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Aula-3 Interferência Física Geral IV, F 428

Aula 03

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Princípio de Huygens

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  • Aula-3

    Interferncia

    Fsica Geral IV, F 428

  • Princpio de Huygens

    Christiaan Huygens (1629-1695), fsico holands, apresentou a primeira teoria ondulatria da luz em 1678.

    Teoria mais simples que a Teoria de Maxwell (~ 1865), e permite explicar as leis da reflexo e da refrao em

    termos de ondas.

    2

  • Princpio de Huygens

    Todos os pontos de uma frente de onda se comportam como fontes pontuais para ondas secundrias.

    Depois de um intervalo de tempo t, a nova posio da frente de onda dada por uma superfcie tangente a estas ondas secundrias.

    http://www.colorado.edu/physics/2000/index.pl

    http://id.mind.net/~zona/mstm/physics/waves/propagation/huygens3.html

    3

  • Difrao: o princpio de Huygens

    (onda + obstculo = difrao) 4

  • A refrao e a Lei de Snell

    1

    2

    h c

    1

    2

    g

    1

    2

    1

    2

    e

    5

  • A lei da refrao

    Definio ndice de refrao:

    No nosso caso:

    ou

    Lei de Snell 6

  • Refrao e Lei de Snell

    i

    iv

    cn

    onde:

    J vimos a Lei de Snell:

    ttii sinnsinn

    i

    t

    i

    in

    cv ou:

    7

  • Frequncia e Comprimento de Onda

    na Refrao

    AD

    AD

    n

    n

    i

    t

    i

    t

    t

    i

    4

    4

    sin

    sin

    i

    t

    it

    n

    n

    Temos:

    logo: i

    t se ni = 1 (vcuo):

    t

    tn

    i

    8

  • 1/

    /

    i

    t

    t

    i

    t

    i

    i

    t

    ti

    it

    ii

    tt

    i

    t

    n

    n

    n

    n

    n

    n

    nc

    nc

    v

    v

    v

    v

    f

    f

    ...ela a mesma, no meio material e no vcuo.

    Quanto frequncia ( f ) ,...

    A frequncia da luz no muda na passagem

    da luz de um meio para o outro! 9

  • A difrao mais perceptvel quando a abertura

    da ordem do comprimento de onda da onda

    incidente.

  • Lembrando:

    Interferncia superposio

    Interferncia construtiva

    Interferncia destrutiva

    Se as duas ondas vo interferir construtivamente ou destrutivamente

    vai depender da diferena de fase entre elas. 11

  • Interferncia: construtiva / destrutiva

    12

  • Diferena de caminho ptico

    n1

    n2

    L

    N o nmero de comprimentos de onda

    naquele meio que cabem em L

    13

  • Diferena de caminho ptico

    n1

    n2

    L

    n2 > n1 14

  • Diferena de caminho ptico

    Interferncia destrutiva ( )

    Interferncia construtiva (2 )

    N o nmero de comprimentos de onda

    naquele meio que cabem em L

    15

    n1

    n2

    L

  • Coerncia

    Fontes coerentes a diferena de fase entre as

    ondas por elas produzidas no varia com o

    tempo.

    A maior parte das fontes luminosas apenas

    parcialmente coerente ou ento incoerente.

    (No experimento de Young que veremos a seguir, a primeira fenda

    essencial para que as duas fendas seguintes atuem como fontes

    coerentes).

    Exemplos:

    Lmpada comum: incoerente (tempo de coerncia ~10-8 s)

    Sol: parcialmente coerente

    Luz laser: coerente

    16

  • Thomas Young (1773 -1829)

    Fsico e mdico ingls, estudou a sensibilidade do olho humano para as cores. Ele props a existncia

    de trs regies diferentes em forma de cones na retina

    do olho, que tm sensibilidade para as cores vermelho

    azul e verde: o princpio usado na TV colorida.

    Em 1800, no trabalho Outlines of Experiments and Enquires Respecting Sound and Light, ele comparou

    os modelos de Newton e Huygens para a luz, dando

    suporte interpretao ondulatria.

    Young ainda deu contribuies importantes na teoria da elasticidade (mdulo de Young), e na egiptologia.

    Young mediu md= 570 nm da luz solar (hoje 555 nm).

