possibilidade que o sistema o elemento do sistema opere com um certo nvel de desempenho (Ex. 1% de exatido) , num certo perodo de tempo (Ex. 1 ano), em certas condies ambientais (Ex. 20oC). A confiabilidade depende do uso, ambiente e local onde o instrumento est em operao, assim os seguintes fatores devem ser considerados:

    Conseqncias da falha em termos de risco para outros equipamentos ou pessoal Custo ou produo perdida resultante da falha Custo e tempo necessrio para o reparo

    39

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    Custos das rotinas de teste e manuteno Assim confiabilidade uma varivel estatstica que depende do tempo R(t) e geralmente expressa de forma exponencial. ( ) ( )ttR = exp com: () = taxa de falhas

    3.6.1. Falhas (MTBF) Define-se falha quando o instrumento sai de um especificado nvel de desempenho. Se N itens foram testados durante um tempo t e os itens que falharam foram reparados e colocados de novo em funcionamento, ento se durante esse tempo aconteceram Nf falhas, o tempo mdio entre falhas definido por:

    fNtNMTBF =

    Define-se ainda taxa de falhas () o valor mdio de falhas ou seja:

    MTBF1=

    Uma taxa de falhas de 1/100000 por hora no significa que se 100000 itens foram observados durante uma hora 1 falhara, somente indica a probabilidade deste falhar. Na Tabela 4 seguinte apresentam-se valores tpicos de taxa de falhas.

    Tabela 4 Taxa de falhas em componentes

    Componente Taxa de falhas x 10-5 por hora Resistor de carvo 0.05

    Resistor de fio 0.01 Capacitor de papel 0.1

    Capacitor de filme plstico 0.01 Transistor de silcio de potncia 0.08

    Transistor de silcio de baixa potncia 0.008 Conexo com solda 0.001

    Conexo com fio enrolado 0.0001

    3.6.2. Disponibilidade A disponibilidade de um sistema a probabilidade de este sistema estar funcionando corretamente durante tempo especifico, define-se assim:

    MTTRMTBFMTBF

    loperacionanotempoloperacionatempoloperacionatempoidadeDisponibil +=+= ___

    _

    com: MTTR = tempo mdio de reparo.

    3.6.3. Curva da Banheira Um instrumento ou sistema de medida tpico apresenta uma taxa de falhas em funo do tempo com trs fases bem definidas, como mostrado na Figura 34 a seguir:

    40

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    Mortalidade infantil: A taxa de falhas cai exponencialmente at estabilizar num valor, estas falhas acontecem devido a problemas na manufatura, materiais e componentes, esta fase pode ser superada antes do instrumento sair da fabrica atravs de um perodo de "Burn-In".

    Vida til: a fase de vida normal do instrumento onde a taxa de falhas baixa e constante e basicamente as falhas so eventos aleatrios.

    Fim de vida: Nesta fase a taxa de falhas aumenta exponencialmente principalmente por problemas de desgaste nos componentes e materiais.

    MortalidadeInfantil

    Tempo

    Vidatil

    Fim deVida

    Taxa de falhas

    Figura 34 Curva da banheira

    3.6.4. Projeto de sistemas com alta Confiabilidade Vrios fatores devem ser considerados durante o projeto de um instrumento para obter sistemas com alta confiabilidade:

    O instrumento deve possuir o mnimo nmero de componentes necessrios para realizar a funo desejada.

    Os componentes usados devem possuir uma histria conhecida de confiabilidade. O uso de integrao em larga escala aumenta a confiabilidade do instrumento, j

    que a confiabilidade de um circuito integrado depende muito pouco de sua complexidade.

    Os componentes devem estar operando nas faixas permitidas, a confiabilidade cai rapidamente quando aumenta o stress, temperatura, umidade, tenso, vibrao, etc.

    Os componentes devem ter um perodo de Burn-In para ultrapassar o estgio de mortalidade infantil.

    O equipamento deve ter sido testado em condies rigorosas, antes de entrar em servio.

