INSTITUTO NACIONAL DA PROPRIEDADE INDUSTRIAL – INPIPrograma de Pós-graduação em

Propriedade Intelectual e Inovação

Análise do patenteamento de Institutos Nacionais de Metrologia:

Uma avaliação de parcerias

Giovanna Chinait de Carvalho  Orientadora: Adelaide Maria de Souza Antunes

27 de 0utubro de 2015

Barreiras Técnica; Acordo Geral sobre Tarifas e Comércio – GATT; TIB; Definições; Importância de TIB a superação de Barreiras

Técnicas; Importância de Sistema Nacional de Metrologia do

Estado; Importância das Parcerias com o Estado.

INTRODUÇÃO

“Há o interesse de outros setores da sociedade em parcerias para co-desenvolvimentos para inovação com Institutos Metrológicos?”

QUESTÃO DA PESQUISA

OBJETIVO DA PESQUISA

Mapear documentos de patente de Institutos Nacionais de Metrologia – INM, para a identificação de parcerias no desenvolvimento tecnológico e científico;

Documentos com prioridade entre 1993 e 2013; Base dados de soluções metrológicas extraídas de

documentos de patentes

Definição de países que contém sistema metrológico de interesse a serem avaliados;

Definição da forma de identificação dos institutos que compõem o sistema metrológico dos países selecionados a serem analisados;

Estudo de validação da etapa (ii); Definição da estratégia de busca e base a ser utilizada; Seleção temporal e eliminação de dados duplicados; Mapeamento dos documentos de patente e análise de

parcerias; Implementação de Base de Dados de Monitoramento.

METODOLOGIA

Definição de países que contêm sistema metrológico de interesse a serem avaliados

Seleção baseada na participação de cada país nas comparações chaves e suplementares, a partir de dados obtidos BIPM e países que compõem o BRICS

Definição da identificação dos Institutos que compõem o sistema metrológico dos países selecionados a serem analisados e validação

Seleção baseada na lista de instituições que compõem o Sistema de de Metrologia dos países selecionados, com base nas informações do BIPMValidação fundamentada nos Relatórios Anuais dos institutos de interesse com a seleção manual de cada sinonímia.

METODOLOGIA

Estratégia de buscaBase: Derwent Index InnovationBusca por nome de Depositantes

Seleção temporal e eliminação de dados duplicados

Identificação de prioridades entre 1993 3 2013Eliminação de dados duplicados

METODOLOGIA

Mapeamento dos documentos de patente e análise de parcerias;

identificação de Parcerias;evolução temporal, área do conhecimento e IPC;identificação de grupos de pesquisa ou pesquisadores;extensões dos documentos em fases nacionais.

METODOLOGIA

Implementação de Base de Dados Monitoramento

criação do alerta a identificação via correio eletrônico e a obtenção dos documentos para monitoramento as novas tecnologias e informações dos INMS de interesse.

METODOLOGIA

Definição de países de INM de referência: Participação de países membros e associados em comparações chaves e suplementares.

Fonte: Elaboração própria a partir de dados de 26 de maio de 2015, obtidos a partir do endereço eletrônico www.bipm.org

RESULTADOS PRELIMINARES

Busca : 1.023 documentosSeleção temporal e eliminação de dados duplicados: US 123; DE 243; CN 363; IN 95; RU 11;BR 13 e ZA 1

RESULTADOS PRELIMINARES

Análise dos dados: verificação das parcerias; evolução temporal por país; distribuição por área do conhecimento e IPC; identificação de grupos de pesquisa ou

pesquisadores mais atuantes e; extensões a fases nacionais e regionais.

PRÓXIMOS PASSOS