    17

  • O Experimento de Young (1801)

    S1 e S2 atuam como

    fontes coerentes

    e em fase

    Interferncia : O experimento das

    duas fendas

    18

  • Viso tridimensional da montagem:

    19

  • http://vsg.quasihome.com/interf.htm 20

  • Temos a formao de franjas devido diferena de percursos pticos das ondas provenientes de cada fenda:

    Ondas em Fase: Interferncia Construtiva

    Ondas fora de Fase: Interferncia Destrutiva

    R a meia distncia

    entre P e Q 21

  • Localizao das Franjas:

    Franja clara:

    Franja escura:

    (interferncia construtiva)

    (interferncia destrutiva)

    L >> d = r2 r1 d sen

    = m ; d sen = m , m = 0, 1, 2,..

    = (m +1/2) ; d sen = (m +1/2) 22

    Figuras no esto em escala!!!

  • Franjas

    (Mximo central)

    (Mx. Lateral de 2a ordem)

    (Mn. Lateral de 1a ordem)

    (Mx. Lateral de 1a ordem)

    (Mn. Lateral de 2a ordem)

    (Mx. Lateral de 1a ordem)

    (Mx. Lateral de 2a ordem)

    (Mn. Lateral de 1a ordem)

    (Mn. Lateral de 2a ordem)

    d sen = m

    d sen = (m +1/2)

    Claras:

    Escuras:

    23

  • Posies no Anteparo Para ngulos pequenos temos:

    Analogamente, para os

    mnimos mais centrais:

    md sen

    md tan

    mL

    yd m

    d

    Lmym

    d

    Lmym

    2

    1

    Para os mximos mais centrais:

    sentan

    24

    Cuidado: tan ~ sen vale para ngulos pequenos (

  • dLmym d

    Lmym 11

    d

    Lyyy mm 1

    O espaamento entre as franjas ser :

    Se d e so pequenos, a distncia

    entre as franjas independe de m !

    Posies no Anteparo

    25

  • Um exemplo: Uma luz de um laser ilumina um anteparo

    com duas fendas. A distncia entre as fendas de 0,03

    mm e as franjas de interferncia so observadas em um

    anteparo a 1,2 m. A franja brilhante de 2 ordem est a

    5,1 cm da linha central.

    A)Qual o comprimento de onda do laser?

    B) Qual a distncia entre as franjas brilhantes

    adjacentes?

    A) tan = 5,1 10-2/1,2=0,0425

    sen = 2 /0,03 => = 637,5 nm

    B) 5,1/2 = 2,55 2,6 cm

    26

  • Outro exemplo:

    Na figura , duas fontes pontuais isotrpicas S1 e S2

    esto sobre o eixo y, separadas por uma distncia de

    2,7 m, e emitem em fase com um comprimento de onda

    de 900 nm. Um detector de luz colocado no ponto P,

    situado sobre o eixo x, a uma distncia xP da origem.

    Qual o maior valor de xP para o qual a luz

    detectada mnima devido a uma interferncia

    destrutiva?

    md

    x

    0msefazxdevalormaioropara

    m2

    m2

    dx

    mxxd

    2

    0

    2

    22

    7,888,754

    ,

    4

    1

    1

    2/1

    Para se convencer disso, substitua m=1,2,etc.. 27

  • Intensidade das Franjas de Interferncia

    A interferncia entre S1 e S2, de intensidades I0 na tela, leva a energia luminosa a ser redistribuda no anteparo segundo a

    equao:

    onde:

    2

    14 20 cosII

    send2

    28

  • Os mximos de intensidade ocorrem em: ( m = 0, 1, 2,..)

    msend

    m2

    1msend

    LLk2

    2

    14 20 cosII sen

    d2

    29

  • Os mximos de intensidade ocorrem em: ( m = 0, 1, 2,..)

    msend

    m2

    1msend

    LLk2

    Os mnimos em:

    2

    1

    2

    1m 2

    1msend

    2

    14 20 cosII sen

    d2

    30

  • No caso do experimento de Young temos:

    Interferncia

    Geral

    Assim, os campos eltricos

    s diferem na fase.

    Demonstrao da Equao para a Intensidade das Franjas:

    0201 EE

    r1

    r2

    31

  • Intensidade das franjas de interferncia

    No ponto P:

    Se a diferena de fase for constante no tempo (ondas coerentes),

    a interferncia depender apenas da diferena de caminho d sen .

    fonte

    tsenEE

    tsenEE

    02

    01

  • Campo eltrico, representao

    senoidal e fasores

    http://en.wikipedia.org/wiki/File:Unfasor.gif

    tsenEE 01

  • Combinando campos: fasores

    +

    = E

    2 = (ang. ext.)