    O equipamento deve ser operado nas melhores condies possveis.

    3.6.5. Redundncia A confiabilidade de um instrumento pode ser aumentada usando componentes confiveis, outra forma introduzir no sistema redundncia de algum tipo, isto usando dois o mais componentes, grupos de componente ou sistemas de maneira que o instrumento continue a funcionar mesmo que parte de ele falhe.

    41

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    3.6.6. Tipos de redundncia em instrumentos A redundncia em instrumentao apresenta os seguintes tipos:

    3.6.6.1. Redundncia paralela No caso o sistema ou parte deste operado usando dois o mais componentes, grupos de componente ou sistemas em paralelo de maneira que o instrumento continue a funcionar mesmo que parte de ele falhe, veja Figura 35. Ex. Contatos de um rel ou contator em paralelo. Neste caso a confiabilidade do sistema dada por :

    BABAp RRRRR += Se RA=RB=0.9 ento Rp=0.99

    A

    B

    Entrada Sada

    Figura 35 Redundncia paralela

    3.6.6.2. Redundncia Stand-by Neste caso existem dois sub-sistemas idnticos, um deles o A est ligado sada atravs de uma chave. Se o sistema A falha a chave muda de estado e o sistema B entra em funcionamento, veja Figura 36. necessrio decidir que o sistema A falhou para tomar a ao de chaveamento. Neste caso a confiabilidade do sistema dada por : ( ))ln(1 RRRSB = Se RA=RB=R=0.9 ento RSB=0.9948

    Entrada Sada

    A

    B

    Figura 36 Redundncia Stand-by

    3.6.6.3. Redundncia por voto majoritrio Quando difcil ou impossvel de decidir se a medida que est sendo realizada est correta, adicionando mais uma leitura ao sistema, somente ser possvel decidir que uma das medidas est errada, porem no da para decidir qual medida est certa. Em sistemas de alta

    42

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    confiabilidade implementa-se o esquema de votao majoritria, que contm pelo menos trs sub-sistemas idnticos realizando a mesma leitura em conjunto com um dispositivo de votao majoritria, sendo ento possvel garantir uma medida confivel, veja Figura 37. Neste caso supondo todos os sub-sistemas possuem confiabilidade R e o sistema de voto majoritrio e perfeitamente confivel ento a confiabilidade total do sistema dois de trs dada por :

    32 23 RRRp = Se RA=RB=R=0.9 ento Rp=0.972

    VotoMajoritrio

    LgicaDois de

    trs

    Entrada Sada

    A

    B

    C

    Figura 37 Redundncia por voto majoritrio

    43

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    4. Princpios bsicos de transduo Transdutor pode ser definido como o dispositivo que converte energia de um domnio para outro. Ex. Mecnico - Eltrico. Estes podem ser encontrados nos estgios de entrada ou de sada dos sistemas de medida. Os transdutores de entrada dos sistema de medida denominam-se sensores e convertem uma quantidade fsica ou qumica de entrada numa outra (geralmente eltrica) na sua sada. Os transdutores de sada dos sistema de medida denominam-se atuadores e convertem uma quantidade (geralmente eltrica) de entrada numa outra fsica ou qumica na sua sada. A funo de um transdutor pode ser descrito de diversas formas, destacamos duas formas usuais:

    Estrutura Funcional: onde se descreve o mtodo adotado para realizar a medida atravs de funes ou estruturas bsicas.

    Estrutura Orgnica: onde se apresenta a funo do sistema de medida atravs da implementao fsica de grupos de funes ou estruturas bsicas.

