Introdução à Microscopia

de Varredura por Sonda

Jéssica A. de Paula

Microscopista CM-UFMG

2018

Como surgiu?

Cortesia: Tec. Marcelo Cruz

STM

1981 – G. Binnig e H. Rohrer (IBM) criaram o ScanningTunnelling Microscope

1986 – Prêmio Nobel

V

Restrição: Amostras devem ser condutoras.

SPM/MVS

EFMKPFM

MFM

AMFM

NÃO CONTATO

OSCILATÓRIO

CONTATO

AFM

STM

O que é MVS?

E muitos outros...

AFM

Fotodetector

Amostra

Ponta

Amostra

Força

Sonda

Laser✓ Amostras condutoras ou

isolantes;

✓ Amostras rígidas ou macias;

✓ Não há necessidade de vácuo;

✓ Análise em meio gasoso ou

líquido;

✓ Facilidade de operação.

Instrumentação

Sonda

Scanner XY

Amostra

Scanner ZLaser

Fotodetector

ScannerPZT - Pb(ZrxTi1-x)O3

Titanato zirconato de chumbo

https://www.doitpoms.ac.uk/tlplib/afm/scanner.php

Sonda

Cortesia: Tec. Wesller Schmidtafmprobes.asylumresearch.com/

Modos de operação

Modos de operação

EFM

CargaMaterial Isolante

Visualização do gradiente de força eletrostática entreponta e amostra.Útil para medidas de condutores em superfícies isolantesou semicondutoras.

MFM

Visualização de domínios magnéticos.

MFM

Topografia MFM

Espectroscopia de Força

Forç

a

Distância

Nanoindentação

AMFM