  • FASORES

    trkEtrE 1011 cos,

    trkEtrE 2022 cos,

    .. krrk 21

    21

    00 22 coscos EEE

    2124 cosII

    035

  • Como:

    Logo:

    Onde:

    diferena de fase diferena de caminho ou

    distncia percorrida

    Intensidade da onda de

    apenas uma das fendas

  • Mximos em:

    Ento:

    Ou:

    Mnimos em:

    Ou:

  • 3 5350

    I 4I0

    0 1 22 1 0,5 1,5 2,51,5 0,52,5

    m mn.

    m mx.

    L/

    0 1 22 1

    0 1 21 02

    Se fontes incoerentes (t) (fase no constante no tempo) I = 2 I0 (toda tela)

    Interferncia no cria nem destri energia luminosa, apenas a redistribui!

    Coerentes ou no Imed = 2 I0

  • Fatos:

    i) Incidncia de 1 para 2, onde

    n2>n1: o raio refletido sofre uma

    mudana de fase de 1800 ( ), e

    o raio refratado est em fase

    com o incidente;

    ii) Incidncia de 2 para 1, onde

    n2>n1 ; o raio refletido no sofre

    mudana de fase e o raio

    refratado est em fase com o

    incidente.

    Interferncia em Filmes Finos

    Luz incidente em um filme fino apresenta efeitos de interferncia associados diferena de caminho ptico

    dentro do filme. Considere: 1 (incidncia vertical)

    n1

    n2

    L

    39

  • Mudanas de fase causadas por reflexo:

    analogia com o caso das ondas em cordas

    No caso da luz:

    Reflexo mudana de fase

    Meio com n menor 0

    Meio com n maior

    antes

    depois

    antes

    depois

    Na refrao a fase no muda.

    Na reflexo a fase pode mudar ou no!

  • Temos os seguintes casos (similares* ): ou

    Interferncia construtiva:

    ;2

    1

    2

    12

    2

    2n

    mmL

    ) vcuo~ar (1122 nn

    2

    12 2 mLn

    ,....,,m 210

    Interferncia destrutiva:

    2

    22n

    mmL

    mLn22 ,....2,1,0m

    n1

    n2

    L

    12 nn 12 nn

    * *

    41

  • Interferncia construtiva

    ;2

    12 121 mLn

    Interferncia destrutiva

    1

    221

    n

    nn

    ;2 121 mLn2

    1122

    n

    nmmL

    2

    11

    2

    12

    n

    nmL

    Se e ar) (no 11n

    )ar(1122 nn

    n1

    n2

    L

    Se devemos considerar apenas a defasagem devida reflexo. Teremos:

    12 nn12 nn Interferncia destrutiva

    L

    42

  • Interfermetro de Michelson

    43

  • Interfermetro de Michelson

    44

  • Diferena de

    caminho ptico:

    fm LL 22

    Se a diferena de caminho for alterada, teremos modificao nas posies das franjas de interferncia.

    Se E1 mudar sua posio de , todos os mximos se deslocaro para as posies dos mximos adjacentes (2 /2:

    uma franja).

    E1 (espelho)

    2

    Interfermetro de Michelson

    45

  • Introduo (em um dos braos) de material de espessura L e ndice

    de refrao n :

    Nmero de comprimentos de onda no material

    LnNb

    2

    Nmero de comprimentos de onda em L antes da introduo

    LNa

    2

    12

    nL

    NN ab

    Cada mximo se desloca de Nb Na franjas de interferncia

    Interfermetro de Michelson

    46

  • Michelson mostrou que o metro padro era equivalente a 1.553.163,5 comprimentos de onda de uma luz monocromtica

    emitida por uma fonte luminosa de Cdmio. Por esta medida ele

    ganhou o Prmio Nobel de Fsica de 1907.

    Um aparato como este foi usado para testar a existncia do ter, o meio onde a luz supostamente se propagaria. O resultado foi

    negativo, no sendo observado nenhum efeito de deslocamento nas

    franjas de interferncia para diferentes posicionamentos dos braos

    do interfermetro. Esse fato levou concluso de que o ter no existia.

    Interfermetro de Michelson

    47

  • Resumo da aula:

    Princpio de Huygens

    Comprimento de onda e ndice de refrao

    Coerncia

    Experimento de Young da dupla fenda

    Intensidade de franjas de interferncia

    Interferncia em filmes finos

    Interfermetro de Michelson

    48