    Na Figura 38 abaixo um exemplo para um transdutor de presso:

    ConversorPresso/Tenso DC

    P V

    CondicionadorDe Sinais

    Pin LVDT

    ConversorMudana de

    indutncia mutua/modulao de tenso

    AC

    Conversordeslocamento de

    membrana/mudana de

    Indutncia mutua

    Conversopresso/

    deslocamento demembrana

    ConversorTenso AC /Tenso

    DC

    P VDC VAC

    Figura 38 Descrio funcional e orgnica de um transdutor de presso

    4.1. Estruturas bsicas de transduo Apesar de existir uma diversidade enorme de estruturas de transduo, as principais podem ser agrupadas assim:

    Estrutura Serie Estrutura diferencial Estrutura de razo Estrutura de servo-transduo

    44

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    4.1.1. Estrutura serie Esta estrutura como j conhecemos constitui-se de diversos blocos em serie cada um possuindo sua prpria funo de transferncia, assim este mtodo fornece uma funo de transferncia global assim, para o caso de quatro blocos:

    43214 GGGG

    xyG ==

    O erro associado a esta estrutura :

    443432432144 yGyGGyGGGyyyy +++== com : = sada do bloco sem erros. iy Graficamente esta estrutura fica, veja Figura 39:

    x y4y1 y2 y3

    y1 y2 y3 y4

    G3Bloco 3

    G2Bloco 2

    G1Bloco 1

    G4Bloco 4

    Figura 39 Estrutura serie

    4.1.2. Estrutura diferencial A estrutura diferencial usa dois canais de sinal ligados a um bloco subtrator, veja Figura 40, se as funes de transferncia dos dois canais so idnticas e supondo que as sadas podem ser expressas como:

    oyxGy += 11 e oyxGy += 22a sada desta estrutura ser:

    )( 2121 xxGyyy == Existem duas formas de funcionamento desta estrutura:

    x1 = varivel e x2 = constante x1 = - x2 neste caso a sensibilidade do sistema de duplica

    Com a introduo de erros nas medidas as sadas dos blocos ficam:

    111 yyy += e 222 yyy +=supondo (o que muito razovel) que estes erros so similares a sada total da estrutura fica:

    2121 yyyyy == com : = sada do bloco sem erros. iy Isto significa que a estrutura diferencial fornece uma diminuio substancial nos erros que o mtodo de medida apresenta., graficamente esta estrutura fica:

    45

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    x1

    x2 y2

    y1

    +

    -

    y1

    y2

    GBloco 2

    GBloco 1

    y = y1-y2

    Figura 40 Estrutura diferencial

    4.1.3. Estrutura de razo Similarmente estrutura diferencial a estrutura de razo inclui dois canais de medida em serie com sensibilidade G idntica conectadas a um bloco cuja sada a razo (diviso) das duas variveis de entrada, veja Figura 41.

    =

    2

    1

    xx

    fy

    Se os sinais de sada dos blocos so afetados pelos mesmos erros, os quais se manifestam como uma variao da sensibilidade, as sadas dos blocos ficam: ( ) 11 xGGy += e ( ) 22 xGGy +=ento

    2

    1

    2

    1

    xx

    yy =

    Assim esta estrutura apresenta vantagens para a reduo de erros gerados pela mudana da sensibilidade.

    GBloco 2

    GBloco 1x1

    y = f(x1/x2)

    x2 y2 = f(x2)

    y1 = f(x1)

    G

    G

    Figura 41 Estrutura de razo

    46

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    4.1.4. Estrutura de servo transduo Esta estrutura utiliza somente um canal de sinal constitui-se por trs blocos principais:

    Bloco subtrator para detectar erros Bloco de controle Bloco de realimentao ou atuador

    O sistema funciona da seguinte maneira: O sinal (x) a ser medido aplica-se na entrada no inversora do bloco subtrator e o sinal realimentado (xc) na entrada inversora, gerando-se na sada do bloco subtrator um sinal de erro. bom lembrar que o sinal (xc) deve possuir a mesma natureza fsica de (x). Ex. Fora, deslocamento, etc. A diferena entre (x) e (xc) tratada no bloco de realimentao de maneira a compensar permanente mente a variao do sinal de entrada, fornecendo uma sada de erro perto de zero. Do diagrama de blocos mostrado pela Figura 42 obtemos:

    xGy = e yHxc = cxxx =sendo H e G as sensibilidades dos blocos de realimentao e controle respectivamente. Verifica-se ento: ( )cc xxGHxHGx == como GH >>>>1 ento a sada fica:

    Bloco 2H

    Bloco 1G

    x x = x-xc

    xc

    y

    y + _

    Figura 42 Estrutura de servo-transduo

    Pode-se determinar o erro na sada (y)supondo que esta estrutura apresenta erros nos blocos 1 e 2 (G e H ) respectivamente, se (x ) constante ento:

    ( ) ( ) xHGHGG

    GHy

    ++= 2

    2

    2 111

    Verifica-se que variaes no bloco 1 de controle so reduzidas por um fator 1/(1+GH)2. Esta estrutura permite ento a gerao de transdutores muito sensveis e com caractersticas metrolgicas excelentes

    47

  • 5. Elementos bsicos de sensoriamento

    5.1. Domnios de energia Podem-se distinguir seis diferentes domnios de energia

    Energia Luminosa: Energia relacionada com ondas eletromagnticas de radio, microondas, infravermelho, luz visvel ultravioleta, raios-X, raios gama etc. Ex. Intensidade luminosa, comprimento de onda, polarizao, fase, refletncia, transmitncia, etc.

    Energia Mecnica: Energia relacionada a foras, deslocamentos e fluxos mecnicos alm da energia gravitacional. Ex. Fora, presso, torque, vcuo, vazo, volume, espessura, massa, nvel, posio, deslocamento, velocidade, acelerao, inclinao, rugosidade, etc.

    Energia Trmica: Energia relacionada cintica de tomos e molculas. Ex. Temperatura, calor, calor especfico, entropia, fluxo de calor.

    Energia Eltrica: Energia relacionada eletricidade em geral. Ex. Tenso, corrente, carga, resistncia, inductncia, capacitncia, constante dieltrica, polarizao eltrica, frequncia, durao de pulsos, etc.

    Energia Magntica: Energia correspondente aos fenmenos do magnetismo em geral. Ex. Intensidade de campo, densidade de fluxo, momento magntico, magnetizao, permeabilidade, etc.

    Energia Qumica: Energia relacionada com os fenmenos de interao qumica da matria. Ex. Composio, concentrao, taxa de reao, toxicidade, potencial de oxi-reduo, PH, etc.

    Em geral no caso dos transdutores de entrada ou sensores deseja-se converter estes sinais para o domnio eltrico ou do domnio eltrico para um dos seis apontados anteriormente no caso dos transdutores de sada ou atuadores, veja Figura 43 abaixo.

    Sensores

    Luminoso

    Mecnico

    Trmico

    Eltrico

    Magntico

    Qumico

    Modificador

    Luminoso

    Mecnico

    Trmico

    Eltrico

    Magntico

    Qumico

    DomnioEltrico

    DomnioEltrico

    AtuadoresSistemaeletrnico de

    processamentode sinais

    Figura 43 Diversas formas de transduo

  • IPT Curso de Instrumentao

    5.2. Converso nos diversos domnios de energia Existem uma diversidade de efeitos fsicos ou qumicos utilizados para a realizao de converso de energia nos transdutores de entrada ou sada de um sistema de medida. Como em geral no caso dos transdutores de entrada ou sensores deseja-se converter estes sinais para o domnio eltrico ou do domnio eltrico para um demais domnios no caso dos transdutores de sada ou atuadores, apresentamos alguns dos efeitos mais usados para a implementao de sensores e atuadores, nas tabelas a seguir:

    Tabela 5 Domnio de Energia Luminosa:

    Efeito Descrio Fotovoltico Uma tenso gerada pela radiao incidente na juno de

    dois materiais diferentes Fotocondutividade O aumento da condutividade eltrica de um material

    devido incidncia de uma radiao Fotoeletricidade Eltrons e lacunas so gerados e separados na rea da

    juno devido a uma radiao incidente Fotoluminiscncia Uma energia radiante emitida devido uma radiao

    incidente com menor comprimento de onda Fotodieletricidade A mudana de uma constante dialtica devido a uma

    radiao incidente Electrolumiscncia Uma energia radiante emitida devido a ao de um

    campo eltrico Incandescncia Emisso de radiao devido ao movimento trmico de

    tomos ativados por uma corrente eltrica

    Tabela 6 Domnio de Energia Mecnica:

    Efeito Descrio Piezoresistividade Variao da resistncia eltrica de um material devido

    mudana da condutividade ou forma quando sujeito deformaes mecnicas

    Piezoeletricidade Gerao de cargas superficiais devido a foras mecnicas e vice-versa

    Magnetostrio Deformao mecnica de um material devido ao campo magntico ou mudana de magnetizao do material

    devido deformao mecnica Fotoelasticidade Gerao de refrao dupla devido a foras mecnicas

    Termoelasticidade Gerao de uma tenso em duas regies de um metal devido a deformaes mecnicas ou diferenas de

    temperatura na regio Triboeletricidade Gerao de cargas eltricas superficiais devido ao atrito

    entre dois materiais

    49

  • IPT Curso de Instrumentao

    Tabela 7 Domnio de Energia Trmica:

    Efeito Descrio Termoeletricidade (Seebeck) Gerao de uma corrente eltrica num circuito fechado de

    dois condutores com diferentes temperatura de juno Piezoeletricidade Mudana de polarizao eltrica devido variaes da

    temperatura Incandescncia Emisso de energia luminosa devido ao aquecimento de

    um material Peltier Gerao de uma diferena de temperatura entre duas

    junes devido a passagem de uma corrente eltrica Nerst Gerao de um campo eltrico devido a um gradiente de

    temperatura e campo magntico Supercondutividade Mudana da condutividade para um valor perto de

    infinito abaixo de uma temperatura crtica Eletro-termico Gerao de calor em um condutor devido a passagem de

    uma corrente eltrica Termocondutividade Mudana da condutividade eltrica devido variaes da

    temperatura

    Tabela 8 Domnio de Energia Magntica:

    Efeito Descrio Hall Gerao de um campo eltrico em um condutor, devido

    corrente e campo magntico que encontram-se mutuamente perpendiculares

    Magneto-resistncia Mudana da resistividade de um material devido ao campo magntico

    Magnetostrio Uma deformao mecnica gerada num material ferromagntico pelo campo magntico incidente

    Eletromagntico Mudana da magnetizao devido uma corrente eltrica Maggi-Righi-Leduc Mudana da condutividade trmica devido ao campo

    magntico incidente Suhl Mudana de condutividade na superfcie de um

    semicondutor devido ao campo magntico

    Tabela 9 Domnio de Energia Qumica:

    Efeito Descrio Volta Gerao de tenses entre dois metais diferentes

    Galvano-eltrico Gerao de tenses entre dois metais diferentes quando imersos num eletrlito

    Qumico-magntico A variao da magnetizao de um material magntico pela absoro de um gs

    Electroqumico Mudana de estrutura devido a uma corrente eltrica Termoqumico Mudana de estrutura devido a uma variao da

    temperatura Qumica-eltrica Mudana na condutividade da superfcie de um

    semicondutor quando em contato com um eletrlito

    50

  • IPT Curso de Instrumentao

    5.3. Tipos de transdutores Existem diversas formas de classificar os transdutores (sensores e atuadores): em relao energia de entrada, em relao perturbao que introduzem no meio, em relao ao mtodo de transduo, em relao ao tipo de sinal gerada, ou ainda pelos diversos estgios de transduo Ex. direto ou indireto, etc. Uma importante caraterstica em relao energia necessria para torna-los operacionais distingue os transdutores em duas categorias:

    Transdutores Auto-geradores ou ativos Transdutores Modulados ou Passivos

    Outra forma de caracterizar um transdutor em relao perturbao que o dispositivo introduz na medida realizada, assim temos:

    Transdutores Invasivos e No-Invasivos Transdutores Intrusivos e No Intrusivos

    Tambm podemos classificar os transdutores pelo tipo de sinal que eles geram: Transdutores analgicos Transdutores digitais 5.3.1. Transdutores Auto-geradores ou ativos

    Um transdutor Auto-gerador ou ativo definido como um transdutor que no requer uma fonte de energia auxiliar para realizar a converso entre dois domnios de energia. Ex. termopar, clula solar, etc.

    5.3.2. Transdutores Modulados ou Passivos Um transdutor modulado ou passivo definido como um transdutor que requer uma fonte de energia auxiliar para realizar a converso entre dois domnios de energia. Ex. Strain Gage, capacitncias, etc.

    5.3.3. Transdutores Invasivos Os transdutores invasivos so aqueles que tem contato e apresentam interao fisico-qumica com o processo onde se efetua a medida.

    5.3.4. Transdutores Intrusivos Os transdutores intrusivos so aqueles que tem interao fisico-qumica com o processo onde se efetua a medida. Graficamente pode-se visualizar a diferena entre estes dispositivos, na Figura 44

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    888

    Invasivo No-Invasivo

    Intrusivo

    No-Intrusivo

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    Figura 44 Definio dos termos Invasivo e Instrusivo

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  • IPT Curso de Instrumentao

    5.4. Elementos de contato Os elementos de contato convertem deslocamentos em sinais eltricos pela abertura ou fechamento de contatos. Na Figura 45 seguinte verificam-se varias formas de utilizao deste mtodo

    Deslocamento

    Deslocamento

    Deslocamento

    Figura 45 Elementos de contato

    5.5. Elementos resistvos Num transdutor resistvo a converso do parmetro medido se expressa numa variao de resistncia na sada do elemento. Existem uma diversidade de elementos resistvos dos quais destacamos:

    Elementos resistivos de juno Elementos potenciomtricos Elementos termoresistvos Elementos piezoresistvos Elementos fotocondutvos

    5.5.1. Elementos resistivos de juno Nestes elementos uma fora ou deslocamento produz uma mudana de resistncia no elemento. O elemento constitui-se de dois contatos e um ou vrios discos de material resistvo, como carvo, grafite ou um plstico condutvo. Com o stress induzido pela fora (F)ou deslocamento () o caminho da corrente muda variando assim a resistncia do elemento de forma no linear. Ex. Microfone de carvo usado nos antigos telefones, veja Figura 46.

    F

    Figura 46 Elementos de juno resistva

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    Neste caso para excitao por presso ou fora a resistncia da juno pode ser descrita pela seguinte equao:

    FaRR oj +=

    Com : Rj = resistncia da coluna (), Ro = Resistncia constante(), F = Fora (N) e a = constante (.N)

    5.5.2. Potencimetros Os elementos potenciomtricos so utilizados para converter deslocamentos lineares ou angulares para mudanas de resistncia eltrica. Este elemento possui uma resistncia, um contato deslizante e trs terminais para sua interconexo, veja Figura 47. A resistncia ou elemento eletrocondutvo pode ser realizada por um resistncia de fio enrolada, uma barra de carvo ou grafite, um material plstico, um filme fino ou espesso de metais ou xidos metlicos.

    Deslocamento

    Figura 47 Potencimetro

    A resistncia de um potencimetro entre dois pontos A e B dada por:

    AxR =

    com = Resistividade do fio (.m), x = comprimento do fio entre os pontos A e B (m), e A = seo transversal do fio (m2). O potencimetro em geral ligado como um divisor de tenso e seu contato central ligado uma carga RL, veja fig. 26. Supondo que o enrolamento uniforme, que o fio no muda nem o dimetro nem a resistividade, a tenso de sada do elemento :

    11 +

    =

    Lx

    Lx

    RR

    LxVs

    V

    L

    pL

    Com: x = comprimento do fio entre os pontos